• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2021 Fiscal Year Annual Research Report

原子レベルで酸素欠損制御したナノラミネート複合機能膜と巨大誘電率の発現メカニズム

Research Project

Project/Area Number 20H02189
Research InstitutionNational Institute for Materials Science

Principal Investigator

生田目 俊秀  国立研究開発法人物質・材料研究機構, 技術開発・共用部門, グループリーダー (10551343)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 池田 直樹  国立研究開発法人物質・材料研究機構, 技術開発・共用部門, 主任エンジニア (10415771)
大井 暁彦  国立研究開発法人物質・材料研究機構, 技術開発・共用部門, 主任エンジニア (20370364)
塚越 一仁  国立研究開発法人物質・材料研究機構, 国際ナノアーキテクトニクス研究拠点, MANA主任研究者 (50322665)
Project Period (FY) 2020-04-01 – 2024-03-31
Keywords原子層堆積法 / ナノラミネート構造 / ZrO2 / 積層膜 / Al2O3 / キャパシタ / 電気特性 / 誘電率
Outline of Annual Research Achievements

目的とする酸化アルミニウム(Al2O3)ナノ層と異種金属酸化物ナノ層をプログラムして積層したナノラミネート(=超格子形状)超構造の複合機能性膜について、2020年度に探索した材料に加えて、候補材料としてZrO2/Al2O3またはAl2O3/ZrO2積層構造を選択した。ZrO2のALD原料として(C5H5)Zr[N(CH3)2]3を選択してALDで薄膜形成して、その薄膜の膜厚を分光エリプソで測定することで、ALDサイクル当りの成長速度を求めた。この成長速度を基にして、Al2O3膜の膜厚を2.0 nm一定としてZrO2膜の膜厚を2.9~5.7 nmと変えたZrO2/Al2O3またはAl2O3/ZrO2積層膜を作製した。この積層膜を絶縁膜に用いた上下電極がTiNのキャパシタの作製において、先ず、電極サイズを変えたパターンのマスクを設計・作製した。このマスクを用いて、TiN/ZrO2/Al2O3/TiNまたは、TiN/Al2O3/ZrO2/TiNキャパシタを作製した。微小容量を測定できる電気伝導システムを昨年度の初期版から更に改良した。このシステムを用いて、暗所・室温におけるC-V及びI-V測定した結果、ZrO2/Al2O3積層構造でZrO2膜の誘電率がAl2O3/ZrO2積層構造に比べて約7向上する事を見出した。
2020年度からの継続として、(HfO2)m/(Al2O3)n、(HfO2)m/(SiO2)nのナノラミネートをGaNパワーデバイスの絶縁膜として用いた継続研究で、電気特性より絶縁膜の固定電荷は無視できるぐらい小さく、主に、GaN/絶縁膜の界面に、欠陥起因の固定電荷が存在することが分かった。
もう一つの継続研究であるHfZrOx強誘電体膜では、この業界の課題であった低温度形成で、ALDの酸化剤としてプラズマ酸素を用いる事で、300℃で優れた強誘電体特性を得る事ができた。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

昨年度に検討した候補材料へ追加したZrO2/Al2O3またはAl2O3/ZrO2積層構造の研究で、組み合わせによって、ZrO2膜の誘電率が異なる事が分かった。1つの仮設そして、結晶化段階のストレスが結晶構造の成長へ起因しているモデルを提案できた。
継続研究の(HfO2)m/(Al2O3)n、(HfO2)m/(SiO2)nのナノラミネートを用いたGaNパワーデバイス及びHfZrOx強誘電体膜、各々、その分野では注目される成果を挙げられた。

Strategy for Future Research Activity

2021年度で見出したZrO2/Al2O3またはAl2O3/ZrO2積層構造によるZrO2膜の高誘電率化を基に、更なる誘電率の向上を狙って、ZrO2膜への元素ドープを検討するなど、新たなナノラミネート構造の材料設計へ繋げる。

  • Research Products

    (13 results)

All 2022 2021

All Journal Article (4 results) (of which Peer Reviewed: 4 results) Presentation (9 results) (of which Int'l Joint Research: 7 results,  Invited: 2 results)

  • [Journal Article] Influence of HfO2 and SiO2 interfacial layers on the characteristics of n-GaN/HfSiOx capacitors using plasma-enhanced atomic layer deposition2021

    • Author(s)
      Nabatame Toshihide、Maeda Erika、Inoue Mari、Hirose Masafumi、Irokawa Yoshihiro、Ohi Akihiko、Ikeda Naoki、Onaya Takashi、Shiozaki Koji、Ochi Ryota、Hashizume Tamotsu、Koide Yasuo
    • Journal Title

      Journal of Vacuum Science &Technology A

      Volume: 39 Pages: 062405~062405

    • DOI

      10.1116/6.0001334

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Study of SiO2 Interfacial Layer Growth during Fabrication Process of Ferroelectric HfxZ1-xO2-Based Metal-Ferroelectric Semiconductor2021

    • Author(s)
      Onaya Takashi、Nabatame Toshihide、Inoue Mari、Sawada Tomomi、Ota Hiroyuki、Morita Yukinori
    • Journal Title

