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2023 Fiscal Year Annual Research Report

Clarification of molecular basis for high mutation frequency induced by heavy ion beams

Research Project

Project/Area Number 19K06622
Research InstitutionNational Institutes for Quantum Science and Technology

Principal Investigator

石井 公太郎  国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, 放射線医学研究所 計測・線量評価部, 主任研究員 (50632965)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 風間 裕介  福井県立大学, 生物資源学部, 教授 (80442945)
Project Period (FY) 2019-04-01 – 2024-03-31
Keywords重イオンビーム / DNA修復 / 線エネルギー付与
Outline of Annual Research Achievements

重イオンビームは電離放射線の一種であり、高い線エネルギー付与(LET)をもち高頻度に変異を誘発する。研究代表者らはシロイヌナズナへの照射実験でLET = 30 keV/μmが最も変異率が高いことを発見した(至適LET)。至適LETでの照射当代での変異率は、LET = 22.5 keV/μm(低LET)での照射時の約2.5倍を示す。研究代表者らはRPA1Eの発現上昇によりDNA二重鎖切断(DSB)部位へのRAD51のリクルートが阻害され、その結果誤りやすいDSB修復を促進させるという仮説を考案し、実証を試みた。
1) 過剰RPAのDSB部位へのRAD51リクルート阻害能を測定するため、PolθとRPA1Eのそれぞれに対するペプチドを合成し、ペプチド抗体の作製を行った。令和5年度は至適LETと低LETそれぞれの重イオンビームを照射した幼苗からタンパク質を抽出してウェスタンブロットを行った。RPA1E抗体では目的分子量にシグナルを得ることができなかった。Polθ抗体では目的分子量にシグナルを得たが、バンドが複数得られたことから、現在、抗体のアフィニティー精製を行い、利用できるかを検討している。
2) シロイヌナズナ野生株に至適LETと低LETそれぞれの重イオンビームを300 Gy照射し、照射2世代目の個体のゲノムリシーケンスを行い、変異解析を行った。誘発された変異を比較し、至適LETでは低LETよりも大規模な変異が高頻度で誘発されることを明らかにした。
3) RPA1E遺伝子の過剰発現変異体を作製し、1)と同様に至適LETと低LETそれぞれの重イオンビームを300 Gy照射した。令和5年度では新たに変異解析を行い、至適LETと低LETそれぞれで野生型と同様の変異パターンがみられた。至適LETでの高変異率にはRPA1E単独の発現上昇以外に他の要因が関与することが示唆された。

Remarks

Frontiers in Plant Science誌に発表した論文Genomic view of heavy-ion-induced deletions associated with distribution of essential genes in Arabidopsis thalianaについてプレスリリースを行った。

  • Research Products

    (5 results)

All 2024 2023 Other

All Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results,  Open Access: 1 results) Presentation (3 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Genomic view of heavy-ion-induced deletions associated with distribution of essential genes in Arabidopsis thaliana2024

    • Author(s)
      Ishii Kotaro、Kazama Yusuke、Hirano Tomonari、Fawcett Jeffrey A.、Sato Muneo、Hirai Masami Yokota、Sakai Fujiko、Shirakawa Yuki、Ohbu Sumie、Abe Tomoko
    • Journal Title

      Frontiers in Plant Science

      Volume: 15 Pages: -

    • DOI

      10.3389/fpls.2024.1352564

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Presentation] シロイヌナズナの染色体で遺伝子量補償は起こるのか2024

    • Author(s)
      生駒拓也,西嶋遼,池田美穂,Nagalla Asanga Deshappriya,阿部知子,風間裕介
    • Organizer
      日本育種学会第145回講演会
  • [Presentation] 重イオンビームで誘発される欠失変異と必須遺伝子のシロイヌナズナゲノム上での 分布に関する俯瞰的解析2023

    • Author(s)
      石井公太郎, 風間裕介, 平野智也, Jeffrey A. Fawcett, 酒井富士子, 白川侑希, 大部澄江, 阿部知子
    • Organizer
      日本遺伝学会第95回大会
  • [Presentation] シロイヌナズナの染色体で遺伝子量補正は起きるのか2023

    • Author(s)
      生駒拓也, 池田美穂, 西嶋遼, 阿部知子, 風間裕介
    • Organizer
      日本遺伝学会第95回大会
  • [Remarks] 必須遺伝子は必須だった-染色体に「塗り絵」することで変異が遺伝する条件を解明-

    • URL

      https://www.riken.jp/press/2024/20240417_3/index.html

URL: 

Published: 2024-12-25  

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