2021 Fiscal Year Final Research Report
In situ structural analysis of growing organic thin films by synchrotron radiation x-ray diffractometry
Project/Area Number |
19K05289
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Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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Allocation Type | Multi-year Fund |
Section | 一般 |
Review Section |
Basic Section 30010:Crystal engineering-related
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Research Institution | Iwate University |
Principal Investigator |
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
葛原 大軌 岩手大学, 理工学部, 准教授 (00583717)
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Project Period (FY) |
2019-04-01 – 2022-03-31
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Keywords | 有機薄膜 / X線回折 / 電子線ホログラフィー / 放射光 / 電位分布 / 結晶成長 / 2D-GIXD / その場観察 |
Outline of Final Research Achievements |
In situ 2D X-ray diffraction experiments were performed during film deposition to elucidate the crystal growth mechanism during organic thin film formation. This method enabled us to elucidate the crystal structure of the initial layer and the film formation process of organic thin films, and to elucidate the molecular structure and growth mechanism of organic semiconductors and the dependence of the crystal structure on film thickness. In addition, the structure and physical properties of organic semiconductor thin films was comprehensively clarified by observing the potential distribution in the organic semiconductor thin films using electron holography.
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Free Research Field |
材料工学
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Academic Significance and Societal Importance of the Research Achievements |
有機薄膜形成過程のin-situ2次元X線回折実験用の成膜・観察装置および実験方法を開発した。この方法により有機半導体薄膜の成長機構の解明や結晶構造を明らかすることが可能となった。特に2D-GIXDによる薄膜の評価は現在多くの研究者に利用されておりこの分野における標準的な評価方法として普及・定着している。また、電子線ホログラフィーによって有機半導体デバイス内部の電位分布を定量的に計測できること実証した。これらのことは、学術的意味のみならず、有機半導体を用いた電子デバイスの実用化にあたって直面するさまざまな困難を解決する基礎的な知見として社会の発展に貢献するものである。
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