2021 Fiscal Year Annual Research Report
In situ structural analysis of growing organic thin films by synchrotron radiation x-ray diffractometry
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19K05289
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| Research Institution | Iwate University |
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Principal Investigator |
吉本 則之 岩手大学, 理工学部, 教授 (80250637)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
葛原 大軌 岩手大学, 理工学部, 准教授 (00583717)
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| Project Period (FY) |
2019-04-01 – 2022-03-31
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| Keywords | 有機半導体 / 結晶成長 / 2次元X線回折 / 電子線ホログラフィー |
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| Outline of Annual Research Achievements |
有機薄膜形成過程の結晶成長機構を解明するため、放射光施設(SPring-8)に自作の真空蒸着装置を持ち込み、成膜中のin situ2次元X線回折実験を行った。こ の方法により有機薄膜の初期層および膜の形成過程の結晶構造を解明することが可能となり、有機デバイスの特性を決定づける基板上の第1層目の構造や金属電 極上の構造、さらにpn接合形成の過程の詳細を究明することができる。また、有機半導体の分子構造と成長機構の解明や結晶構造の膜厚依存性を明らかにするた め独自に分子の合成を行った。
成膜実験では、C10のアルキル鎖を有するC10-4T を試料として用いた。C10-4Tは出発原料であるチオフェンから独自に合成し、再結晶、昇華を繰り返すことで 精製した。得られたC10-4Tの同定及び純度の確認は、核磁気共鳴分光法(NMR)と質量分析を用いて行った。X線透過用ベリリウム窓を装備した自作の真空蒸着装置 および2次元検出器PILATUS300Kを用いてSPring-8、BL19B2でC10-4T薄膜の形成過程のリアルタイム2D-GIXD測定を行った。また独自に開発した温度可変ステージ を用いて基板温度を40°C~70°Cの温度域で制御し、基板温度を変化させながらによる2D-GIXDのリアルタイム観測を行った。実験の結果、アニーリング前後では スポット位置が異なり温度変化による相転移によって結晶構造が変化したと考えられる。現在、キャリア輸送特性と結晶構造の関係を明らかにするため、これら の画像からの薄膜の結晶構造解析を試みている。 また、並行して電子線ホログラフィーによって有機半導体薄膜内の電位分布の観測を行うことにより、有機半 導体薄膜の構造を総合的に明らかにした。
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[Journal Article] High‐Efficiency Digital Inkjet‐Printed Non‐Fullerene Polymer Blends Using Non‐Halogenated Solvents2021
Author(s)
P.Perkhun, W. Kontges, F. Pourcin, D. Esteoulle, E. Barulina, N. Yoshimoto, P. Pierron, O. Margeat, C. Videlot-Ackermann, A. K. Bharwal, D. Duche, C. R. Herrero, C. Gonzales, A. Guerrero, J. Bisquert, R. R. Schroder, M. Pfannmoller, S. B. Dkhil, J.J. Simon, and J. Ackermann
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Journal Title
Advanced Energy and Sustainability Research
Volume: 2
Pages: 2000086～2000086
DOI
Peer Reviewed
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