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2021 Fiscal Year Annual Research Report

情報漏えいを引き起こす電磁波の計測困難化を実現する機器設計手法の開拓

Research Project

Project/Area Number 19H01104
Research InstitutionNara Institute of Science and Technology

Principal Investigator

林 優一  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授 (60551918)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) Kim YoungWoo  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 助教 (30862403)
藤本 大介  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 助教 (60732336)
Project Period (FY) 2019-04-01 – 2023-03-31
Keywords電磁情報セキュリティ / サイドチャネル攻撃 / 電磁環境 / 暗号・認証
Outline of Annual Research Achievements

本年度は、前年度に行った実測とシミュレーションの双方を活用し、詳細なメカニズムの解明を進めた。得られたメカニズムの妥当性を確認するために、入出力情報を扱う実機を用いた。また、メカニズムから、漏えいモデルを生成し、従来、電磁的情報漏えいの評価が行われていなかったデバイスについてもモデルを用いて漏えいを予測可能にすると共に、実計測を用いてその予測が正しいことを実証した。また、本予測は、漏えいモデルに基づき、機器に実装された素子などの部分的な情報のみを用いて行ったが、配線や基板素材などの詳細な機器設計情報が入手できた場合、高精度な漏えい評価が可能になることについても示した。また、メカニズムと漏えいモデルに基づき、情報機器の周囲の電磁環境が電磁波を通じた情報の漏えいに影響を与えることを示唆した。さらに、こうした情報漏えいを抑止するために、既存機器にも実装可能な対策技術の検討を行うと共に、アクティイブ及びパッシングなセンシングを用いたプロービングなどによる攻撃を検知する技術についても検討を行った。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

本年度は、情報漏えいメカニズムの解明について検討を継続すると共に、機器から生ずる電磁情報漏えいの予測技術についても開発を行い、当初の計画を達成している。また、対外的な成果の公表としてIEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposiumに論文が採択されると共に、本成果のアウトリーチ活動としてKorea Advanced Institute of Science and Technology(KAIST)と合同ワークショップを実施した。

Strategy for Future Research Activity

今後はこれまでに開発した評価環境、評価手法、シミュレーション手法を用いて、情報機器からの電磁波を通じた情報漏えいの詳細なメカニズムを解明すると共に、安価で既存機器にも実装可能な対策技術の検討・開発を進める。

  • Research Products

    (8 results)

All 2022 2021 Other

All Int'l Joint Research (1 results) Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (5 results) (of which Int'l Joint Research: 1 results,  Invited: 1 results)

  • [Int'l Joint Research] KAIST(韓国)

    • Country Name
      KOREA (REP. OF KOREA)
    • Counterpart Institution
      KAIST
  • [Journal Article] Basic Study on a Novel FDTD Method Implemented Frequecy Dispersion of PCB2021

    • Author(s)
      Kitazawa Taiki、Kitahara Ren、Yamagiwa Taiki、Chakarothai Jerdvisanop、Hayashi Yuichi、Kasuga Takashi
    • Journal Title

      2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium

      Volume: 2021 Pages: 580-580

    • DOI

      10.1109/EMC/SI/PI/EMCEurope52599.2021.9559370

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] A Fundamental Evaluation of EM Information Leakage Induced by IEMI for a Device with Differential Signaling2021

    • Author(s)
      Kaji Shugo、Fujimoto Daisuke、Kim Youngwoo、Hayashi Yuichi
    • Journal Title

      2021Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility

      Volume: 2021 Pages: SS-02-7

    • DOI

      10.1109/APEMC49932.2021.9597081

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] オンチップセンサを用いた線路上のハードウェアトロージャン検知に関する基礎検討2022

    • Author(s)
      西鳥羽陽, 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
  • [Presentation] 通信線路上のハードウェアトロイによる電磁情報漏えい評価法の検討 ~変調度と放射強度に着目した評価 ~2022

    • Author(s)
      湯川 大雅, 鍛治 秀伍, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
  • [Presentation] 周波数注入攻撃に対するROベースのTRNG耐性評価に関する検討2021

    • Author(s)
      橋本 律紀, 藤本 大介, 林 優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
  • [Presentation] 静電容量センサを用いたプリント基板の個体差の検出に関する基礎検討2021

    • Author(s)
      太刀掛彩希, 鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一
    • Organizer
      ハードウェアセキュリティ研究会
  • [Presentation] Electromagnetic Security for Perceptual Information to Protect Digital Privacy2021

    • Author(s)
      Yuichi Hayashi
    • Organizer
      IEEE Digital Privacy Workshop
    • Int'l Joint Research / Invited

URL: 

Published: 2023-12-25  

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