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2020 Fiscal Year Annual Research Report

ハードソフト連携・精緻な電子制御による不揮発性メモリシステムのエラー最小化の研究

Research Project

Project/Area Number 20H04159
Research InstitutionThe University of Tokyo

Principal Investigator

竹内 健  東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 教授 (80463892)

Project Period (FY) 2020-04-01 – 2024-03-31
Keywords不揮発性メモリ / 機械学習 / AI
Outline of Annual Research Achievements

本研究では、ナノスケールの大容量不揮発性メモリに対し、隣接メモリ間の電子の移動・電荷蓄積層からチャネルへの電子のリーク・メモリサイズの製造ばらつきなど、不揮発性メモリの本質的な課題であるメモリのエラーを、機械学習や新コーディングを用いた精緻な制御で抑制する。メモリデバイス・メモリコントローラのハード・ソフト全体を不揮発性メモリに向けて連携・融合させることで、メモリのエラーを極限まで減らし、データ保持等の寿命を最大限に高める。機械学習による制御を更に発展させ、不揮発性メモリをフルに活用した高速・低電力・高信頼な機械学習の処理・記憶システムを創造する。本年度は電荷がリークするメモリをニューラルネットワークのニューロンに活用できることを提案。メモリのチャネル長、チャネル幅、ゲート酸化膜の厚さをデザインすることで、ナノスケールのメモリが示す量子力学的な統計的な挙動を考慮することで、リーク電流を制御できることを示した。研究成果を6th Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM 2022)で発表し、Best Paper Awardを受賞した。研究成果を査読付きのIEEE主催の国際会議で3件、国内学会で1件の論文発表を行った。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

1: Research has progressed more than it was originally planned.

Reason

当初の想定に反し、ナノスケールメモリが示す量子力学的な統計的な挙動の制御により、近年市場の成長が著しいニューラルネットワーク、AIの応用にナノスケールメモリが活用できることが判明した。このような当初の予定にない新たな知見を活用することで、研究を加速することに成功し、当初予定した内容も十分な成果を挙げつつ、全体としては当初の想定以上の成果を出している。

Strategy for Future Research Activity

ナノスケールメモリの量子力学的な統計的な挙動をより一層活用し、不揮発性メモリをフルに活用した高速・低電力・高信頼な機械学習の処理・記憶システムを創造することに貢献する。特にSpiking Neural Networkや量子誤り訂正など今後重要となる新コンピューティングに着目し、ナノスケールメモリを活用したインメモリ・コンピューティングを探求する。

  • Research Products

    (4 results)

All 2022 2021

All Presentation (4 results) (of which Int'l Joint Research: 3 results)

  • [Presentation] Inter Spike Interval and Stochasticity Engineering of Floating Gate Technology-based Neurons for Spiking Neural Network Hardware2022

    • Author(s)
      Akira Goda, Chihiro Matsui and Ken Takeuchi
    • Organizer
      6th IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing (EDTM) Conference 2022
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Spiking Neural Network (SNN) ハードウェア向けフローティングゲート型 Stochastic ニューロン2022

    • Author(s)
      合田晃, 松井千尋, 竹内健
    • Organizer
      第69回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] BER Evaluation System Considering Device Characteristics of TLC and QLC NAND Flash Memories in Hybrid SSDs with Real Storage Workloads2021

    • Author(s)
      Mamoru Fukuchi, Shun Suzuki, Kyosuke Maeda, Chihiro Matsui and Ken Takeuchi
    • Organizer
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Error Suppression of Last-Programmed Word-Line for Real Usage of 3D-NAND Flash Memory2021

    • Author(s)
      Daiki Kojima and Ken Takeuchi
    • Organizer
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • Int'l Joint Research

URL: 

Published: 2022-12-28  

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