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2008 Fiscal Year Annual Research Report

動的測定可能な二軸独立型摩擦力顕微鏡マイクロプローブ

Research Project

Project/Area Number 20360077
Research InstitutionNagoya University

Principal Investigator

福澤 健二  Nagoya University, 大学院・工学研究科, 教授 (60324448)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 式田 光宏  名古屋大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (80273291)
伊藤 伸太郎  名古屋大学, 大学院・工学研究科, 講師 (50377826)
Keywords摩擦力顕微鏡 / マイクロマシン / プローブ顕微鏡 / トライボロジー / ナノ計測
Research Abstract

走査型プローブ顕微鏡の一種である摩擦力顕微鏡は,マイクロ・ナノトライボロジー現象解明の中核的計測法である.本研究では,申請者が開発してきた摩擦力顕微鏡用プローブに,新たに駆動機構を付与することで,動的測定及び探針位置の制御を可能とし,動的トライボロジー特性計測法へと発展させることを目的とする.
本年度は,プローブ作製法を確立することを試みた.本プローブでは,静電駆動のために,プローブ部とマイクロ電極部の対向した側面を電極部とし,この対向面に電極膜を形成する必要がある.そして,十分な静電力を得るために,このすきまは100μm以下の微少すきまが必要となる.微小すきまを介した対向面に電極膜を形成することは困難であるため,一体作製でなく,プローブ部とマイクロ電極部を別々に作製し,組み合わせるものとした.具体的には,基板としては面方位{100}のシリコン単結晶基板を用い,基板上面からの結晶異方性化学エッチングにより,垂直側面({010}面)を形成し,対向面とした.結晶異方性エッチングを利用しているので,側面は結晶学的な精密さで対向面の平行度を確保することができる.この際,プローブ部には位置合わせ用の微小突起構造の作製,マイクロ電極部には微小穴構造の作製に成功した.そして,位置合わせ用微小構造をガイドとしてプローブ部とマイクロ電極部を組み合わせ,接着剤を用いて固定した.さらに,電極膜成膜装置でマイクロ電極部の側面や基板下面を金などの電極材料で被膜する電極膜形成法の開発に着手した.

  • Research Products

    (2 results)

All 2008

All Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results) Presentation (1 results)

  • [Journal Article] Improved Sensitivity of Dual-Axis Micro-Mechanical Probe for Friction Force Microscope2008

    • Author(s)
      H. Amakawa, K. Fukuzawa, M. Shikida, H. Zhang, S. Itoh
    • Journal Title

      Tribology Online 3

      Pages: 356-360

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Improved Sensitivity of Dual-Axis Micro-Mechanical Probe for Friction Force Microscope2008

    • Author(s)
      H. Amakawa, K. Fukuzawa, M. Shikida, H. Zhang, S. Itoh
    • Organizer
      トライボロジー会議予稿集名古屋2008-9(国際セッション)
    • Place of Presentation
      名古屋
    • Year and Date
      2008-09-17

URL: 

Published: 2010-06-11   Modified: 2016-04-21  

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