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2009 Fiscal Year Annual Research Report

非二次元シリコン基板のレーザ結晶化とそのデバイス応用

Research Project

Project/Area Number 20246006
Research InstitutionNara Institute of Science and Technology

Principal Investigator

浦岡 行治  Nara Institute of Science and Technology, 物質創成科学研究科, 教授 (20314536)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 木村 睦針  龍谷大学, 理工学部, 教授 (60368032)
Keywords薄膜トランジスタ / レーザ結晶化 / 多結晶 / ディスプレイ / 非二次元基板 / ファイバー / 積層シリコン薄膜 / グリーンレーザ
Research Abstract

本研究では、従来のa-Si薄膜のレーザー結晶化と全く異なる取り組みとして、基板を一次元、および三次元に展開した。すなわち、「非二次元Si基板」として一次元ファイバーSi基板および三次元積層Si基板を用いることを提案した。従来の二次元平面基板と異なるこれらの基板の形状および構造がレーザー結晶化時の光照射および熱伝導に与える効果を利用し、poly-Siの大粒径化につながる新しい結晶化機構の解明を行った。同時に、これらの基板の形状および構造を活用した新たなプロセス技術、デバイス構造の可能性を検討した。
昨年度は、石英ファイバーの上に、N型とP型の多結晶シリコン薄膜トランジスタを作製し、評価した。その結果、移動度を高い良好な伝達特性が得られた。平面基板とは異なる一次元基板の上での結晶化の違いに着目し、粒径制御の可能性を確認した。本年度は、積層シリコン基板にグリーンレーザを照射し、その結晶化のメカニズムの解明と、デバイス作製を行った。単層の基板(従来条件)を参照しながら、2層、3層の基板を用いて、レーザ照射と結晶性評価を行った。まず、2層の基板においては、照射条件の最適化によって、2層の完全結晶化に成功した。また、3層基板への照射実験から、さらなる結晶性の向上を確認できた。積層化することにより、下層の熱浴効果による結晶化速度(固化速度)の変化によって、粒径が増大することがわかった。
さらに、最上層を用いて、薄膜トランジスタを試作し、その電気特性評価を行ったところ、粒径に依存した良好なスイッチング性能を確認した。最終年度は、フォトダイオードと薄膜トランジスタの積層構造の試作に挑む。

  • Research Products

    (15 results)

All 2010 2009

All Journal Article (8 results) (of which Peer Reviewed: 8 results) Presentation (7 results)

  • [Journal Article] Effect of post thermal annealing of ZnO-TFTs by atomic layer deposition2010

    • Author(s)
      Y.Kawamura, M.Horita, Y.Uraoka
    • Journal Title

      Jpn.J.Appl.Phys 49

      Pages: 04DF19-1-6

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Site-directed delivery of ferritin-encapsulated fold nanoparticles2010

    • Author(s)
      N Zhen, I.Yamashita, M.Uenuma, K.Iwahori, M.Koayashi, Y.Uraoka
    • Journal Title

      Nanotechnoligy 21

      Pages: 045305

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Floating gate memory with biomineralized nanodots embedded in High-k gate dielectric2009

    • Author(s)
      K.Ohara, I.Yamashita, T.Yaegashi, M.Moniwa, H.Yoshimaru, Y.Uraoka
    • Journal Title

      Applied Physics Express 2

      Pages: 095001-1-095001-3

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Characterization of local electrical properties of polycrystalline silicon thin films and hydrogen termination effect by conductive atomic force microscopy2009

    • Author(s)
      Emi Machida, Yukiharu Uraoka, Takashi Fuyuki, Ryohei Kokawa, Takeshi Ito, Hiroshi Ikenoue
    • Journal Title

      APPLIED PHYSICS LETTERS 94

      Pages: 182104 1-3

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Floating Gate Memory Based on Ferritin Nanodots with High-k Gate Dielectrics2009

