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2010 Fiscal Year Self-evaluation Report

Si single-electron transfer devices using potential fluctuation by a few dopants

Research Project

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Project/Area Number 20246060
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (A)

Allocation TypeSingle-year Grants
Section一般
Research Field Electron device/Electronic equipment
Research InstitutionShizuoka University

Principal Investigator

TABE Michiharu  Shizuoka University, 電子工学研究所, 教授 (80262799)

Project Period (FY) 2008 – 2010
Keywords少数電子素子 / 電子デバイス・機器 / 半導体超微細化 / シリコン
Research Abstract

ナノメータ領域のシリコンデバイスは、ドーパントの個数や配置のばらつきがデバイス特性を左右するため、これを克服するデバイス原理の提案が必要である。本研究は、シリコン単電子デバイスに関する我々の最近の成果(基盤研究Sによる)を基に提案するものであり、ランダムに配置された少数個のドーパントのポテンシャル場を利用することにより、1ゲートパルスあたり1個の電子を転送する単電子転送デバイスの開発を目指す。すなわち、ナノ領域で顕在化するドーパントのポテンシャル揺らぎを積極的に利用したシリコンナノデバイスの開発を目的とする。

  • Research Products

    (18 results)

All 2011 2010 2009 2008 Other

All Journal Article (5 results) (of which Peer Reviewed: 5 results) Presentation (5 results) Book (2 results) Remarks (6 results)

  • [Journal Article] Single-electron transfer between two donors in nanoscale thin silicon-on-insulator field-effect transistors2010

    • Author(s)
      E. Hamid, D. Moraru, J.C. Tarido, S. Miki, T. Mizuno, M. Tabe
    • Journal Title

      Appl.Phys.Lett. 97

      Pages: 262101-1-3

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Electrical control of capacitance dispersion for single-electron turnstile operation in commongated junction arrays2010

    • Author(s)
      K. Yokoi, D. Moraru, T. Mizuno, M. Tabe
    • Journal Title

      J.Appl.Phys. 108

      Pages: 053710-1-5

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Single-Electron Transport through Single Dopants in a Dopant-Rich Environment2010

    • Author(s)
      M. Tabe, D. Moraru, M. Ligowski, M. Anwar, R. Jablonski, Y. Ono, T. Mizuno
    • Journal Title

      Phys.Rev.Lett. Vol.105

      Pages: 016803-1-4

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Single-electron transfer by inter-dopant coupling tuning in doped nanowire silicon-on-insulator field-effect transistors2009

    • Author(s)
      D. Moraru, M. Ligowski, K. Yokoi, T. Mizuno, M. Tabe
    • Journal Title

      Appl.Phys.Express. Vol.2, no.7

      Pages: 071201

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Observation of individual dopants in a thin silicon layer by low temperature Kelvin Probe Force Microscope2008

    • Author(s)
      M. Ligowski, D. Moraru, M. Anwar, T. Mizuno, R. Jablonski, M. Tabe
    • Journal Title

      Appl.Phys.Lett. Vol.93

      Pages: 142101

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Si Single Dopant Devices2011

    • Author(s)
      M. Tabe
    • Organizer
      The Int.Symp. on Nanoscale Transport and Technology (ISNTT2011)
    • Place of Presentation
      Atsugi
    • Year and Date
      2011-01-12
  • [Presentation] Observation of individual dopants in Si channel by Low-Temeperature KFM2010

    • Author(s)
      M. Tabe
    • Organizer
      18th Int. Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM18)
    • Place of Presentation
      Atagawa
    • Year and Date
      2010-12-11
  • [Presentation] Single dopant devices : Single-electron transport through single-dopants2010

    • Author(s)
      M. Tabe
    • Organizer
      ITRS Deterministic Doping Workshop 2
    • Place of Presentation
      USA
    • Year and Date
      2010-11-12
  • [Presentation] Si single-dopant devices and their characterization2010

    • Author(s)
      M. Tabe
    • Organizer
      2010 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD2010)
    • Place of Presentation
      Tokyo
    • Year and Date
      2010-07-01
  • [Presentation] Single-photon detection by Si single-electron FETs2010

    • Author(s)
      M. Tabe
    • Organizer
      European MRS (E-MRS) Symp. J : Silicon-based nanophotonics
    • Place of Presentation
      France
    • Year and Date
      2010-06-08
  • [Book] ナノシリコンの最新技術と応用展開第1章(8「シリコン多重ドットFETの新機能:フォトン検出と単電子転送」)分担執筆2010

    • Author(s)
      田部道晴, D. Moraru
    • Total Pages
      56-65
    • Publisher
      シーエムシー出版
  • [Book] 電子情報通信学会「知識ベース」(S2群ナノ・量子・バイオ-2編ナノエレクトロニクス-第1章「シリコンナノエレクトロニクス」)分担執筆2010

    • Author(s)
      田部道晴
    • Publisher
      オーム社
  • [Remarks] 新聞掲載

  • [Remarks] 田部道晴:集積回路原子の「ムラ」検査-静岡大、微細化促す新技術日経産業新聞(2008.10.2)

  • [Remarks] ホームページ等

  • [Remarks] 静岡大学学術リポジトリ

    • URL

      http://ir.lib.shizuoka.ac.jp/

  • [Remarks] 電子工学研究所

    • URL

      http://www.rie.shizuoka.ac.jp/index.html

  • [Remarks] 田部研究室

    • URL

      http://www.rie.shizuoka.ac.jp/~nanohome/

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Published: 2012-02-13   Modified: 2016-04-21  

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