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2009 Fiscal Year Annual Research Report

元素分析AFM装置XANAMの開発

Research Project

Project/Area Number 20686004
Research InstitutionNagoya University

Principal Investigator

鈴木 秀士  Nagoya University, 工学研究科結晶材料工学専攻, 准教授 (30322853)

Keywords表面元素分析 / 非接触原子間力顕微鏡 / 放射光X線 / 水晶振動子 / X線支援非接触原子間力顕微鏡 / XANAM
Research Abstract

本年は昨年に引き続き、二次元画像化をのための装置改良を行った。
1、QTF型AFMプローブに変更すれば格段の性能向上が期待できると考え、変更改良を行った。QTFは市販の32kHz音叉型水晶振動子(CMAC製φ2mm×6mm)を使用して、水晶振動子部分のパッケージングを除去し、音叉の片側に細線15□mの金属細線をマイクロマニピュレータで取り付けることで、新しいNC-AFMプローブを製作した。また新プローブを、名古屋大学と高エネルギー加速器研究機構で検査するためのテストシステムの作成を行った。しかし、本年度は以上の改良にもかかわらず、残念ながら分解能を向上したデータを出ることができなかった。この原因は金属細線の取り付けと先端処理が最適にできなかったためと分析した。本年度の予定が遅れてしまったが、本研究の根幹であることから、来年度引き続き行うものとする。具体的には、金属細線の前処理過程の改良を行う。
2、これまで測定試料の作成は、外部の別装置を用いて行う仕様であった。また金属蒸着ソースも一つしかなく、一回の実験では一つの元素種のみの実験が行える仕様であった。今年度はこれを改良し、新たに3元蒸着系の取り付けをおこなった。
3. これまでの蒸着試料に加え、新たな方法でXANAM試料を作成した。イオン液体という室温でも液体である塩に対してプラズマ蒸着を行うと均一粒径を持つナノ粒子がイオン液体中に生成する。このナノ粒子をHOPG、TiO2単結晶基板に固定化して、試料として使用した。これまでのところ、粒径が5nm程度であるため、分解能評価に有利に有利な試料であることが判明した。2の試料と合わせ、XANAM試料として今後の研究に使用する事にした。

  • Research Products

    (12 results)

All 2010 2009

All Journal Article (2 results) (of which Peer Reviewed: 2 results) Presentation (10 results)

  • [Journal Article] STM Studies on the Reconstruction of the Ni_2P(10-10) Surface2010

    • Author(s)
      D.H.Guo, S.Suzuki, K.Asakura, et al.
    • Journal Title

      Surf. Science (in press)

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Scanning Tunneling Microscopy and Photoemission Electron Microscopy Studies on Single Crystal Ni_2P Surfaces2009

    • Author(s)
      S.Suzuki, K, Aasakura, et al.
    • Journal Title

      Journal of Nanoscience and Nanotechnology 9

      Pages: 195-201

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] イオン液体へのスパッタ蒸着によるPd系合金ナノ粒子の作製とエタノール酸化活性の評価2010

    • Author(s)
      平野公則、岡崎健一、鈴木秀士、桑畑進、鳥本司
    • Organizer
      日本化学会第90春季年会(2010)
    • Place of Presentation
      近畿大学
    • Year and Date
      2010-03-29
  • [Presentation] イオン液体・金属スパッタリング法により合成した金属ナノ粒子の金属酸化物基板への固定化2010

    • Author(s)
      太田康弘、鈴木秀士、岡崎健一、鳥本司
    • Organizer
      第57回 応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      東海大学
    • Year and Date
      2010-03-19
  • [Presentation] SPMによる酸化物・燐化物触媒表面分析2010

    • Author(s)
      鈴木秀士
    • Organizer
      第9回「プローブ顕微鏡(SPM)による表面分析研究会」
    • Place of Presentation
      桜華会館(名古屋)
    • Year and Date
      2010-02-10
  • [Presentation] Nano-Chemical Analysis on metal/oxide surfaces by means of XANAM2010

    • Author(s)
      Suzuki, S.、Nakagawa, Y.、Kinoshita, K、Fujikawa, K.、Chun, W.-J.、Nomura, M.、Asakura, K.
    • Organizer
      7th International Workshop on Oxide Surfaces (IWOX-VII)
    • Place of Presentation
      Echigo-Yuzawa, Japan NASPAニューオータニ
    • Year and Date
      2010-01-14
  • [Presentation] Atomically dispersed Cu species on a precovered TiO2(110) surface with acetic anhydride2010

    • Author(s)
      Chun, W.-J.、Koike, Y.、Ashima, H.、 Kinoshita, K、Ijima, K.、Fujikawa, K.、Suzuki, S.、Nomura, M.、Iwasawa, Y.、Asakura, K.
    • Organizer
      7th International Workshop on Oxide Surfaces (IWOX-VII)
    • Place of Presentation
      Echigo-Yuzawa, Japan NASPAニューオータニ
    • Year and Date
      2010-01-12
  • [Presentation] 走査探針顕微鏡法・顕微分光法による触媒表面分析2009

    • Author(s)
      鈴木秀士
    • Organizer
      日本セラミックス協会東海支部 第39回東海若手セラミスト懇話会
    • Place of Presentation
      名古屋大学
    • Year and Date
      2009-10-30
  • [Presentation] 非接触原子間力顕微鏡と放射光X線による触媒表面のナノ化学分析2009

    • Author(s)
      鈴木秀士
    • Organizer
      第29回表面科学学術講演会 触媒表面科学部会セッション「走査プローブを活用した触媒表面科学」
    • Place of Presentation
      タワーホール船堀
    • Year and Date
      2009-10-29
  • [Presentation] X線支援非接触原子間力顕微鏡(XANAM)による触媒表面の元素分析2009

    • Author(s)
      鈴木秀士、中川雄太、木下久美子、小池祐一郎、藤川敬介、田旺帝、鳥本司、野村昌治、朝倉清高
    • Organizer
      第104回触媒討論会
    • Place of Presentation
      宮崎大学
    • Year and Date
      2009-09-30
  • [Presentation] イオン液体へのスパッタ蒸着により作成したAuPdナノ粒子の電極触媒活性2009

    • Author(s)
      平野公則、岡崎健一、鈴木秀士、鳥本司
    • Organizer
      2009年電気化学秋季大会
    • Place of Presentation
      東京農工大学
    • Year and Date
      2009-09-11
  • [Presentation] X線支援非接触原子間力顕微鏡(XANAM)測定における試料バイアス電圧の影響2009

    • Author(s)
      鈴木秀士、中川雄太、木下久美子、小池祐一郎、藤川敬介、田旺帝、野村昌治、朝倉清高
    • Organizer
      第70回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      富山大学
    • Year and Date
      2009-09-09

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Published: 2011-06-16   Modified: 2016-04-21  

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