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2010 Fiscal Year Annual Research Report

ナノ配向マッピング手法の開拓

Research Project

Project/Area Number 20246139
Research InstitutionJapan Atomic Energy Agency

Principal Investigator

関口 哲弘  独立行政法人日本原子力研究開発機構, 量子ビーム応用研究部門, 研究主幹 (20373235)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 馬場 祐治  独立行政法人日本原子力研究開発機構, 量子ビーム応用研究部門, 研究主幹 (90360403)
下山 巖  独立行政法人日本原子力研究開発機構, 量子ビーム応用研究部門, 研究副主幹 (10425572)
Keywords光電子顕微鏡 / 放射光 / 有機半導体 / 有機薄膜 / 直線偏光 / ナノ材料 / X線吸収測定
Research Abstract

平成22年度研究計画に基づき、超高真空測定容器内の試料へ真空紫外光を照射するための光学系(1対1系)の設計・製作を行った。構成としては、窓フランジ、フィルター等用の汎用ホルダー、集光レンズ(メレスグレオ社、2インチ両凸レンズ、F値0.3,f=121.2mm@193nm)、ベローズ管(真空光学社製)、重水素放電管(D2ランプ)(浜松ホトニクス社L1835,150W)からなる。D2ランプからの短波長光は石英を通過せず、通常の光学部品は使用することができない。そのため、フッ化マグネシウム(MgF2)材の特殊な窓フランジ、レンズ、D2ランプ管を用意した。また超短波長であるため光路は全て真空排気される必要がある。しかし、レンズ等の真空中に置かれた光学部品の微小な位置合わせは全て大気側から行う必要がある。そのため、ツバ付ベローフランジ内部にレンズを収納し、ベローの伸縮で光軸Z方向を、ツバネジの調整によるフランジ面の傾きでXY方向の調整を行う機構とし、集光スポット(径~2.5mm)位置を微調整することができる。
有機半導体であるSiフタロシアニン(SiPc)分子の配向薄膜を予め作成し、重合により高配向した一次元有機半導体[-(SiPcO)n-]を合成する技術のための基礎研究を行った。高い配向度となる実験条件の探索として、蒸着膜の厚みが配向度に及ぼす影響について調べた。出発物質であるSiPcCl2分子と生成物(SiPcO)nのX線吸収スペクトルを明確に理解し区別するために、X線励起状態について等価殻近似に基づく分子軌道理論計算を行った。また、SiPcXY, SiNaphXY, X=CH3, 0H, Cl, Naph=ナフトシアニンといった種々の置換基をもつSiフタロシアニン分子の参照化合物のX線吸収スペクトル測定を行い、各吸収ピークの起源を考察した。

  • Research Products

    (14 results)

All 2011 2010 Other

All Journal Article (7 results) (of which Peer Reviewed: 4 results) Presentation (6 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Orientation of Si phthalocyanine investigated by X-ray absorption spectroscopy and molecular orbital calculation2010

    • Author(s)
      T.Sekiguchi, Y.Baba, I.Shimoyama, M.Honda, N.Hirao, A.Narita, Juzhi Deng
    • Journal Title

      Surface and Interface Analysis

      Volume: 42 Pages: 863-868

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Chemical-state-selective mapping at nanometer scale using synchrotron radiation and photoelectron emission microscopy2010

    • Author(s)
      N.Hirao, Y.Baba, T.Sekiguchi, I.Shimoyama, M.Honda
    • Journal Title

      Analytical Science

      Volume: 26 Pages: 835-840

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Self-ordering of silicon polymer thin film grown on indium tin oxide surface investigated by X-ray absorption spectroscopy2010

    • Author(s)
      Md.A.Mannan, Y.Baba, T.Sekiguchi, I.Shimoyama, N.Hirao, A.Narita, M.Nagano, H.Noguchi
    • Journal Title

      Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena

      Volume: 181 Pages: 242-248

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Femto- and attosecond electron dynamics in 5-Guanosine monophosphate interface as probed by resonant Auger spectroscopy2010

