2008 Fiscal Year Annual Research Report
上流からの許容故障判定に基づくテストコストの削減に関する研究
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19800035
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| Research Institution | Hiroshima City University |
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Principal Investigator |
吉川 祐樹 Hiroshima City University, 情報科学研究科, 助教 (50453212)
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| Keywords | 許容故障 / LSIのテスト / 耐故障設計 |
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| Research Abstract |
本研究では,LSIのテストについて,故障の許容性を考慮した低コストなテスト手法について研究を進めてきた.19年度では,さまざまなアプリケーションについて,故障の許容性を解析した.20年度は,引き続き故障の許容性の解析として,MPEG回路について故障と圧縮率の関係から許容故障の解析を行った.この解析では,MPEG回路の一部である動き予測回路の故障に着目した,動き予測回路に故障が存在する場合,近似ブロックの推測計算を誤るため,色情報の差分絶対値が最も小さいブロックでないものを選択する可能性がある.しかしその場合でも,差分情報は多くなるために圧縮率は悪化するが,画像の劣化はない.動き予測回路の故障箇所と動画の圧縮率について考察を行い,データパスにおける下位ビットでは,計算の重みが小さいために圧縮率への影響は小さく,上位ビットでは圧縮率の悪化に大きく影響することを確認した.
さらに20年度は,許容故障を高速に判定するアルゴリズムの提案,および,汎用のテスト生成アルゴリズムを用いた許容故障判定のための回路モデルの提案にも取り組んだ.アルゴリズムの高速化では,故障の許容性に着目したヒューリスティックを提案し,従来手法より高速に許容故障を判定できることを実験的に評価した.また,汎用のテスト生成アルゴリズムを用いた許容故障判定モデルでは,既存の商用テストツールを利用できるため,新たに許容故障判定に特価したツールを開発するコストを削減することができる.
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