2022 Fiscal Year Annual Research Report
つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発
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19K11878
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| Research Institution | Ehime University |
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Principal Investigator |
高橋 寛 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (80226878)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
樋上 喜信 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (40304654)
王 森レイ 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師 (90735581)
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| Project Period (FY) |
2019-04-01 – 2023-03-31
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| Keywords | 組込み自己テスト / 信頼性強化設計法 / フィールドテスト |
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| Outline of Annual Research Achievements |
本研究の目的は，つながる車載システムやIoT環境でのエッジコンピューティングシステムなどが市場稼働時においても高信頼性を保証するために，非破壊で集積回路自身が自己テストによって故障の有無および真贋を識別する手法を信頼性強化設計法(Design For Trust: DFTr)として開発することである。
本研究では，次のことを明らかにしていくために中目標を設定している。中目標１：集積回路に対するフィールドテストのために故障検出強化技術を開発する。中目標２：メモリコンピューティングデバイスにおける故障状態警告技術を開発する。中目標３：テスト容易化技術を利用して集積回路の個体情報を獲得する真贋識別技術を開発する。
本年度は，中目標１に対して，可観測性を向上させる「故障検出強化フリップ」と可制御性を向上させるために「論理値を制御できるテスト容易化設計」を施す最適な位置を選択するアルゴリズムを提案し，その有効性を評価した。さらに，マルチサイクルテストの高効率化法や故障診断用テスト生成法に関してアルゴリズムを提案し，その有効性を評価した。
中目標２に対しては，フィールドテストにおける回路の内部状態の獲得技術に関して，文献調査を行った。「故障状態警告技術」としては，リングオシレーターを書き換え可能デバイス上に実装した。
中目標３に対しては，つながるデバイスのセキュリティの強化のためにテスト容易化設計法（バンダリスキャンシステム）を安全に利用するための認証法を提案し，その評価実験を行った。本年度の研究成果は，5編の電気電子情報関係学会四国支部大会発表，2編の電子情報通信学会技術報告において発表，および1編の論文がACMの国際論文誌において出版された．
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