2008 Fiscal Year Annual Research Report
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20560621
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| Research Institution | National Institute for Materials Science |
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Principal Investigator |
長島 伸夫 National Institute for Materials Science, 材料信頼性センター, 主任研究員 (30354252)
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
早川 正夫 独立行政法人物質・材料研究機構, 材料信頼性センター, 主任研究員 (50354254)
足立 吉隆 独立行政法人物質・材料研究機構, 材料ラボ, 主幹研究員 (90370311)
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| Keywords | 応力腐食割れ / 微小硬さ試験 / 原子間力顕微鏡 / SEM / EBSD / 小型引張試験 |
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| Research Abstract |
これまで、我々は小型引張試験片を用いて、工学的な降伏応力に相当する塑性ひずみ0.2%を与える引張試験を実施し、こららの試験片表面の微小硬さ測定並びに、原子間力顕微鏡(AFM)観察を実施した。
本年度は、電子線後方散乱解析(EBSD)法により、低炭素オーステナイト系ステンレス鋼SUS316Lの変形挙動を解析するため、新たにSEM中で引張試験が可能な小型引張試験ステージを開発した。この小型引張試験ステージを用いることにより、引張試験中のSEM観察並びにEBSD解析が可能であり、粒界・粒内の不均一変形のその場観察を実現することができる。まず、この小型引張試験ステージに取り付けた試験片中央部の走査型電子顕微鏡(SEM)観察、およびEBSD解析が可能な様に、試料ステージと電子ビームの光軸調整を整えた。さらに、応力-ひずみ曲線の妥当性を確かめ、小型引張試験ステージに最適な試験片形状についても検討した。
来年度は、低炭素オーステナイト系ステンレス鋼SUS316Lの小型引張試験片を作成し、小型引張試験ステージに取り付け、引張試験中のSEM観察及びEBSD解析を実施し、粒界・粒内における不均一変形について解析し、EBSD解析を実施した同一位置について、微小硬さ試験による硬さ測定を行い、組織解析ならびに力学検討を加える。
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