Limited-use system architecture by using wear-out devices

2021 Fiscal Year Final Research Report

• Project/Area Number: 19K22848
• Research Category: Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
• Allocation Type: Multi-year Fund
• Review Section: Medium-sized Section 60:Information science, computer engineering, and related fields
• Research Institution: Kyushu University
• Principal Investigator: Ono Takatsugu 九州大学, システムLSI研究センター, 准教授 (80756239)
• Project Period (FY): 2019-06-28 – 2022-03-31
• Keywords: コンピュータアーキテクチャ / IoTシステム / ハードウェアセキュリティ

Outline of Final Research Achievements

If IoT devices are not managed properly, they may remain connected to the Internet and be infected with malware or viruses. This study proposes a method to define IoT devices' period of availability (lifecycle). In order to realize a life cycle that is difficult to be tampered with by an attacker, we used a wear-out device that can be physically destroyed. We investigated the wear-out device and its parameters and confirmed its effectiveness through simulations.

Free Research Field

コンピュータアーキテクチャ

Academic Significance and Societal Importance of the Research Achievements

太陽光発電などにより電源を永続的に供給されるIoT機器の増加に伴い，適切に管理されていないIoT機器が長期間インターネットに接続されることが増えると予想される．セキュリティに関する脆弱性があるとそれが放置されることになり，将来的に大きな問題となることが予想される．本研究は改ざん困難なライフサイクルを定めるものであり，今後のIoT機器の安全な利用手法を示したという点でその意義は大きい．また，ライフサイクルを定めることは，ユーザが購入後に利用可能な期間が予め決められることを意味する．したがって，産業界では積極的な研究開発をためらうものであり学術界からの技術提案には社会的意義があると考えられる．