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2018 Fiscal Year Annual Research Report

Development of technology for fast energy conversion between electrons and phonons towards emerging phono-electronics

Research Project

Project/Area Number 17H06211
Allocation TypeSingle-year Grants
Research InstitutionShizuoka University

Principal Investigator

小野 行徳  静岡大学, 電子工学研究所, 教授 (80374073)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) Moraru Daniel  静岡大学, 電子工学研究所, 准教授 (60549715)
Project Period (FY) 2017-06-30 – 2022-03-31
Keywordsフォノン / エネルギー散逸 / シリコン
Outline of Annual Research Achievements

本研究の主題は、「ホットキャリアから放出された高エネルギーフォノンが低エネルギー熱フォノンに分解し、エネルギーが拡散(散逸)するより速く、そのエネルギーを電子エネルギーに再変換する」というものである。その時間スケールは1 ー 100 psであり、MOSトランジスタのスイッチング時間と同程度である。したがって本研究では、このような高速な電子系―格子系エネルギー変換のための二つの基幹技術を構築することが大きな目標の一つとなる。
今年度、電子流体効果をシリコンにおいてはじめて観測し、フォノンによるエネルギー散逸を避けて電流増幅が可能であることを示した(Nature Communications. 2018)。この結果は、本来、電子の流れの中で熱として散逸するエネルギーを電子―電子散乱を用いて他の電子に移送することにより、電流増幅を実現するというものであり、電子―格子系エネルギー変換において、電子―電子散乱が本質的に重要な役割を担っていることを示している。同時に、新たな低消費電力デバイスの可能性を示すものである。
また、ホットキャリアから生成される電子・正孔対(インパクト・イオン化)を単一事象レベルで検出する手法を提案し、その基本要素である単一正孔の検出に成功した(Applied Physics Letters, 2018)。この結果は、インパクト・イオン化の逆過程であるバンド間オージェ散乱と組み合わせることにより、新たなエネルギー散逸制御手法を提示するものであり、今後のフォノン制御技術確立のためにも重要な知見となる。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

1: Research has progressed more than it was originally planned.

Reason

概要の項に記したように、電子-電子散乱を用いたフォノン放出制御可能性を示す結果が新たに得られており、予想外の成果を得ることができた。同結果は、Nature Communicationsに採択され、報道発表を行うとともに、日本経済新聞等に研究成果が掲載された。
また、ホットキャリアから生成される電子・正孔対を単一事象レベルで検出する手法を提案し、同結果を、Applied Physics Letters誌に投稿し採択された。この結果は、エネルギー散逸制御の新たな手法を提示するこのであり、今後のフォノン制御技術確立のための重要な知見となる。

Strategy for Future Research Activity

今後は、本年度の結果を受けて、ナノスケールでの電子―電子散乱とエネルギー散逸既報との関係を詳細に調べる。特に、デバイス動作の高温化(現在は8ケルビン)のための、散乱阻害要因を明らかにする。また、高速制御技術確立のために、MOS電子系の短時間パルス電流発生技術の確立に取り組む。本計画において、代表者小野は、測定系構築と測定を担務する。一方、分担者モラルはデバイス試作を担務する。

  • Research Products

    (12 results)

All 2019 2018 Other

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results,  Open Access: 1 results) Presentation (8 results) (of which Int'l Joint Research: 4 results,  Invited: 3 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Electron Aspirator using Electron-electron Scattering in Nanoscale Silicon2018

    • Author(s)
      H. Firdaus, T. Watanabe, M. Hori, D. Moraru, Y. Takahashi, A. Fujiwara, Y. Ono
    • Journal Title

      Nature Communications

      Volume: 9 Pages: 4813_1-8

    • DOI

      10.1038/s41467-018-07278-8

    • Peer Reviewed / Open Access
  • [Journal Article] Detection of single holes generated by impact ionization in silicon2018

    • Author(s)
      H. Firdaus, T. Watanabe, M. Hori, D. Moraru, Y. Takahashi, A. Fujiwara, Y. Ono
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: 113 Pages: 163103_1-4

    • DOI

      10.1063/1.5046865

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Detection and Characterization of Single Near-Interface Oxide Traps with the Charge Pumping Method2018

    • Author(s)
      T. Tsuchiya, M. Hori, Y. Ono
    • Journal Title

      Proceedings of 2018 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)

      Volume: - Pages: 1-4

    • DOI

      10.1109/IPFA.2018.8452495

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Effect of dimensionality on the formation of dopant-induced quantum-dots in heavily doped Si Esaki diodes2019

    • Author(s)
      G.Prabhudesai, M.Manoharan, M.Hori, Y.Ono, H.Mizuta, M.Tabe, D.Moraru
    • Organizer
      2019年 第66回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] 2トラップ間のチャージポンピング相互作用2019

    • Author(s)
      土屋敏章, 堀匡寛, 小野行徳
    • Organizer
      2019年 第66回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] シリコンMOS界面におけるチャージポンピングEDMR2019

    • Author(s)
      堀匡寛, 土屋敏章, 小野行徳
    • Organizer
      2019年 第66回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] Electron-electron scattering in nano-scaled sillicon2019

    • Author(s)
      Yukinori Ono
    • Organizer
      5th International Conference on Nanoscience and Nanotechnology(ICONN2019)
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Charge pumping EDMR on silicon MOSFETs2019

    • Author(s)
      M. Hori, Y. Ono
    • Organizer
      5th International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN2019)
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] チャージポンピングEDMR法を用いたSiO2/Si界面の欠陥検出2018

    • Author(s)
      堀匡寛,小野行徳
    • Organizer
      2018年日本表面真空学会中部支部研究会
    • Invited
  • [Presentation] Remote Detection of Holes Generated by Impact Ionization2018

    • Author(s)
      H.Firdaus,M.Hori,Y.Ono
    • Organizer
      17th International Conference on Global Research and Education Inter-Academia 2018
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Detection and Characterization of Single Near-Interface Oxide Traps with the Charge Pumping Method2018

    • Author(s)
      T. Tsuchiya, M. Hori, Y. Ono
    • Organizer
      International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
    • Int'l Joint Research
  • [Remarks] 小野・堀研究室ホームページ

    • URL

      https://wwp.shizuoka.ac.jp/nano/

URL: 

Published: 2019-12-27   Modified: 2020-07-30  

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