2023 Fiscal Year Annual Research Report
アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究
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19K11877
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| Research Institution | Ehime University |
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Principal Investigator |
樋上 喜信 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (40304654)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
稲元 勉 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師 (10379513)
高橋 寛 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (80226878)
王 森レイ 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師 (90735581)
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| Project Period (FY) |
2019-04-01 – 2024-03-31
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| Keywords | 故障診断 / テスト容易化設計 / テストポイント / 出力圧縮 |
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| Outline of Annual Research Achievements |
令和5年度の主な研究実績は、テストポイント挿入と出力圧縮によって故障診断性能向上手法を開発したことである。
故障診断とは、LSI（大規模集積回路）において、故障検査の結果、故障が存在すると判定された後、LSI内部のどの部分に故障が存在するかを推定することである。故障診断によって、故障位置が特定された後は、その情報を元に設計・製造工程を改善し、歩留まり向上を実現する。また、システム稼働中のフィールド故障診断では、故障の影響がシステムに及ばない状態でシステムを稼働することで、システムの信頼性・可用性を向上する。
本研究では、故障診断性能を向上させるため、テスト容易化設計法の一つである、テストポイント挿入を行った。テストポイントとは、故障検査・故障診断のためにLSI回路に外部出力を付加し、元の回路では観測できない、回路内部の信号線の値を外部で観測できるような技法である。提案法では、元の回路で区別できない故障ペアに対して、故障影響が伝搬する信号線を調査し、できるだけ多くの故障影響が伝搬する信号線を選択し、テストポイントとした。また、選択したテストポイントの値をそのまま観測した場合には、観測点が多数となり、テスタ装置で取り扱いが困難となることが予想されるため、元の外部出力と追加したテストポイントをいくつかのグループとし、グループ内の出力値をXORツリー回路によって圧縮する手法を導入した。
提案法の有効性を確認するため、ベンチマークとなる回路に対してシミュレーション実験を行った。実験の結果、元の回路の信号線数の５％程度のテストポイントを挿入することで、故障診断率が約15%向上した。
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Research Products
(2 results)
