2009 Fiscal Year Annual Research Report
ネットワークオンチップにおけるテスト容易性と安全性に関する基礎研究
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20300018
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| Research Institution | Nara Institute of Science and Technology |
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Principal Investigator |
藤原 秀雄 Nara Institute of Science and Technology, 情報科学研究科, 教授 (70029346)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
井上 美智子 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 准教授 (30273840)
大竹 哲史 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20314528)
米田 友和 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20359871)
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| Keywords | システムオンチップ / ディペンダブルコンピューティング / VLSIのテスト / 高信頼性ネットワーク / 設計自動化 |
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| Research Abstract |
平成21年度の研究成果を以下に示す。
(1)機能RTLテスト容易化設計法として、F-Scanと名付けた新しいスキャン方式を提案し、ベンチマーク回路による実験によりその有効性を評価した。従来のゲートレベルスキャン方式に比べて、面積オーバーヘッド、テスト実行時間、共に大幅に改善することに成功した。
(2)ネットワークのハードウエア故障のテストに関しては、スイッチブロックの故障のテスト、スイッチブロックとスイッチブロックの間を接続する信号線の故障のテストを考察した。NoC内に分散したスイッチブロック間の信号線に対してクロストーク故障あるいは超微細加工に起因する新しい故障モデルでのテストを可能とするテストアーキテクチャ、テスト容易化設計、テスト手法等の問題を考え、それらの解法を提案し、実験により提案法の有効性を示した。
(3)テスト容易性と安全性の両立に関しては、二つの方式を提案した。一つは,部分スキャン方式による安全スキャン方式、他の一つは、シフトレジスタ等価回路を用いた安全スキャン方式である。それらの安全性を脅かす攻撃について考察し,新たな安全性の尺度を提案した。シフトレジスタ等価回路を用いた安全スキャン方式では、安全(セキュリティ)レベルを考察するために、シフトレジスタ等価回路族の濃度を示す数式を導出し、その安全レベルを解析的に明らかにした。
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Research Products
(15 results)
