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2010 Fiscal Year Annual Research Report

原子操作による多元素ナノ構造体の機能制御

Research Project

Project/Area Number 21246010
Research InstitutionOsaka University

Principal Investigator

阿部 真之  大阪大学, 工学研究科, 准教授 (00362666)

Keywords多元素ナノ構造 / 原子間力顕微鏡 / AFM / STM / AFM/STM同時測定 / フォーススペクトロスコピー
Research Abstract

1. 多元素ナノ構造の原子レベル物性評価
ナノ構造が発現する機能は構造(原子の種類と配置)と電子状態が密接に絡み合った結果であり、これらの特性を原子レベルで同時に測定することが重要である。昨年度は、原子間力顕微鏡(AFM)と走査型トンネル顕微鏡(STM)を用いて、構造と局所電子状態のマッピングを同時に評価できる手法を確立した。今年度は、それを具体的な実験に実施した。その結果、AFMとSTMでは、画像がもっとも綺麗に測定出来る探針-試料間距離に1から2オングストロームの差があることがわかった。さらに、AFMのノイズは長距離力成分によって増大されることがわかり、AFMの感度向上には探針の先鋭化が必要であることを実験的に示すことができた。
2. 能性表面における高分能画像測定とフォーススペクトロスコピー
光触媒材料のTiO_2表面において、AFM測定とフォーススペクトロスコピーを行った。TiO2(110)表面にKを吸着し、ケルビンプローブカ顕微鏡で電荷移動について調べ、探針先端の状態によって、K上の局所接触電位差の符号が反転しうることを見出した。
3. 原子操作による3次元クラスターの作成
多元素ナノ構造は周辺の原子種や個数によって構造が変化することが予想される。例えば、2次元のナノ構造の場合、格子不整合によって試料表面の周期構造が変化することがこれまでの申請者らの実験によってわかっている。クラスタやワイヤには安定原子数(マジックナンバー)が存在する。そこで、いくつかのモデルとなる材料系において、原子操作によって多元素ナノ構造を組み立てる条件を見いだした。具体的には、室温環境下において、Si(111)-(7×7)表面のハーフユニットせる内に種々の原子(銀や鉛など)を閉じ込めることに成功した。ハールユニットセルはポテンシャル障壁が大きいが、探針でそれを下げることで、隣接するハーフユニットセルから表面に蒸着した金属原子を連続して入れていくことが可能になった。その結果、ハーフユニットセル内では3次元のクラスタができることがわかった。

  • Research Products

    (35 results)

All 2011 2010 Other

All Journal Article (9 results) (of which Peer Reviewed: 9 results) Presentation (25 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Lateral Manipulation of Single Defect on Insulating Surface Using Noncontact Atomic Force Microscope2011

    • Author(s)
      Insook Yi
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: Vol.50 Pages: 015201-1-015201-4

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Observation of Subsurface Atoms of the Si(111)-(7×7) Surface by Atomic Force Microscopy2010

    • Author(s)
      Daisuke Sawada
    • Journal Title

      Appl.Phys.Express

      Volume: Vol.3 Pages: 116602-1-116602-3

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever with an optical interferometer2010

    • Author(s)
      Kenichi Morita
    • Journal Title

      Nanotechnology

      Volume: Vol.21 Pages: 305704-1-305704-4

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Simultaneous force and current mapping of the Si(111)-(7x7) surface by dynamic force microscopy2010

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: Vol.96 Pages: 263114-1-263114-3

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Simultaneous AFM and STM measurements on the Si(111)-(7x7)surface2010

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Journal Title

      Physical Review B

      Volume: Vol.81 Pages: 245322-1-245322-9

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Molecular resolution investigation of tetragonal lysozyme(110) face in liquid by FM-AFM2010

    • Author(s)
      Ken Nagashima
    • Journal Title

      Journal of Vacuum Science & Technology B

      Volume: Vol.28 Pages: C4C11-C4C14

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Simultaneous atomic force and scanning tunneling microscopy study of the Ge(111)-c(2×8) surface2010

    • Author(s)
      Daisuke Sawada
    • Journal Title

      Journal of Vacuum Science & Technology B.

