Research Project
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
監視カメラや半導体製造ラインの検査画像から、監視対象や製品の異常を自動的に検出するための識別器を過去に得られた正常なシーンの事例から学習し、それを用いて異常を高速に識別するアルゴリズムを開発した。また、実際に半導体製造ラインの検査画像、監視カメラ映像からの異常検出に適用し有効性を確認した。また画像以外に電力センシングデータからの異常検出についても検討した。
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