2009 Fiscal Year Annual Research Report
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20500094
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| Research Institution | Hiroshima University |
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Principal Investigator |
金田 和文 Hiroshima University, 大学院・工学研究科, 教授 (30185946)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
玉木 徹 広島大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (10333494)
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| Keywords | グラフィックス / フォトリアリスティックレンダリング / 散乱現象 |
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| Research Abstract |
従来の画像レベルでの写実性を超えた、超写実性光学表現を可能とする表面下散乱モデルを構築することを目的とし、本年度は、表面下散乱数値シミュレーションと表面下散乱現象の実写画像との比較検討ならびにHDR画像表現を指向した表面下散乱表示モデルの開発を行った。
1. 表面下散乱数値シミュレーションと表面下散乱現象の実写画像との比較検討:昨年度実施した表面下散乱現象の実写画像取得をさらに高精度化をはかり、光線の入射角度を変えたときの表面下散乱による輝度ピーク位置の移動量や輝度分布形状の変化などを計測した。そしそ、本研究課題で開発した表面下散乱数値シミュレーションの結果との定性的ならびに定量的な比較・検討を行った。
2. 表面下散乱表示モデルの開発:表面下散乱数値シミュレーションより得られた光線の入射角や物質パラメータの異なる2つの表面下放射照度分布から、それらの中間のパラメータ値における表面下放射照度分布を補間によって求める手法を新たに開発した。物質表面上の位置に基づいて放射照度値を補間するのではなく、光線入射点の上部に設置した仮想光源位置に基づくパラメータ空間に再パラメータ化して補間することにより、HDR画像表現に利用可能となる高精度な放射照度値を算出することができる。この手法を用いることにより高速表示に適した表面下散乱表示モデルを構築することが可能である。
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Research Products
(1 results)
