2021 Fiscal Year Final Research Report
Development of high-frequency devices using GeSiSn/GeSn quantum wells
Project/Area Number |
19K04487
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Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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Allocation Type | Multi-year Fund |
Section | 一般 |
Review Section |
Basic Section 21050:Electric and electronic materials-related
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Research Institution | The University of Electro-Communications |
Principal Investigator |
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
須田 良幸 東京農工大学, 工学(系)研究科(研究院), 名誉教授 (10226582)
広瀬 信光 国立研究開発法人情報通信研究機構, 未来ICT研究所企画室, エキスパート (90212175)
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Project Period (FY) |
2019-04-01 – 2022-03-31
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Keywords | GeSiSn / GeSn / スパッタエピタキシー法 / Sn拡散 / Sn析出 |
Outline of Final Research Achievements |
In this study, we developed the lattice-matched group-IV heterojunction technique like a III-V semiconductor, which can control the band-gap and lattice-constant independently. This technique can be useful for high-frequency heterojunction devices. We found that the crystallinity of the GeSn(Si) layers can be improved by using the sputter epitaxy method, and this technique can help obtain excellent GeSiSn/Ge(Sn) quantum wells.
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Free Research Field |
電子材料工学
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Academic Significance and Societal Importance of the Research Achievements |
本研究では、スパッタエピタキシー法をGeSn(Si)結晶成長に用いることで、高品質なGeSiSn/GeSn量子井戸が提供可能であることを明らかにした。本技術により、量子効果を用いた電子デバイスだけでなく、GeSn受光・発光素子の特性向上も期待され、GeSn(Si)系半導体デバイス分野の発展が期待される。本研究を通して、無線通信や光通信技術への貢献が期待される。
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