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2012 Fiscal Year Annual Research Report

微小領域二次元光電子分光

Research Project

Project/Area Number 20224007
Research InstitutionNara Institute of Science and Technology

Principal Investigator

大門 寛  奈良先端科学技術大学院大学, 物質創成科学研究科, 教授 (20126121)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 松井 文彦  奈良先端科学技術大学院大学, 物質創成科学研究科, 助教 (60324977)
Project Period (FY) 2008-05-12 – 2013-03-31
Keywords放射線、X線、粒子線 / 表面・界面物性 / 物性実験 / 電子顕微鏡 / 計測工学
Research Abstract

本研究計画では、新しく発明してJST-CRESTで5年間開発してきた立体光電子顕微鏡(楕円メッシュ二次元分析器)を完成して、顕微鏡機能を使って試料の拡大像を観測し、微小領域だけからの高エネルギー分解能での二次元光電子分光を行ない、微小領域の電子状態と原子構造を立体的に詳しく観測することを目的としている。
完成した装置を放射光施設(SPring-8)に運び込み、放射光を励起光として光電子を用いた性能評価実験を行ってきた。光電子分光のピーク幅から全分解能を見積もり、0.2%という高いエネルギー分解能を確認することができた。試料の拡大像も25ミクロンの分解能で得ることができた。角度分布測定ジグを用いて、±50度までの角度分布がきれいに測定できることを確認した。
微小領域の結晶構造が解析できるという特徴を確認するため、太陽電池の省コスト化に貢献する多結晶Si基板を測定し、30ミクロン位のそれぞれの微結晶からの光電子回折パターンの測定に成功した。また、100ミクロン程度の微小試料である単層グラフェンからの光電子回折パターンの測定にも成功した。
電子状態を3次元的に詳しく解析できるという特徴を確認するため、グラファイトや表面超構造であるSi(111)5x2-Au構造からの3次元価電子帯の観測を行い、高エネルギー分解能の3次元バンド構造の取得に成功した。また、これらの強度分布には大きな非対称性が現れており、我々が提唱してきた「光電子構造因子」と「原子軌道からの角度分布」が測定できており、原子軌道や分子軌道まで解析できることが示された。
このように、これまで大きな単結晶試料でのみ観測できていた光電子回折パターンや3次元バンド構造を、微小領域から観測することに成功し、かつエネルギー分解能の高い測定ができたことから、本研究の目的はほぼ達成できたと考えられる。

Current Status of Research Progress
Reason

24年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

24年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (55 results)

All 2012 Other

All Journal Article (2 results) Presentation (51 results) (of which Invited: 3 results) Book (1 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Photoelectron Diffraction and Holographic Reconstruction of Graphite2012

    • Author(s)
      Fumihiko Matsui, Tomohiro Matsushita, Hiroshi Daimon
    • Journal Title

      J. Phys. Soc

      Volume: 81 Pages: 114604-13

    • DOI

      DOI: 10.1143/JPSJ.81.114604

  • [Journal Article] Three-Dimensional Reciprocal-Lattice Analysis Using Azimuth-Sccan Reflection High-Energy Electron Diffraction: Determination of Complex Crystal Orientations of Al Grains of Si(111) Surface2012

    • Author(s)
      K. Hattori, H. Oi, K. Tanaka, T. Kumagai, H. Daimon
    • Journal Title

      Japan Journal of Applied Physics

      Volume: 51 Pages: 055801-6

    • DOI

      DOI: 10.1143/JJAP.51.055801

  • [Presentation] Study of lattice distortion of porous Si by Li adsorption using two-dimensional photoelectron diffraction2012

    • Author(s)
      H. Daimon
    • Organizer
      12th International Conference ICESS-12
    • Place of Presentation
      Saint Malo, France
    • Year and Date
      2012-09-18
  • [Presentation] Soft X-Ray two-dimensional photoelectron structure factor analysis of graphite valence band by newly developed display-type analyzer2012

    • Author(s)
      F. Matsui
    • Organizer
      12th International Conference ICESS-12
    • Place of Presentation
      Saint Malo, France
    • Year and Date
      2012-09-18
  • [Presentation] Atomic structure visualizations of graphaite and monolayer graphene by photoelectron holography

    • Author(s)
      F. Matsui
    • Organizer
      NSS-7
    • Place of Presentation
      Zurich, Switzerland
  • [Presentation] Improvement of the 3D atomic image reconstruction algorithm for photoelectron holography

