2010 Fiscal Year Annual Research Report
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20350041
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| Research Institution | National Institute for Materials Science |
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Principal Investigator |
櫻井 健次 独立行政法人物質・材料研究機構, 量子ビームセンター, グループリーダー (00354176)
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| Keywords | 分析・計測 / X線技術 / 可視化 / イメージング / 原子レベル構造 |
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| Research Abstract |
本研究では、研究代表者が発明した投影型X線顕微鏡技術を発展させ、不均一な試料の構造情報を複眼的に取得するため、高エネルギー加速器研究機構のPFAR6.5GeVリングのアンジュレータービームラインNW2Aの大強度放射光を利用してきている。平成21年度の途中に多層膜モノクロメータの再立ち上げに成功し、蛍光X線およびX線回折の動画イメージング等、非常に競争力のある研究を実施できる体制が整った。この恵まれた条件を活用し、平成22年度も、本研究の当初計画には含まれていないX線動画実験を実施した。他方、X線回折法およびX線吸収微細構造(XAFS)法の双方から得られる結晶構造、原子レベルの局所構造、価数、電子状態等の画像化を行うためには、多層膜モノクロメータではなく、通常の結晶モノクロメータを用いる必要がある。その際、入射エネルギー走査を行う際になめらかな強度変化が得られるように最適化を行う必要があるが、アンジュレータービームラインにおいては必ずしも容易ではない。この技術課題についても、複数の方法を考案・検討し、最終的に良好な撮像方法・条件を見出し、同一試料について、XAFSの吸収端化学シフトの画像とX線回折の画像の両方を取得し総合解析の道筋を確立した。
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