    • Author(s)
      K.Ohara, Y.Uraoka, T.Fuyuki, I.Yamashita, T.Yaegashi, M.Moniwa, M.Yoshimaru
    • Journal Title

      Jpn.J.Appl.Phys 48

      Pages: 04C153-1-4

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Irradiatio-damages in atmospheric plasma used in a resist ashing process for thin film transitors2009

    • Author(s)
      T.Sato, A.Ueno, T.Yara, E.Miyamoto, Y.Uraoka, T.Kubota, S.Samukawa
    • Journal Title

      Jpn.J.Appl.Phys 48

      Pages: 03B009

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Experimental and Theoretical Analysis of Degradation in Ga2O3-In2O3-ZnO Thin-Film Transistors2009

    • Author(s)
      M.Fujii, Y.Uraoka, T.Fuyuki, J.S.Jung, J.Y.Kwon
    • Journal Title

      Jpn.J.Appl.Phys 48

      Pages: 04C091-1-6.

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Controlled Reduction of Bionanodots for Better Charge Strage Characteristics of Bionanodots Flash Mmeory2009

    • Author(s)
      Y.Tojo, A.Miura, Y.Uraoka, T.fuyuki, I.Yamashita
    • Journal Title

      Jpn.J.Appl.Phys 48

      Pages: 04C190-1-5

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Location Controls of Crystallization Areas Utilizing Nickel Ferritins2010

    • Author(s)
      Y.Tojo, A.Miura, I.Yamashita, Y.Uraoka
    • Organizer
      International Thin-Film Transistor Conference 2010
    • Place of Presentation
      Himeji, Hyogo
    • Year and Date
      2010-01-28
  • [Presentation] Silicon Thin Film Transistor on Quartz Fiber2010

    • Author(s)
      Y.Sugawara, K.Yamazaki, T.Nakamura, H.Koaizawa, A.Mimura, K.Suzuki, Y.Uraoka
    • Organizer
      International Thin-Film Transistor Conference 2010
    • Place of Presentation
      Himeji, Hyogo
    • Year and Date
      2010-01-28
  • [Presentation] Scanning Probe Microscope Analysis for Electron Trapping and Detrapping in Defect Sites of Polycrystalline Silicon Thin Films2010

    • Author(s)
      E.Machida, Y.Uraoka, H.Ikenoue
    • Organizer
      International Thin-Film Transistor Conference 2010
    • Place of Presentation
      Himeji, Hyogo
    • Year and Date
      2010-01-28
  • [Presentation] TFT-type Flash Memory with Biomineralized Nanodots on SOI Substrate2009

    • Author(s)
      K.Ohara, I.Yamashita, Y.Uraoka
    • Organizer
      International Conference on Solid State Devices and Materials
    • Place of Presentation
      Sendai, Miyagi
    • Year and Date
      2009-11-08
  • [Presentation] Three-Dimensional Device Fabricated with Green Laser2009

    • Author(s)
      Takehiko Yamashita, Yuta Sugawara, Yukiharu Uraoka
    • Organizer
      AMFPD '09
    • Place of Presentation
      Nara, Japan
    • Year and Date
      2009-07-01
  • [Presentation] Green Laser Anneling Crystallization for Three-Dimensional Device Application2009

    • Author(s)
      T.Yamashita, Y.Sugawara, Y.Uraoka, T.Fuyuki, M.Kimura
    • Organizer
      International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai
    • Place of Presentation
      Osaka, Japan
    • Year and Date
      2009-05-14
  • [Presentation] Conductivity and Surface Potential Measurements in Poly-Si Thin Films by Scaning Probe Microscopy2009

    • Author(s)
      E.Machida, Y.Uraoka, R.Kokawa, T.Ito, H.Ikenoue
    • Organizer
      International Meeting for Future of Electr on Devices, Kansai
    • Place of Presentation
      Osaka, Japan
    • Year and Date
      2009-05-14

URL: 

Published: 2011-06-16   Modified: 2016-04-21  

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