      Volume: Vol.28 Pages: C4D1-C4D4

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] NC-AFM imaging of the TiO_2(110)-(1×1) surface at low temperature2010

    • Author(s)
      Ayhan Yurtsever
    • Journal Title

      Nanotechnology

      Volume: Vol.21 Pages: 165702-1-165702-7

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] 単原子ペンによるナノパターンニング2010

    • Author(s)
      森田清三
    • Journal Title

      顕微鏡

      Volume: Vol.45 Pages: 51-54

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 原子間力顕微鏡による半導体中の不純物の直接観察2011

    • Author(s)
      阿部真之
    • Organizer
      第29回(2010年春期)応用物理学会 26p-KL-3
    • Place of Presentation
      神奈川県(厚木市)(招待講演)
    • Year and Date
      2011-03-26
  • [Presentation] 原子間力顕微鏡による半導体中の不純物の直接観察2011

    • Author(s)
      阿部真之
    • Organizer
      第29回(2010年春期)応用物理学会 26P-KL-3
    • Place of Presentation
      神奈川県(厚木市)(招待講演)
    • Year and Date
      2011-03-26
  • [Presentation] Simultaneous AFM and STM measurements at room temperature2010

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Organizer
      The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy S5-3, p.11
    • Place of Presentation
      Sizuoka, Japan (AtagawaHaitsu)(Oral)
    • Year and Date
      2010-12-10
  • [Presentation] Simultaneous force and current mapping of the Si(111)-(7x7)surface by dynamic force microscopy2010

    • Author(s)
      Keiichi Ueda
    • Organizer
      The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy S4-2, P.39
    • Place of Presentation
      Sizuoka, Japan (AtagawaHaitsu)(Poster)
    • Year and Date
      2010-12-10
  • [Presentation] Force spectroscopy on hydrogen adsorbed Si(111)-(7x7)surface using dynamic force microscopy2010

    • Author(s)
      Masaki Fukuinoto
    • Organizer
      The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy S4-3, p.40
    • Place of Presentation
      Sizuoka, Japan (AtagawaHaitsu)(Poster)
    • Year and Date
      2010-12-10
  • [Presentation] High spring constant cantilever for small amplitude dynamic force microscopy using an optical interferometer2010

    • Author(s)
      Kenichi Morita
    • Organizer
      The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy S5-2, p.10
    • Place of Presentation
      Sizuoka, Japan (AtagawaHaitsu)(Oral)
    • Year and Date
      2010-12-10
  • [Presentation] 原子間力顕微鏡を用いた水平原子操作に関わる相互作用力測定2010

    • Author(s)
      杉本宜昭
    • Organizer
      第30回表面科学学術講演会 6Ap-11, p.366
    • Place of Presentation
      大阪府(吹田市)(口頭発表)
    • Year and Date
      2010-11-06
  • [Presentation] AFM/STM同時測定における化学結合とトンネル電流の相関2010

    • Author(s)
      澤田大輔
    • Organizer
      真空・表面科学合同講演会(第30回表面科学学術講演会・第51回真空に関する連合講演会) 5 P-064Y, p.303
    • Place of Presentation
      大阪府(吹田市)(Poster)
    • Year and Date
      2010-11-05
  • [Presentation] 周波数変調方式AFMによる液中での可溶性結晶の格子像観察2010

    • Author(s)
      長嶋剣
    • Organizer
      第30回表面科学学術講演会 4Da-02, p.59
    • Place of Presentation
      大阪府(吹田市)(口頭発表)
    • Year and Date
      2010-11-04
  • [Presentation] 水晶カンチレバーと光干渉計を用いた小振幅原子間力顕微鏡測定2010

    • Author(s)
      森田健一
    • Organizer
      第30回表面科学学術講演会 4Da-01S, p.58
    • Place of Presentation
      大阪府(吹田市)(口頭発表)
    • Year and Date
      2010-11-04
  • [Presentation] 水晶カンチレバーと光干渉計を用いた小振幅原子間力顕微鏡2010

    • Author(s)
      森田健一
    • Organizer
      第71回応用物理学会学術講演会 P9-19
    • Place of Presentation
      長崎県長崎市(長崎大学)(ポスター)
    • Year and Date
      2010-09-16
  • [Presentation] Atomic resolution observation of soluble crystals in liquid by Frequency-Modulation AFM2010

