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2021 Fiscal Year Research-status Report

スペクトル分解のためのFPGAを用いた確率的サンプリングマシンの開発

Research Project

Project/Area Number 19K12154
Research InstitutionThe University of Electro-Communications

Principal Investigator

庄野 逸  電気通信大学, 大学院情報理工学研究科, 教授 (50263231)

Project Period (FY) 2019-04-01 – 2023-03-31
Keywordsスペクトル分解 / X線分子分光法 / MCMC
Outline of Annual Research Achievements

本年度はスペクトル分解を中心とした材料画像処理に関するアルゴリズム開発を行った.X線分子分光法(X-ray Photo-electron Spectoroscopy:XPS)は,試料の組成解析に用いられる.スペクトルは観測試料の組成に基づいて,原子の結合エネルギーを観測するものであるが,観測過程において雑音要素が重畳されなまされる上,複数の結合エネルギー帯の重ね合わせによって表現されると考えられている.本研究では,スペクトルの生成過程をモデル化し,一つ一つのピークを分解・パラメータ化し,そのパラメータ群の推定をマルコフチェーンモンテカルロ(MCMC)法や遺伝的アルゴリズムによる実装を行った.その上で観測資料間のピークのズレを観測雑音由来のものと捉えて,推定パラメータがどの程度頑健なものかを議論している.
XPSによる観測では,同一試料を用いた場合でも観測試料のピーク等にズレが生じる場合がある.ここではこのズレが観測過程に依存するものとして捉え,上記のパラメータ群に観測揺動要素を導入することで表現し,複数のスペクトル解析における蓋然性の高いパラメータ推定の方法を提案している.この結果,複数人からの観測を統一的に扱うための枠組みを構築することが出来るようになりつつある.また本手法を,対象試料に混入されたコンタミのような組成由来の雑音の推定にも応用を展開しており,未知成分のピークをモデル内に導入することで対応している.未知成分を導入したケースでは,より現実的なXPSスペクトル解析を考えることが可能になると期待している.

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

モデル的な要素をブラッシュアップし,XPSデータを取り扱ったスペクトル分解に踏み込むこみ,より有用なアルゴリズム開発につなぐことができているため.

Strategy for Future Research Activity

エッジデバイスの重要性は今後ましていくことが考えられるため,数理アルゴリズムを改善しつつ,エッジデバイスの特性に合わせた開発を行っていくことを考える

Causes of Carryover

年度をまたいだ投稿論文の出版費用を賄うために残額が生じている.

  • Research Products

    (5 results)

All 2021

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results,  Open Access: 3 results) Presentation (2 results) (of which Int'l Joint Research: 2 results)

  • [Journal Article] Prediction of metal temperature by microstructural features in creep exposed austenitic stainless steel with sparse modeling2021

    • Author(s)
      Endo Akihiro、Sawada Kota、Nagata Kenji、Yoshikawa Hideki、Shouno Hayaru
    • Journal Title

      Science and Technology of Advanced Materials: Methods

      Volume: 1 Pages: 225~233

    • DOI

      10.1080/27660400.2021.1997556

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] Determination of common peak structure from multiple X-ray photo-electron spectroscopy data sets2021

    • Author(s)
      Murakami Ryo、Shouno Hayaru、Nagata Kenji、Shinotsuka Hiroshi、Yoshikawa Hideki
    • Journal Title

      Science and Technology of Advanced Materials: Methods

      Volume: 1 Pages: 182~191

    • DOI

      10.1080/27660400.2021.1957304

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] Bayesian estimation for XPS spectral analysis at multiple core levels2021

    • Author(s)
      Machida Atsushi、Nagata Kenji、Murakami Ryo、Shinotsuka Hiroshi、Shouno Hayaru、Yoshikawa Hideki、Okada Masato
    • Journal Title

      Science and Technology of Advanced Materials: Methods

      Volume: 1 Pages: 123~133

    • DOI

      10.1080/27660400.2021.1943172

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Presentation] Magnetic Domain Texture Pattern Analysis Using Wavelet-Based Joint Texture Statistics2021

    • Author(s)
      Ryo Murakami, Masaichiro Mizumaki, Ichiro Akai, Hayaru Shouno
    • Organizer
      Materials Research Meeting 21
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Prediction of metal temperature in creep-exposed austenitic stainless steel from optical micrographs with sparse regression method2021

    • Author(s)
      Akihiro Endo, Kota Sawada, Kenji Nagata, Hideki Yoshikawa, Hayaru Shouno,
    • Organizer
      Materials Research Meeting 21
    • Int'l Joint Research

URL: 

Published: 2022-12-28  

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