    • Author(s)
      H.Ikeura-Sekiguchi, T.Sekiguchi
    • Journal Title

      Surface and Interface Analysis

      Volume: 42 Pages: 1085-1088

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Focusing of Soft X-ray for Quick PEEM Measurements2010

    • Author(s)
      N.Hirao, Y.Baba, T.Sekiguchi, I.Shimoyama, A.Narita
    • Journal Title

      Photon Factory Activity Report

      Volume: 27 Part B Pages: 62

  • [Journal Article] Real-time observation on configuration changes of silicon polymer by soft X-ray PEEM2010

    • Author(s)
      Y Baba, Y.Baba, T.Sekiguchi, I.Shimoyama, N.Hirao, A.Narita
    • Journal Title

      Photon Factory Activity Report

      Volume: 27 Part B Pages: 74

  • [Journal Article] Self-ordering of polysilanes on metal and semiconductor surfaces investigated by X-ray absorption spectroscopy2010

    • Author(s)
      Md.A.Mannan, Y.Baba, T.Sekiguchi, I.Shimoyama, N.Hirao, M.Nagano, H.Noguchi
    • Journal Title

      Photon Factory Activity Report

      Volume: 27 Part B Pages: 75

  • [Presentation] 偏光放射光によるナノ領域の分子配向観測2011

    • Author(s)
      関口哲弘,馬場祐治,下山巌,平尾法恵,成田あゆみ, Md Abdul Mannan、K. Rasika Koswattage
    • Organizer
      第24回日本放射光学会・放射光科学合同シンポジウム
    • Place of Presentation
      つくば市
    • Year and Date
      2011-01-09
  • [Presentation] Application of soft x-ray PEEM to the observations of electronic structure, valence state and molecular orientation at nanoscale2010

    • Author(s)
      Y.Baba, T.Sekiguchi, I.Shimoyama, N.Hirao, A.Narita
    • Organizer
      International Chemical Congress of Pacific Basin Societies (Pacifichem 2010)
    • Place of Presentation
      Honolulu (USA)
    • Year and Date
      2010-12-18
  • [Presentation] Application of soft-x-ray PEEM to the real-time observation on organic thin films2010

    • Author(s)
      Y.Baba, T.Sekiguchi, I.Shimoyama, N.Hirao
    • Organizer
      6^<th> International Workshop on Nano-scale Spectroscopy and Nanotechnology
    • Place of Presentation
      Kobe University (Japan)
    • Year and Date
      2010-10-27
  • [Presentation] Focusing of soft X-ray for quick PEEM measurements2010

    • Author(s)
      N.Hirao, Y.Baba, T.Sekiguchi, I.Shimoyama
    • Organizer
      5^<th> International Symposium on Practical Surface Analysis
    • Place of Presentation
      Gyeongju (Korea)
    • Year and Date
      2010-10-05
  • [Presentation] Surface micro-XAFS for real-time observation at nanometer-scale2010

    • Author(s)
      Y.Baba, T.Sekiguchi, I.Shimoyama, N.Hirao
    • Organizer
      5^<th> International Symposium on Practical Surface Analysis
    • Place of Presentation
      Gyeongju (Korea)
    • Year and Date
      2010-10-05
  • [Presentation] A rotatable photoelectron emission microscope combined with polarized synchrotron radiation2010

    • Author(s)
      T.Sekiguchi, Y.Baba, I.Shimoyama, N.Hirao, A.Narita, Md.A.Mannan, K.R.Koswattage
    • Organizer
      37^<th> International Conference on Vacuum Ultraviolet and X-ray Physics (VUVX2010)
    • Place of Presentation
      Vancouver (Canada)
    • Year and Date
      2010-07-15
  • [Remarks]

    • URL

      http://wwwapr.kansai.jaea.go.jp/srrc/research02/scr.html

URL: 

Published: 2012-07-19  

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