2008 Fiscal Year Annual Research Report
安全性と製造検査容易性の両立したLSI設計方法の研究法の研究
| Project/Area Number |
20700050
|
|---|
| Research Institution | Kyushu University |
|---|
Principal Investigator |
吉村 正義 Kyushu University, システム情報科学研究院, 助教 (90452820)
|
|---|
| Keywords | ディペンダブル・コンピューティング / 暗号・認証等 / テスト容易化設計 / システムLSI / 安全性 |
|---|
| Research Abstract |
今年度は4つの研究目標に対して、それぞれ以下のような研究を行った。
(1) 秘密情報の安全性を阻害する要因の明確化
秘密情報が搭載されるLSIにおいて、安全性を担保する回路のアーキテクチャを抽出し、まずアーキテクチャのどの構成要素が秘密情報の秘匿に貢献しているかの解析および評価を行った。具体的には標準的な暗号回路であるAESを例にとって解析と評価を行った。
(2) 製造検査容易性を推定および計測技術の確立
秘密情報を保持するために、1)で検討したアーキテクチャの当該部分をノンスキャン設計とした回路に対しての製造検査容易性に対する評価を行った。具体的には、順序回路故障シミュレータを用いて、検査用のパタンを入力し、評価指標のひとつである故障検出率を求めた。
(3) 検査系列自動生成技術開発
可制御性と可観測性がないノンスキャンの回路に対する検査系列自動生成技術の検討を行った。そこでは機能的時間展開モデルを用いて、検査系列の生成を行った.また検査系列の生成の難易度が変化するかの評価を行った。
|
