放射光X線による強相関電子系物質の電荷密度解析システムの構築

2008 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 20244059
• Research Institution: Nagoya University
• Principal Investigator: 澤 博 Nagoya University, 大学院・工学研究科, 教授 (50215901)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 大隅 寛幸 理化学研究所, 播磨研究所, 研究員 (90360825)
• Keywords: 放射光X線回折 / 精密構造解析 / 電荷密度解析 / 強相関電子系 / 軌道 / 電荷秩序

Research Abstract

本年度は共用施設として平成19年度末に納入されたSPring-8 BL02B1の単結晶用新型回折装置の立ち上げを行った。当初予定通り平成20年度前半にある程度の性能が確保されたことがわかり、後期からは一般ユーザーへの公募も行われた。我々は、精密解析に必要な逆格子空間内の分解能がどの程度まで確保できるかを詳細に調べ、10ミクロン角程度の合金系単結晶であれば0.2Aの超高分解能測定が可能であることを確認した。この回折計を用いて軌道秩序系の遷移金属酸化物、超伝導体等の測定を行った。この結果、高エネルギーの放射光X線による高統計精度の測定が可能であることも分かってきたが、同時に多重散乱などのいくつかの回折実験特有な問題点が改めて浮き彫りになってきた。現在、様々な条件を洗い出すことによって精密解析が可能なデータ処理のソフトウェアを開発しており、来年度からの本格測定に向けて準備を進めている。更に、精密測定に耐え得るような単結晶試料の予備測定の装置になるように名古屋大学既存の装置を改造したので、試料準備に関しても万全となった。

Research Products

• [Journal Article] Phase-Sensitive Observation of a Sin-Orbital Mott State in Sr2IrO4 (2009)
  • Author(s): B. J. Kim, H. Ohsumi, T. Komesu, S. Sakai. T. Morita, H. Takagi, T. Arima
  • Journal Title: SCIENCE 323 Pages: 1329-1332
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Bis-Carfaene Adducts of Non-IPR La2@C72 : Localization of High Reactivity around Fused Pentagons and Electrocliemical Properties (2008)
  • Author(s): Xing Lu, Hidefumi Nikawa, Takaliiro Tsuchiya, Yutaka Maeda, Midori O. Ishitsuka, Takeshi Akasaka, * Makoto Toki, Hiroshi Sawa, Zdenek Slanina, Naomi Mizorogi, Shigeru Nagase
  • Journal Title: Angew. Chem. Int. Ed 47 Pages: 8642-8645
  • Peer Reviewed
• [Journal Article] Orbital Ordering structures in (Nd, Pr) 0.5Sr0.5MnO3 Manganite Thin Films on Perovskite (011) Substrates (2008)
  • Author(s): Yusuke Wakabayashi, Daisuke Bizen, Yugo Kubo, Hironori Nakao, Youichi Murakami, Masao Nakamura, Yasushi Ogimoto, Kenjiro Miyano, Hiroshi Sawa
  • Journal Title: J. Pliys. Soc. Jpn 77 Pages: 014712-1-7
  • Peer Reviewed