    • Author(s)
      T. Matsushita
    • Organizer
      NSS-7
    • Place of Presentation
      Zurich, Switzerland
  • [Presentation] Effect of Biaxial Tensile Strain on Silicon Valence Band Dispersion

    • Author(s)
      S. N. Takeda
    • Organizer
      ICPS 2012
    • Place of Presentation
      Zurich, Switzerland
  • [Presentation] New Photoelectron Emission Microscope for 3D Atomic Imaging by Photoelectron Holography and Stereo-photograph

    • Author(s)
      H. Daimon
    • Organizer
      3D-AINAS 2012
    • Place of Presentation
      東京大学物性研究室
  • [Presentation] Photoelectron Diffraction Spectroscopy for Atomic Site Specific Property Analysis of Surface and Subsurface

    • Author(s)
      F. Matsui
    • Organizer
      3D-AINAS 2012
    • Place of Presentation
      東京大学物性研究室
  • [Presentation] Control system for photoelectron holography at SPring-8 and 3D atom image reconstruction algorithm

    • Author(s)
      T. Matsushita
    • Organizer
      3D-AINAS 2012
    • Place of Presentation
      東京大学物性研究室
  • [Presentation] Local atomic structure analysis of ferromagnetic semiconductor Ge0.6Mn0.4 Te by atomic resolution holography

    • Author(s)
      N. Happo
    • Organizer
      3D-AINAS 2012
    • Place of Presentation
      東京大学物性研究室
  • [Presentation] Layer-resolved atomic and electronic structure analysis of graphene on 4H-SiC(001) by photoelectron diffraction spectroscopy

    • Author(s)
      H. Matsui
    • Organizer
      3D-AINAS 2012
    • Place of Presentation
      東京大学物性研究室
  • [Presentation] Atomic and electronic structure analysis of epitaxial silicon oxynitride thin film on 6H-SiC by two-dimentional photoelectron diffraction spectroscopy

    • Author(s)
      N. Maejima
    • Organizer
      3D-AINAS 2012
    • Place of Presentation
      東京大学物性研究室
  • [Presentation] Atomic and Magnetic Structure Analysis of Sr2FeMoO6 by PED and XMCD

    • Author(s)
      S. Kitagawa
    • Organizer
      3D-AINAS 2012
    • Place of Presentation
      東京大学物性研究室
  • [Presentation] Atomic and electronic structure analysis of crystalline oxide film of ZrB2 by two-dimentional photoelectron diffraction and spectroscopy

    • Author(s)
      R. Horie
    • Organizer
      3D-AINAS 2012
    • Place of Presentation
      東京大学物性研究室
  • [Presentation] Photoelectron Diffraction Spectromicroscopy: Atomic Scale Characterization of Fe Poly-crystalline Surface

    • Author(s)
      K. Yasuda
    • Organizer
      3D-AINAS 2012
    • Place of Presentation
      東京大学物性研究室
  • [Presentation] Atomic Structure Analysis of Mechanically Exfoliated Graphene by Micro Photoelectron Diffraction

    • Author(s)
      R. Ishii
    • Organizer
      3D-AINAS 2012
    • Place of Presentation
      東京大学物性研究室
  • [Presentation] Circular dichroism in resonant photoelectron diffraction at Ni L3-edge

    • Author(s)
      M. Fujita
    • Organizer
      3D-AINAS 2012
    • Place of Presentation
      東京大学物性研究室
  • [Presentation] 放射光顕微鏡による最先端のナノ領域の材料評価

    • Author(s)
      大門 寛
    • Organizer
      SPring-8シンポジウム2012
    • Place of Presentation
      大阪大学コンベンションセンター
  • [Presentation] 原子分解能ホログラフィーの最近の成果

    • Author(s)
      林 好一
    • Organizer
      SPring-8シンポジウム2012
    • Place of Presentation
      大阪大学コンベンションセンター
  • [Presentation] 解析分光、光電子ホログラフィーの現状

    • Author(s)
      松下 智裕
    • Organizer
      SPring-8シンポジウム2012
    • Place of Presentation
      大阪大学コンベンションセンター
  • [Presentation] 深さ分解XAFS法によるSiC上酸窒化膜の電子状態解析

    • Author(s)
      前島尚行
    • Organizer
      第15回XAFS討論会
    • Place of Presentation
      白兎会館
  • [Presentation] 光電子回折分光法による脱硫触媒Ni2P(10-10)の局所原子構造・電子状態解析

    • Author(s)
      松井公佑
    • Organizer
      第15回XAFS討論会
    • Place of Presentation
      白兎会館
  • [Presentation] Ni L3吸収端近傍の共鳴光電子・Auger電子回折における円二色性の解析

    • Author(s)
      藤田將喜
    • Organizer
      第15回XAFS討論会
    • Place of Presentation
      白兎会館
  • [Presentation] Fe多結晶表面への顕微回折分光法の応用

    • Author(s)
      安田馨
    • Organizer
      第15回XAFS討論会
    • Place of Presentation
      白兎会館
  • [Presentation] 二次元光電子分光による IGZO/SiO2界面の解析

    • Author(s)
      上岡 義弘
    • Organizer
      2012年度 秋季 第73回応用物理学学術講演会
    • Place of Presentation
      松山大学文教キャンパス
  • [Presentation] APRES measurement of valence band structure in strained silicon

    • Author(s)
      S.N. Takeda
    • Organizer
      12th International Conference ICESS-12
    • Place of Presentation
      Saint Malo, France
  • [Presentation] Electronic structure analysis of oxynitride thin film on SiC(0001) by depth-resolved XPS and XANES

    • Author(s)
      N. Majima
    • Organizer
      12th International Conference ICESS-12
    • Place of Presentation
      Saint Malo, France
  • [Presentation] Atomic and electronic structure analysis of catalytic Ni2P by photoelectron diffraction spectroscopy

    • Author(s)
      H. Matsui
    • Organizer
      12th International Conference ICESS-12
    • Place of Presentation
      Saint Malo, France
  • [Presentation] Atomic-orbital analysis of ZrB₂ valence band by linearly-polarized-synchrotron radiation two-dimensional photoelectron spectroscopy

    • Author(s)
      R. Horie
    • Organizer
      12th International Conference ICESS-12
    • Place of Presentation
      Saint Malo, France
  • [Presentation] Atomic and magnetic structure analysis of Sr2FeMoO6 by photoelectron diffraction and X-ray magnetic circular dichroism

    • Author(s)
      S. Kitagawa
    • Organizer
      12th International Conference ICESS-12
    • Place of Presentation
      Saint Malo, France
  • [Presentation] Electronic structure of Pb-absorbed Ge(001) by angle resolved photoelectron spectroscopy

    • Author(s)
      T. Sakata
    • Organizer
      12th International Conference ICESS-12
    • Place of Presentation
      Saint Malo, France
  • [Presentation] Surface metallization of SrTiO3 (001) by adsorption of hydrogen

    • Author(s)
      S. Yamamoto
    • Organizer
      12th International Conference ICESS-12
    • Place of Presentation
      Saint Malo, France
  • [Presentation] BaFe2As2の2次元光電子分光

    • Author(s)
      滝沢 優
    • Organizer
      日本物理学会2012年秋季大会
    • Place of Presentation
      横浜国立大学
  • [Presentation] φ-RHEED3次元逆格子マッピングによるSi(001)表面上に成長した鉄シリサイドドーム島の構造解析

    • Author(s)
      太田 啓介
    • Organizer
      日本物理学会2012年秋季大会
    • Place of Presentation
      横浜国立大学
  • [Presentation] φ-RHEED3次元逆格子マッピングによるSi(001)表面上に成長したマンガンシリサイド等の構造解析

    • Author(s)
      木村 明日香
    • Organizer
      日本物理学会2012年秋季大会
    • Place of Presentation
      横浜国立大学
  • [Presentation] Depth-Resolved Electronic Structure Analysis of IGZO/SiO2 Interface by Two-Dimensional Photoelectron Spectroscopy

    • Author(s)
      Y. Ueoka
    • Organizer
      SSDM 2012
    • Place of Presentation
      京都国際会議場
  • [Presentation] Study of Structure Change of Porous Si During Lithiation and Delithiation Using Two-Dimensional Photoelectron Diffraction

    • Author(s)
      H. Daimon
    • Organizer
      IWAMSN 2012
    • Place of Presentation
      Ha Long City, Vietnum
    • Invited
  • [Presentation] Si ウェハーの超高真空フォトルミネッセンス:真空加熱・水素雰囲気加熱依存性

