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2010 Fiscal Year Annual Research Report

探針-試料間電圧印加チューニングによる結合形成過程の原子分解能・顕微分光解析

Research Project

Project/Area Number 20310058
Research InstitutionKanazawa University

Principal Investigator

新井 豊子  金沢大学, 数物科学系, 教授 (20250235)

Keywords走査プローブ顕微鏡 / 化学結合 / 結合形成過程 / ナノ表面・界面 / 顕微分光
Research Abstract

本研究の目的は、独自開発した電圧印加非接触原子間力顕微鏡/分光法(Biasnc-AFM/S)を発展させ、探針と試料を極接近させたときに試料表面上の原子・分子と探針先端原子との間で進行する結合形成の過程・電子状態の変化を明らかにすることである。
1. Bias nc-AFM/Sを基本とした電流・エネルギー散逸等の高感度同時計測システムの構築
高感度力センサーの開発:市販されている音叉型水晶振動子に金属探針およびシリコン探針を取り付け、nc-AFM/S用の力センサーとした。この、接着・固定方法を検討し、高感度力センサーとしての応用を探った。また、探針・試料間相互作用による振動子の固有振動数変化、トンネル電流、エネルギー散逸の高感度同時計測システムを構築した。
2. 分子系試料の調製と測定
シリコン(111)基板および、シリコン探針先端にダングリングボンドが形成されるように表面を清浄化し、このダングリングボンドに、アミノ基および水素原子で終端させる機構を超高真空チャンバー内に形成し、その終端条件を探った。シリコン基板上のダングリングボンドが水素原子で終端されると、その表面原子と清浄な探針間の相互作用引力は弱くなり、nc-AFM像は水素が終端された原子は凹に観察された。トンネル電流および散逸エネルギーも水素終端原子-探針間は、ダングリングボンドを持つ原子間に比べて小さくなった。この修飾表面に対して、探針試料間バイアス電圧スペクトルの取得をめざしたが、スペクトル計測中に探針が変化し、再現性のあるデータは得られていない。

  • Research Products

    (13 results)

All 2011 2010 Other

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (10 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Adsorption State of 4,4"-Diamino-p-terphenyl through an Amino Group Bound to Si(111)-7x7 Surface Examined by X-ray Photoelectron Spectroscopy and Scanning Tunneling Microscopy2010

    • Author(s)
      Takashi Nishimura
    • Journal Title

      The Journal of Physical Chemistry C

      Volume: 114 Pages: 11109-11114

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Atomic resolution force microscopy imaging on a strongly ionic surface with differently functionalized tips2010

    • Author(s)
      T.Arai
    • Journal Title

      Journal of Vacuum Science & Technology B

      Volume: 28 Pages: 1279-1283

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Si(001)表面におけるDAT分子の吸着構造と電子状態2011

    • Author(s)
      小田将人
    • Organizer
      日本物理学会第66回年次大会
    • Place of Presentation
      概要集・Webサイトhttp://wwwsoc.nii.acjp/jps/index.html
    • Year and Date
      20110325-20110328
  • [Presentation] ITO/YSZ(111)上のテレフタルアルデヒド分子の雰囲気制御FM-AFMによる観察2011

    • Author(s)
      山谷寛
    • Organizer
      第58回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      講演予稿集http://www.jsap.or.jp
    • Year and Date
      20110324-20110327
  • [Presentation] 透明電極基板上π共役分子TPAのSTMによる微視的解析2011

    • Author(s)
      高田真希
    • Organizer
      第58回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      講演予稿集http://www.jsap.or.jp
    • Year and Date
      20110324-20110327
  • [Presentation] 自励発振式水晶振動子力センサーを用いた超高真空NNC-AFMの開発2011

    • Author(s)
      作石達哉
    • Organizer
      第58回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      講演予稿集http://www.jsap.or.jp
    • Year and Date
      20110324-20110327
  • [Presentation] π共役系分子で界面制御したSi/有機半導体素子の製作と評価2011

    • Author(s)
      西村高志
    • Organizer
      第58回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      講演予稿集http://www.jsap.or.jp
    • Year and Date
      20110324-20110327
  • [Presentation] π電子系分子で界面制御したシリコン/有機半導体素子の製作と評価2010

    • Author(s)
      西村高志,村田英幸,笹原亮,新井豊子,富取正彦
    • Organizer
      応用物理学会北陸・信越支部学術講演会
    • Place of Presentation
      金沢大学(石川県)
    • Year and Date
      2010-11-19
  • [Presentation] Self-organization of a -lactalbumin on a H-passivated Si(111)-7x7 surface studied at atmospheric pressure using non-contact atomic force microscopy2010

    • Author(s)
      Zubaida A.Ansari
    • Organizer
      13th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy (nc-AFM2010)
    • Place of Presentation
      石川県立音楽堂(石川県)
    • Year and Date
      2010-08-02
  • [Presentation] n-conjugated molecules on metal oxide surfaces analyzed by FM-AFM in an environment-controlled atmosphere2010

    • Author(s)
      山谷寛
    • Organizer
      13th International Conference on Noncontact Ato mic Force Microscopy (nc-AFM2010)
    • Place of Presentation
      石川県立音楽堂(石川県)
    • Year and Date
      2010-08-02
  • [Presentation] Development of SPM instruments and tip preparation for force sensors2010

    • Author(s)
      新井豊子
    • Organizer
      13th International Conference on Noncontact Ato mic Force Microscopy (nc-AFM2010)
    • Place of Presentation
      石川県立音楽堂(石川県)
    • Year and Date
      2010-08-02
  • [Presentation] Nanoscale analysis by combined spectroscopies based on non-contact atomic force microscopy under a bias voltage2010

    • Author(s)
      新井豊子
    • Organizer
      13th International Conference on Noncontact Ato mic Force Microscopy (nc-AFM2010)
    • Place of Presentation
      石川県立音楽堂(石川県)
    • Year and Date
      2010-08-02
  • [Remarks]

    • URL

      http://www.s.kanazawa-u.ac.jp/~nanophys/

URL: 

Published: 2012-07-19  

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