2010 Fiscal Year Annual Research Report
ネットワークオンチップにおけるテスト容易性と安全性に関する基礎研究
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20300018
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| Research Institution | Nara Institute of Science and Technology |
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Principal Investigator |
藤原 秀雄 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 教授 (70029346)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
井上 美智子 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 准教授 (30273840)
大竹 哲史 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20314528)
米田 友和 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20359871)
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| Keywords | システムオンチップ / ディペンダブルコンピューティング / VLSIのテスト / 高信頼性ネットワーク / 設計自動化 |
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| Research Abstract |
平成22年度の研究成果を以下に示す。
(1)昨年度の提案した機能RTLテスト容易化設計法(F-Scan法)を最大限に活かしたテスト生成法として、制約付きRTLテスト生成法の開発を行い、ベンチマーク回路でその有効性を評価した。従来のゲートレベル・スキャン設計法と比べ、面積オーバヘッド、テスト実行時間の削減に成功している。
(2)ネットワークオンチップの非同期インターコネクトを対象とし、非同期回路のテスト手法、テスト容易化設計法を提案した。従来手法の種々の問題を解消し、最小の遅延オーバヘッドのもとで面積オーバヘッドの大幅な削減を達成するとともに故障検出能力をより向上させるのに成功した。
(3)テスト容易性と安全性の両立に関しては,すでにシフトレジスタ等価回路を用いた安全(セキュア)スキャン方式を提案しているが,その方式を更に発展させた。微分動作攻撃(組合せ回路側からのスキャンベース攻撃)をモデル化し、その攻撃を防御する安全でテスト容易なスキャン方式を提案した。シフトレジスタ等価回路族において微分動作同値関係を導入し、その同値類の濃度を導出し、提案する方式の微分動作攻撃に対するセキュリティレベルの高さを明らかにした。
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