    • Author(s)
      服部賢
    • Organizer
      第32回表面科学学術講演会
    • Place of Presentation
      東北大学さくらホール
  • [Presentation] 表面清浄化処理によるGaN(0001)からの発光強度の増大

    • Author(s)
      服部梓
    • Organizer
      第32回表面科学学術講演会
    • Place of Presentation
      東北大学さくらホール
  • [Presentation] RHEED phi scan 3 次元逆格子マッピングによるSi(001)表面上に成長した鉄シリサイドドーム島の結晶構造解析

    • Author(s)
      太田啓介
    • Organizer
      第32回表面科学学術講演会
    • Place of Presentation
      東北大学さくらホール
  • [Presentation] 電圧印加型電子的励起脱離を目指したヘテロ積層構造の探索

    • Author(s)
      広田望
    • Organizer
      第32回表面科学学術講演会
    • Place of Presentation
      東北大学さくらホール
  • [Presentation] 面方位角スキャン3 次元逆格子マッピングによる Si(001)表面上に成長したマンガンシリサイド島の構造解析

    • Author(s)
      木村明日香
    • Organizer
      第32回表面科学学術講演会
    • Place of Presentation
      東北大学さくらホール
  • [Presentation] In/Si(111)のRHEED強度振動

    • Author(s)
      田中友惟
    • Organizer
      関西薄膜・表面物理セミナープログラム
    • Place of Presentation
      神戸セミナーハウス
  • [Presentation] Si(111)7x7清浄表面上へのNOx分子の解離吸着構造 ~室温走査トンネル顕微観察と第一原理計算シミュレーション~

    • Author(s)
      服部賢
    • Organizer
      Cat-on-cat新規表面反応研究センターシンポジウム2012
    • Place of Presentation
      兵庫県立先端科学技術支援センター
  • [Presentation] 光電子回折分光法による脱硫触媒Ni2P(10-10)の局所原子構造・電子状態解析

    • Author(s)
      松井公佑
    • Organizer
      Cat-on-cat新規表面反応研究センターシンポジウム2012
    • Place of Presentation
      兵庫県立先端科学技術支援センター
  • [Presentation] MOS構造上での電子励起触媒反応を目指した脱離反応系の探索

    • Author(s)
      広田望
    • Organizer
      Cat-on-cat新規表面反応研究センターシンポジウム2012
    • Place of Presentation
      兵庫県立先端科学技術支援センター
  • [Presentation] 微小領域化学状態の深さ分析開発 (μ-HAXPES)

    • Author(s)
      池永英司
    • Organizer
      第26回日本放射光学会年会放射光科学合同シンポジウム
    • Place of Presentation
      名古屋大学
  • [Presentation] Photoelectron diffraction of graphite and graphene

    • Author(s)
      F. Matsui
    • Organizer
      SSNS'13
    • Place of Presentation
      山形県山形市
    • Invited
  • [Presentation] Initial Stage of Metal Adsorption on Si(111) : Real Time Monitoring by RHEED

    • Author(s)
      S. N. Takeda
    • Organizer
      SSNS'13
    • Place of Presentation
      山形県山形市
    • Invited
  • [Presentation] Si(001)表面上に成長した3次元シリサイド島のφスキャンRHEED測定による3次元逆格子マッピング

    • Author(s)
      服部賢
    • Organizer
      日本物理学会 第68回年次大会
    • Place of Presentation
      広島大学
  • [Presentation] 光電子回折分光による局所電子状態と原子構造の研究

    • Author(s)
      松井文彦
    • Organizer
      日本物理学会 第68回年次大会
    • Place of Presentation
      広島大学
  • [Presentation] 歪み印加マニピュレータの開発

    • Author(s)
      武田さくら
    • Organizer
      日本物理学会 第68回年次大会
    • Place of Presentation
      広島大学
  • [Book] ひかりエネルギー革命  -グリーンフォトニクス-2012

    • Author(s)
      NAISTグリーンフォトニクス研究チーム
    • Total Pages
      6
    • Publisher
      ケイ・ディー・ネオブック
  • [Remarks] 凝縮系物性学研究室 研究成果

    • URL

      http://mswebs.naist.jp/LABs/daimon/index-j.html

URL: 

Published: 2014-07-24  

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