2009 Fiscal Year Annual Research Report
ナノ熔融領域の光学・熱動力学計測手法の開発とストレージ技術への応用
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20360303
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| Research Institution | National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
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Principal Investigator |
桑原 正史 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, 近接場光応用工学研究センター, 主任研究員 (60356954)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
島 隆之 独立行政法人産業技術総合研究所, 近接場光応用工学研究センター, 主任研究員 (10371048)
鶴岡 徹 独立行政法人物質・材料研究機構, 国際ナノアーキテクトニクス研究拠点, MANA研究者 (20271992)
遠藤 理恵 国立大学法人東京工業大学, 大学院・理工学研究科・材料工学専攻, 助教 (00372459)
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| Keywords | カルコゲナイト / ラマン散乱 / 高温熔融状態 / 結晶-アモルファス転移 / 光記録 / 相変化メモリー / 電気伝導率 / 光学例数 |
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| Research Abstract |
(i)「ラマン散乱法によるナノ熔融領域熱現象の研究」および(ii)「高温時における材料の諸物性測定方法の確立」を柱とし、研究分担者と研究を進めた。(i)のテーマにおいて、装置の構築、実験を遂行した。光ディスクの超解像再生と言われる現象について、熔融状態がこの現象のもとであるということを実験的に初めて明らかにし、かつ現象が起こる温度をラマン散乱を用いて解析を行った。(ii)のテーマに置いて、高温熔融状態材料の揮発・酸化が大きな問題であったが、それらを防止する試料準備法を確立した。Sb2Te3の熔融状態で電気・熱伝導率測定を行い、その値を求めることに成功した。現在は、更に広い温度範囲への対応、高精度な測定を実行中である。光学定数測定では新たな装置を設計し、製作を開始した。現在ほぼ完成し、測定を行っている。近接場光によるデバイス評価に着手し、ナノ領域での結晶構造評価や温度測定を目標に基本的な検討を行なっている。相変化メモリーデバイスの作製がうまく行かず、現在電子線描画装置により、改良を加えたデバイスを作製中である。デバイスができ次第、測定が実行できる体制となっている。また当初の計画にはなかったが、カルコゲンのSTM発光分光測定、カルコゲン材料を用いた新規光学素子の開発を進めた。STM発光分光測定においては、実験が進み、その発光機構等を議論し論文にまとめた。引き続き東北大学の上原教授と研究を進める。カルコゲン材料を用いた新規光学素子の開発では、レーザー光によるスイッチ動作を目指したが、現在のところ動作していない。引き続き、レーザー光によるスイッチ動作を進めるが、電気的に動作をさせる方法も検討して行く。
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[Journal Article] Measurement of Refractive Index, Specific Heat Capacity, and Thermal Conductivity for Ag-In-Sb-Te at High Temperature2009
Author(s)
M.Kuwahara, O.Suzuki, K.Tsutsumi, T.Yagi, N.Taketoshi, H.Kato, R.Simpson, M.Suzuki, J.Tominaga, T.Baba
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Journal Title
Jpn.J.Appl.Phys. 48
Pages: 05EC02-3
Peer Reviewed
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