多面光学測定システムによるがん治療用炭素線の3次元プロファイル測定

2020 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 19K12637
• Research Institution: National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology
• Principal Investigator: 横山 彰人 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, 高崎量子応用研究所 放射線高度利用施設部, 主任技術員(定常) (10532088)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 酒井 真理 群馬大学, 大学院医学系研究科, 助教 (70727338)
• Project Period (FY): 2019-04-01 – 2021-03-31
• Keywords: G2000ガラスシンチレータ / 炭素線治療 / ビームプロファイル

Outline of Annual Research Achievements

重粒子線治療に用いられる核子当たり290MeVの炭素ビームのプロファイルを，G2000ガラスシンチレータを用いて計測した。シンチレーションの測定には，EMCCDカメラを用い，ビームプロファイルは光学像としてはっきりと測定できた。この結果より，炭素ビームは112mm厚の水ファントム通過後にシンチレータ表面から5.17mmの位置においてスポットを形成することが分かった。さらに，粒子シミュレーションコードを用いて，上記ビームのブラッグピークを計算した結果は5.58mmであり，実験結果との大きな差は見られなかった。以上の結果より，G2000ガラスシンチレータは重粒子治療用の炭素ビームの効果的なプロファイル計測
手段であることが分かった。しかしながら、研究代表者が体調不良で病気療養となり、令和2年度に事業を廃止したため研究は中断した。