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2009 Fiscal Year Annual Research Report

安全性と製造検査容易性の両立したLSI設計方法の研究法の研究

Research Project

Project/Area Number 20700050
Research InstitutionKyushu University

Principal Investigator

吉村 正義  Kyushu University, システム情報科学研究院, 助教 (90452820)

Keywordsディペンダブル・コンピユーフィング / 暗号・認証等 / テスト容易化設計 / システムLSI / 安全性
Research Abstract

今年度は4つの研究目標に対して、それぞれ以下のような研究を行った。
(1) 秘密情報の安全性の定量化と安全性を阻害する要因の明確化
秘密情報が搭載されるLSIにおいて、安全性を定量的に測定するために、相互情報量を用いた尺度を提案した。その尺度に基づいて、安全性を阻害する要因を定量的に評価した。
また秘密情報が搭載されるLSIにおいて、安全性を担保する回路のアーキテクチャを抽出し、まずアーキテクチャのどの構成要素が秘密情報の秘匿に貢献しているかの解析および評価を行った。具体的には共通鍵方式の標準的な暗号回路であるRSAを例にとって解析と評価を行った。
(2) 製造検査容易性を推定および計測技術の確立
秘密情報を保持するために、1) で検討したアーキテクチャの当該部分をノンスキャン設計とした回路に対しての製造検査容易性に対する評価を行った。具体的には、順序回路故障シミュレータを用いて、検査用のパタンを入力し、評価指標のひとつである故障検出率を求めた。また機能とは別に製造テストのみに用いるテストポイント挿入技術を用いて、秘密保持性を維持しつつ、検査容易性を向上させる技術を提案し、評価を行った。
(3) 検査系列自動生成技術開発
可制御性と可観測性がないノンスキャンの回路に対する検査系列自動生成技術の検討を行った。そこでは機能的時間展開モデルを用いて、検査系列の生成を行った.また検査系列の生成の難易度が変化するかの評価を行った。

  • Research Products

    (14 results)

All 2010 2009

All Presentation (14 results)

  • [Presentation] 順序回路のソフトエラー耐性評価手法の状態数削減による高速化2010

    • Author(s)
      赤峰悠介
    • Organizer
      VLSI設計技術研究会
    • Place of Presentation
      沖縄県男女共同参画センター
    • Year and Date
      2010-03-12
  • [Presentation] マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析2010

    • Author(s)
      小河宏志
    • Organizer
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Place of Presentation
      機械振興会館
    • Year and Date
      2010-02-15
  • [Presentation] 遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法2010

    • Author(s)
      湯本仁高
    • Organizer
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Place of Presentation
      機械振興会館
    • Year and Date
      2010-02-15
  • [Presentation] RSA暗号回路の安全なテスト容易化設計2009

    • Author(s)
      早川鉄平
    • Organizer
      デザインガイア2009
    • Place of Presentation
      高知市文化プラザ
    • Year and Date
      2009-12-04
  • [Presentation] テスト圧縮指向ドントケア抽出法2009

    • Author(s)
      若園大洋
    • Organizer
      デザインガイア2009
    • Place of Presentation
      高知市文化プラザ
    • Year and Date
      2009-12-04
  • [Presentation] スキャンベース攻撃とその防御法に対する定量的なセキュリティ評価2009

    • Author(s)
      伊藤侑磨
    • Organizer
      デザインガイア2009
    • Place of Presentation
      高知市文化プラザ
    • Year and Date
      2009-12-03
  • [Presentation] 順序回路のソフトエラー耐性評価における近似手法の計算精度および実行時間の評価2009

    • Author(s)
      赤峰悠介
    • Organizer
      デザインガイア2009
    • Place of Presentation
      高知市文化プラザ
    • Year and Date
      2009-12-03
  • [Presentation] マルコフモデルを用いた順序回路のソフトエラー耐性評価手法2009

    • Author(s)
      赤峰悠介
    • Organizer
      DAシンポジウム2009
    • Place of Presentation
      ホテルアローレ
    • Year and Date
      2009-08-26
  • [Presentation] タイミング冗長故障判定を考慮した遷移故障テスト生成法2009

    • Author(s)
      小河宏志
    • Organizer
      第61回FTC研究会
    • Place of Presentation
      奥伊勢フォレストピア
    • Year and Date
      2009-07-17
  • [Presentation] ケアビット分布制御のためのドントケア抽出技術2009

    • Author(s)
      若園大洋
    • Organizer
      第61回FTC研究会
    • Place of Presentation
      奥伊勢フォレストピア
    • Year and Date
      2009-07-17
  • [Presentation] テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法2009

    • Author(s)
      小河宏志
    • Organizer
      VLSI設計技術研究会
    • Place of Presentation
      北九州国際会議場
    • Year and Date
      2009-05-20
  • [Presentation] SER評価のための論理回路におけるパルスの伝搬解析2009

    • Author(s)
      原田翔次
    • Organizer
      ディペンダプルコンピューティング研究会
    • Place of Presentation
      首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス
    • Year and Date
      2009-04-21
  • [Presentation] 算術演算器を含む回路に対する高速なソフトエラー率評価手法2009

    • Author(s)
      平田元春
    • Organizer
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Place of Presentation
      首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス
    • Year and Date
      2009-04-21
  • [Presentation] セルベース設計に適したSER評価の為のパルス発生確率解析手法2009

    • Author(s)
      小津和大昌
    • Organizer
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Place of Presentation
      首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス
    • Year and Date
      2009-04-21

URL: 

Published: 2011-06-16   Modified: 2016-04-21  

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