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2009 Fiscal Year Annual Research Report

動的測定可能な二軸独立型摩擦力顕微鏡マイクロプローブ

Research Project

Project/Area Number 20360077
Research InstitutionNagoya University

Principal Investigator

福澤 健二  Nagoya University, 大学院・工学研究科, 教授 (60324448)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 式田 光宏  名古屋大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (80273291)
伊藤 伸太郎  名古屋大学, 大学院・工学研究科, 講師 (50377826)
Keywords摩擦力顕微鏡 / マイクロマシン / プローブ顕微鏡 / トライボロジー / ナノ計測
Research Abstract

走査型プローブ顕微鏡の一種である摩擦力顕微鏡は,マイクロ・ナノトライボロジー現象解明の中核的計測法である.本研究では,申請者が開発してきた摩擦力顕微鏡用プローブに,新たに駆動機構を付与することで,動的測定及び探針位置の制御を可能とし,動的トライボロジー特性計測法へと発展させることを目的としている.
本年度は,昨年度にひきつづきプローブ作製法の改良を進めた.本プローブでは,静電力で駆動するために,プローブ部とマイクロ電極部の対向した側面を電極部とし,この対向面に電極膜を形成する必要がある.真空蒸着装置を用いて,金などを電極材料として電極膜の形成を試み,さらなる膜品質の向上が必要であることが判明した.また,本プローブでは,水平方向に働く摩擦力を平行板ばねのたわみで測定し,鉛直方向の力を平行板ばね支持部を支えるねじり梁部のねじれによって独立に測定する.プローブ先端の鉛直方向の変位は通常の光てこ法で検出する.そして,水平方向の変位については,プローブ先端部に作製した微小溝に光てこ用レーザを集光し,溝の像(光が反射しない部分)を位置検出器に投影し,像の変位を検出して得ていたが,再現性に優れず,開発中のプローブの性能評価に支障が出ることが判明した.そこで,光を検出器と異なる方向へ反射する斜面型の変位測定用パターンを考案し,さらに化学エッチング法での作製に成功し,この課題を解決した.

  • Research Products

    (4 results)

All 2010 2009

All Presentation (3 results) Patent(Industrial Property Rights) (1 results) (of which Overseas: 1 results)

  • [Presentation] 摩擦力顕微鏡用二軸独立型プローブの摩擦力・鉛直力の検出におけるクロストーク効果2010

    • Author(s)
      雨川洋章, 福澤健二, 式田光宏, 張賀東, 伊藤伸太郎
    • Organizer
      日本機械学会IIP2011情報・知能・精密機器部門講演会講演論文集, pp. 40-43
    • Place of Presentation
      東京 電機大学
    • Year and Date
      2010-03-16
  • [Presentation] 高感度な摩擦力顕微鏡用二軸独立検出型マイクロ・メカニカルプローブ2010

    • Author(s)
      雨川洋章, 福澤健二, 式田光宏, 張賀東, 伊藤伸太郎
    • Organizer
      日本機械学会東海支部第59期総会講演会講演論文集No. 103-1, pp. 335-336
    • Place of Presentation
      名古屋 名城大学
    • Year and Date
      2010-03-10
  • [Presentation] Dual-Axis Micro-Mechanical Probe for Highly Sensitive Friction Force Microscope2009

    • Author(s)
      雨川洋章, 福澤健二, 式田光宏, 張賀東, 伊藤伸太郎
    • Organizer
      Proceedings of World Tribology Congress 2009 (WTC2009), p. 261
    • Place of Presentation
      Kyoto Internationl Conference Center
    • Year and Date
      2009-09-08
  • [Patent(Industrial Property Rights)] 測定プローブ, 試料表面測定装置, 及び試料表面測定方法2009

    • Inventor(s)
      福澤健二, 式田光宏, 寺田諭
    • Industrial Property Rights Holder
      科学技術振興機構
    • Industrial Property Number
      外国特許出願 (PCT/JP2007/052626) No. US7, 557, 933, B2 (2007年2月14日出願)
    • Acquisition Date
      2009-07-07
    • Overseas

URL: 

Published: 2011-06-16   Modified: 2016-04-21  

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