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2011 Fiscal Year Annual Research Report

高周波微小振動子による元素同定、質量検出および液中原子間力顕微鏡の実現

Research Project

Project/Area Number 21241035
Research InstitutionThe University of Tokyo

Principal Investigator

川勝 英樹  東京大学, 生産技術研究所, 教授 (30224728)

KeywordsAFM
Research Abstract

顕微鏡においては、試料を拡大して観察するだけでなく、観察対象の組成、原子種、状態の分布やその時間変化が観察可能であることが望ましい。本研究では、走査型力顕微鏡の作動原理を見直し、従来の非接触原子間力顕微鏡で用いられている一定周波数シフト制御ではなく、周波数シフトの極小点を制御点とする新しい制御方法を提案した。この方法は、極小点を維持する制御方法であるため、”ボトムトラック法”と呼んだ。前年度までに光学系の低ノイズ化をおこない、シリコンや各種金属試料の高分解能観察を可能にした。本年度は、ボトムトラック法導入の前段階として、試料台に10pmオーダの微小振動をkHzオーダで加え、その周波数でロックイン検出を行うことによって周波数シフトの位置微分値をリアルタイムで求めた。その際、微分値の信号が最強になる様に、カンチレバーの振動振幅、試料台の位置変調の周波数や振幅を変化させた。その結果、シリコンやKBrで良好な周波数の位置微分信号がリアルタイムで得られた。この信号を制御目標値として探針試料間の距離制御に用いた結果、構想通りの、ボトムトラック制御が実現された。シリコンや半田を観察したところ、原子オーダの点列で、極小周波数シフト値が異なる像が得られ、各極小点のヒストグラムを取ったところ、2ピークから4ピークの離散的分を示すことが確認された。この結果から、ボトムトラック制御が安定に作動すること、原子分解能が得られること、周波数シフトの極小値のヒストグラムが異なる原子種に対応している可能性があること、が確認された。

Current Status of Research Progress
Reason

24年度が最終年度であるため、記入しない。

Strategy for Future Research Activity

24年度が最終年度であるため、記入しない。

  • Research Products

    (30 results)

All 2011 Other

All Presentation (29 results) (of which Invited: 5 results) Remarks (1 results)

  • [Presentation] Time-Dependent Structural Changes of Solid/Liquid Interfaces Observed using Dynamic Lateral Force Microscopy2011

    • Author(s)
      Shuhei Nishida
    • Organizer
      ICSPM 19
    • Place of Presentation
      Hokkaido,Japan
    • Year and Date
      20111219-20111221
  • [Presentation] Friction and Wear on Nano-Contact with Vibration2011

    • Author(s)
      Hideki Kawakatsu
    • Organizer
      ICSPM 19
    • Place of Presentation
      Hokkaido,Japan
    • Year and Date
      20111219-20111221
  • [Presentation] Study of Time and Temperature Dependence on Structural Transitions of Solid/Liquid Interfaces using Liquid AFM2011

    • Author(s)
      Hiroaki Murakami
    • Organizer
      ICSPM 19
    • Place of Presentation
      Hokkaido,Japan
    • Year and Date
      20111219-20111221
  • [Presentation] Methods for measuring vibrations at the nanometer scale for atomic force microscopy and related techniques2011

    • Author(s)
      Hideki Kawakatsu
    • Organizer
      Nanotrends 2011
    • Place of Presentation
      Hefei,China
    • Year and Date
      20111010-20111014
    • Invited
  • [Presentation] Morphological changes observed with the liquid AFM2011

    • Author(s)
      Hideki Kawakatsu
    • Organizer
      NC AFM2011
    • Place of Presentation
      Lindau,Germany
    • Year and Date
      20110918-20110922
  • [Presentation] High Frequency Low Amplitude Atomic Force Microscopy

    • Author(s)
      Hideki Kawakatsu
    • Organizer
      2011 Asia Micro Mechatronics Forum
    • Place of Presentation
      Daegu, Korea
    • Invited
  • [Presentation] High frequency low amplitude AFM and measurement of very small oscillators

    • Author(s)
      Hideki Kawakatsu
    • Organizer
      Invited lecture at PNU
    • Place of Presentation
      Busan, Korea
    • Invited
  • [Presentation] Atomic resolution imaging by dynamic mode liquid lateral force microscopy

    • Author(s)
      Hideki Kawakatsu
    • Organizer
      68th Japanese Society of Microscopy 2012
    • Place of Presentation
      つくば(つくば国際会議場)
    • Invited
  • [Presentation] 液中原子間力顕微鏡ならびに超高真空TEM・AFM , FIM・AFM

    • Author(s)
      川勝 英樹
    • Organizer
      応物学会・応物電子分性分科会 7月研究例会
    • Place of Presentation
      秋葉原(首都大学東京サテライトキャンパス)
    • Invited
  • [Presentation] A variable temperature liquid AFM and observation of morphological changes of an ice-like structure on mica

    • Author(s)
      Hideki Kawakatsu
    • Organizer
      NCAFM2012
    • Place of Presentation
      Cesky Krumlov, Czech Republic
  • [Presentation] Towards multimodal all-optic UHV Atomic Force Microscopy