      ECS Transactions

      Volume: 104 Pages: 129~135

    • DOI

      10.1149/10404.0129ecst

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] (Invited) Study of HfO2-Based High-k Gate Insulators for GaN Power Device2021

    • Author(s)
      Nabatame Toshihide、Maeda Erika、Inoue Mari、Hirose Masafumi、Ochi Ryota、Sawada Tomomi、Irokawa Yoshihiro、Hashizume Tamotsu、Shiozaki Koji、Onaya Takashi、Tsukagoshi Kazuhito、Koide Yasuo
    • Journal Title

      ECS Transactions

      Volume: 104 Pages: 113~120

    • DOI

      10.1149/10404.0113ecst

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Importance of Annealing Step on Dielectric Constant of ZrO2 Layer of MIM Capacitors with Al2O3/ZrO2 and ZrO2/Al2O3 Stack Structures2021

    • Author(s)
      Sawada Tomomi、Nabatame Toshihide、Onaya Takashi、Inoue Mari、Ohi Akihiko、Ikeda Naoki、Tsukagoshi Kazuhito
    • Journal Title

      ECS Transactions

      Volume: 104 Pages: 121~128

    • DOI

      10.1149/10404.0121ecst

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 強誘電性の向上へ向けたTiN/HfxZr1-xO2界面のTiOxNy層の重要性2022

    • Author(s)
      女屋 崇, 生田目 俊秀, 長田 貴弘, 上田 茂典, Yong Chan Jung, Heber Hernandez-Arriaga, Jaidah Mohan, Jiyoung Kim, Chang-Yong Nam, Esther H. R. Tsai, 太田 裕之, 森田 行則
    • Organizer
      第27回 電子デバイス界面テクノロジー研究会. 2022
  • [Presentation] Study of HfSiOx film as gate insulator for GaN power device2021

    • Author(s)
      Toshihide Nabatame, Erika Maeda, Mari Inoue, Ryota Ochi, Yasuhiro Irokawa, Tamotsu Hashizume, Koji Shiozaki, Yasuo Koide
    • Organizer
      20th International Workshop on Junction Technology 2021
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Effect of Ti Scavenging Layer on Ferroelectricity of HfxZr1-xO2 Thin Films Fabricated by Atomic Layer Deposition Using Hf/Zr Cocktail Precursor2021

    • Author(s)
      Takashi Onaya, Toshihide Nabatame, Naomi, Sawamoto, Akihiko Ohi, Naoki Ikeda, Takahiro Nagata, Atsushi Ogura
    • Organizer
      AVS 21st International Conference on Atomic Layer Deposition (ALD 2021)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Study of SiO2 growth mechanism between a single SiO2 and (HfO2)/(SiO2) nanolaminate formation by ALD using TDMAS and H2O gas2021

    • Author(s)
      Toshihide Nabatame, Mari Inoue, Erika Maeda, Takashi Onaya, Masashi Hirose, Riku Kobayashi, Akihiko Ohi, Naoki Ikeda, Kazuhito Tsukagoshi
    • Organizer
      21st International Conference on Atomic Layer Deposition. 2021
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Investigation of HfSiOx gate insulator formed by changing fabrication process conditions for GaN power device2021

    • Author(s)
      Toshihide Nabatame, Erika Maeda, Mari Inoue, Masashi Hirose, Ryota Ochi, Yasuhiro Irokawa, Tamotsu Hashizume, Koji Shiozaki, Yasuo Koide
    • Organizer
      2021 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD 2021)
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] TiN/HfxZr1-xO2/Si-MFS作製におけるSiO2界面層成長の抑制2021

    • Author(s)
      女屋 崇, 生田目 俊秀, 井上 万里, 澤田 朋実, 太田 裕之, 森田 行則
    • Organizer
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
  • [Presentation] Study of SiO2 Interfacial Layer Growth during Fabrication Process of Ferroelectric HfxZr1-xO2-Based Metal-Ferroelectric-Semiconductor2021

    • Author(s)
      Takashi Onaya, Toshihide Nabatame, Mari Inoue, Tomomi Sawada, Hiroyuki Ota, Yukinori Morita
    • Organizer
      240th ECS Meeting
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] mportance of Annealing Step on Dielectric Constant of ZrO2 Layer of MIM Capacitors with Al2O3/ZrO2 and ZrO2/Al2O3 Stack Structures2021

    • Author(s)
      Sawada Tomomi、Nabatame Toshihide、Onaya Takashi、Inoue Mari、Ohi Akihiko、Ikeda Naoki、Tsukagoshi Kazuhito
    • Organizer
      240th ECS Meeting
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Study of HfO2-based High-k gate insulators for GaN power device2021

    • Author(s)
      Nabatame Toshihide、Maeda Erika、Inoue Mari、Hirose Masafumi、Ochi Ryota、Sawada Tomomi、Irokawa Yoshihiro、Hashizume Tamotsu、Shiozaki Koji、Onaya Takashi、Tsukagoshi Kazuhito、Koide Yasuo
    • Organizer
      240th ECS Meeting
    • Int'l Joint Research

URL: 

Published: 2022-12-28  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi