ブラックホールにX線でズームイン：新概念干渉計の基礎開発と偏光・超高精度分光観測

2020 Fiscal Year Comments on the Screening Results

• Project/Area Number: 20H00176
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
• Allocation Type: Single-year Grants
• Section: 一般
• Review Section: Medium-sized Section 16:Astronomy and related fields
• Research Institution: Osaka University
• Principal Investigator: 林田 清 大阪大学, 理学研究科, 准教授 (30222227)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 寺島 雄一 愛媛大学, 理工学研究科(理学系), 教授 (20392813) ; 粟木 久光 愛媛大学, 理工学研究科(理学系), 教授 (30252414) ; 川口 俊宏 尾道市立大学, 経済情報学部, 准教授 (60433695)
• Project Period (FY): 2020-04-01 – 2024-03-31

Outline of Opinions Expressed in the Review Results

X線で0.1秒角を切る高角度分解能観測を実現するために、独自のアイデアに基づくX線タルボ効果干渉計の開発を行う。実験室での実証実験では0.08秒角の分解能が達成されており、その成果を発展させ、衛星搭載を想定した開発研究を進める。また高角度分解能観測のターゲットとなる活動銀河中心核のトーラス領域のX線観測を行う。
活動銀河中心核の高解像度観測をはじめとし、高い空間分解能でのX線観測を実現することで切り開かれる分野は幅広く、高解像度観測を新しい手法で実現する意義は大きい。衛星搭載を想定して新しい干渉計の開発と概念設計を進めることで、堅実な衛星計画の提案に結び付く基盤研究となることが期待される。