    • Author(s)
      Denis Damiron
    • Organizer
      NCAFM2012
    • Place of Presentation
      Cesky Krumlov, Czech Republic
  • [Presentation] An ‘all-optic’ lateral liquid AFM and UHV(TEM/FIM)AFM

    • Author(s)
      Hideki Kawakatsu
    • Organizer
      Seeing at the Nanoscale 2012
    • Place of Presentation
      Bristol, England
  • [Presentation] Real-time atomic resolution imaging with chemical contrast

    • Author(s)
      Hideki Kawakatsu
    • Organizer
      Multifrequency AFM 2012
    • Place of Presentation
      Madrid, Spain
  • [Presentation] Onset of lateral and vertical dynamic modes in liquid AFM

    • Author(s)
      Hiroaki Murakami
    • Organizer
      Multifrequency AFM 2012
    • Place of Presentation
      Madrid, Spain
  • [Presentation] 元素コントラストAFMにおけるラテラルモード

    • Author(s)
      Hideki Kawakatsu
    • Organizer
      京大・基研研究会「摩擦、レオロジー、地震の新展開 ー異なる階層と舞台をつなぐー」
    • Place of Presentation
      京都(京大基礎物理学研究所パナソニックホール)
  • [Presentation] AFM with chemical contrast and its application in lateral force microscopy

    • Author(s)
      Denis Damiron
    • Organizer
      京大・基研研究会「摩擦、レオロジー、地震の新展開 ー異なる階層と舞台をつなぐー」
    • Place of Presentation
      京都(京大基礎物理学研究所パナソニックホール)
  • [Presentation] TEMAFMを用いた摩擦研究-垂直振動印加による摩擦低減のその場観測

    • Author(s)
      中野 憲
    • Organizer
      京大・基研研究会「摩擦、レオロジー、地震の新展開 ー異なる階層と舞台をつなぐー」
    • Place of Presentation
      京都(京大基礎物理学研究所パナソニックホール)
  • [Presentation] ラテラル液中AFMによるフォースカーブを用いた固液界面の計測

    • Author(s)
      鳥山 陽平
    • Organizer
      京大・基研研究会「摩擦、レオロジー、地震の新展開 ー異なる階層と舞台をつなぐー」
    • Place of Presentation
      京都(京大基礎物理学研究所パナソニックホール)
  • [Presentation] 液中AFMにおけるラテラルモードと垂直モードの比較

    • Author(s)
      村上 弘明
    • Organizer
      京大・基研研究会「摩擦、レオロジー、地震の新展開 ー異なる階層と舞台をつなぐー」
    • Place of Presentation
      京都(京大基礎物理学研究所パナソニックホール)
  • [Presentation] 三次元アトムプローブにおける電界蒸発の結晶方位依存性の解析

    • Author(s)
      清水 真人
    • Organizer
      第60回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      厚木(神奈川工科大学)
  • [Presentation] 垂直モード高真空原子間力顕微鏡による化学的同定法

    • Author(s)
      鳥山 陽平
    • Organizer
      第60回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      厚木(神奈川工科大学)
  • [Presentation] テラルモード光励振式 UHVAFM による化学的同定法

    • Author(s)
      Denis Damiron
    • Organizer
      第60回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      厚木(神奈川工科大学)
  • [Presentation] TEM-AFMによるナノ領域の測定

    • Author(s)
      武田 俊
    • Organizer
      第60回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      厚木(神奈川工科大学)
  • [Presentation] 自己組織化単分子膜振動 は電界イオン顕微鏡で観察

    • Author(s)
      Pierre Allain
    • Organizer
      第60回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      厚木(神奈川工科大学)
  • [Presentation] Toward real time chemical contrast atomic force microscopy

    • Author(s)
      Mohammad Othman
    • Organizer
      ICSPM20
    • Place of Presentation
      那覇(沖縄かりゆしアーバンリゾート)
  • [Presentation] AFM with chemical contrast and its application in lateral force microscopy

    • Author(s)
      Yohei Toriyama
    • Organizer
      ICSPM20
    • Place of Presentation
      那覇(沖縄かりゆしアーバンリゾート)
  • [Presentation] Comparison of lateral and vertical modes with bimodal Liquid AFM

    • Author(s)
      Hiroaki Murakami
    • Organizer
      ICSPM20
    • Place of Presentation
      那覇(沖縄かりゆしアーバンリゾート)
  • [Presentation] Development of Atom Probe Atomic Force Microscope for Chemical Identification

    • Author(s)
      Hidenobu Nishizawa
    • Organizer
      ICSPM20
    • Place of Presentation
      那覇(沖縄かりゆしアーバンリゾート)
  • [Presentation] Using TEM-AFM three dimensional nano-range measurement

    • Author(s)
      Ken Nakano
    • Organizer
      ICSPM20
    • Place of Presentation
      那覇(沖縄かりゆしアーバンリゾート)
  • [Remarks] 川勝研究室HP

    • URL

      http://www.inventio.iis.u-tokyo.ac.jp

URL: 

Published: 2014-07-24  

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