2009 Fiscal Year Annual Research Report
Z偏光ラマン分光法とMAIR分光法による非平滑界面の構造解析
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20350035
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| Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
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Principal Investigator |
長谷川 健 Tokyo Institute of Technology, 大学院・理工学研究科, 准教授 (30258123)
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| Keywords | Z偏光 / ラマン分光法 / 有機薄膜 / 分子配向 / 表面増強ラマン散乱 / 偏光解消度 / 凝縮系化学 |
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| Research Abstract |
ラマン分光法による薄膜の分子間相互作用の異方性の研究は,偏光測定が定量的に困難なことから本格的な取り組みがほとんどない。本年度は,界面吸着種などの非共鳴条件での高感度測定を実現させるため,分光器の光学系の最適化に重点的に取り組んだ。また,偏光解消度測定が定量的に行えるようにするため,分光器の偏光特性を除去するための工夫を重ねた。その結果,市販の偏光解消板では偏光特性を取り除くことができないことが判明し,1/2波長板を利用して精度の高い測定ができる状態にこぎ着けた。これと平行して,高感度な表面増強測定のための金属蒸着基板の分光学的特性を可視MAIR分光法によって解析する研究も進めており,波長選択的に双極子型および四重極子型のプラズモンを励起でき,さらに面内・面外方向でさらに励起波長が異なることが明らかとなった。こうしてZ偏光ラマン分光の準備が整いつつある。
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[Journal Article]2009
Author(s)
山田哲弘・長谷川健
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Journal Title
超分子サイエンス&テクノロジー-基礎からイノベーションまで-(エヌ・ティー・エス)
Pages: 397-417
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