2008 Fiscal Year Final Research Report

Analysis of Faulty Test Cricuits and Their Fault Torelant Design

Research Project

Project/Area Number	19700044
Research Category	Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
Allocation Type	Single-year Grants
Research Field	Computer system/Network
Research Institution	Hiroshima City University
Principal Investigator	ICHIHARA Hideyuki Hiroshima City University, 大学院・情報科学研究科, 准教授 (50326427)
Project Period (FY)	2007 – 2008
Keywords	設計自動化 / ディペンダブルコンピューティング / BIST / フォールトトレラント
Research Abstract	LSIの組込自己テスト(Built-in Self Test: BIST)のための,耐故障性をもつ新しい応答圧縮器(BISTを行うための構成要素であり,テスト結果を保持する回路)である符号化応答圧縮器を提案した.符号化応答圧縮器は壊れている状態でも,テスト対象回路の故障は必ず検知でき,さらにテスト対象回路が正常である場合は高い確率で応答圧縮器の故障を検知できる.また,必要なハードウェアサイズは従来の耐故障性を考えない応答圧縮器に比べて1.6倍程度であった.

(2 results)