    • Author(s)
      KenNagashima
    • Organizer
      167 Committee satellite workshop on SPM p.6-7
    • Place of Presentation
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)
    • Year and Date
      2010-08-04
  • [Presentation] AFM/STM Simultaneous Imaging of the Si4 Tetramer2010

    • Author(s)
      Daisuke Sawada
    • Organizer
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy(NC-AFM2010) P2-1-10, p.112
    • Place of Presentation
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Poster)
    • Year and Date
      2010-08-02
  • [Presentation] Impact of asymmetry tip structure on NC-AFM force mapping2010

    • Author(s)
      Hong Jing Chung
    • Organizer
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010) P2-2-16, p.136
    • Place of Presentation
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Poster)
    • Year and Date
      2010-08-02
  • [Presentation] Atom manipulation and force measurement by atomic force microscopy2010

    • Author(s)
      Hideki Tanaka
    • Organizer
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010) P2-1-14, P.116
    • Place of Presentation
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Poster)
    • Year and Date
      2010-08-02
  • [Presentation] Measurement of atom hopping probability and interaction force during atom manipulation on the Si(111)-(7x7)surface2010

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Organizer
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010) Su-1440, p.9
    • Place of Presentation
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Oral)
    • Year and Date
      2010-08-01
  • [Presentation] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever combined with an optical interferometer2010

    • Author(s)
      Kenichi Morita
    • Organizer
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy(NC-AFM2010) Su-1200, p.7
    • Place of Presentation
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Oral)
    • Year and Date
      2010-08-01
  • [Presentation] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever and an optical interferometer2010

    • Author(s)
      Kenichi Morita
    • Organizer
      2nd Global COE Student Conference on Innovative Electronic Topics SCIENT2010 Po-01, p.50
    • Place of Presentation
      Osaka, Japan (Suita)(Poster)
    • Year and Date
      2010-07-28
  • [Presentation] 原子間力顕微鏡を用いた原子レベルでの物性計測と原子操作2010

    • Author(s)
      阿部真之
    • Organizer
      計測自動制御学会関西支部平成22年度講習会
    • Place of Presentation
      学校法人常翔学園大阪センター(招待講演)
    • Year and Date
      2010-07-13
  • [Presentation] NC-AFM/STM Measurements on the Semiconductor Surface2010

    • Author(s)
      Daisuke Sawada
    • Organizer
      13th International Conference on Intergranular and Interphase Boundaries in Materials P-C37, p.205
    • Place of Presentation
      Mie, Japan (Shima)(Poster)
    • Year and Date
      2010-07-01
  • [Presentation] Toward Atom-by-Atom Nanostructuring of Composite Nanomaterials Based on Atomic Force Microscopy2010

    • Author(s)
      Seizo Morita
    • Organizer
      6th Nanoscienceand Nanotechnology Conference (Nano-TRVI) p.145
    • Place of Presentation
      Cesme, Turkey (Izmir)(Plenary Talk)
    • Year and Date
      2010-06-17
  • [Presentation] Room-temperature AFM experience with large amplitude2010

    • Author(s)
      Masayuki Abe
    • Organizer
      12th International Ceramics Congress
    • Place of Presentation
      Montecatini Terme, Italy(Invited)
    • Year and Date
      2010-06-08
  • [Presentation] High spring constant cantilever with metal tip for small amplitude NC-AFM operation2010

    • Author(s)
      Kenichi Morita
    • Organizer
      International Conference on Core Research and Engineering Science of Advanced Materials PSI-45
    • Place of Presentation
      Osaka, Japan (Suita)(Poster)
    • Year and Date
      2010-06-01
  • [Presentation] 半導体表面におけるAFM/STM同時測定2010

    • Author(s)
      杉本宜昭
    • Organizer
      社団法人日本顕微鏡学会第66回学術講演会 26aC04-S
    • Place of Presentation
      愛知県名古屋市(名古屋国際会議場)(招待講演)
    • Year and Date
      2010-05-26
  • [Presentation] 周波数変調方式AFMによる液中での無機・有機結晶の格子像観察2010

    • Author(s)
      長嶋剣
    • Organizer
      日本地球惑星科学連合2010年大会 MIS012-09
    • Place of Presentation
      千葉県千葉市(幕張メッセ国際会議場)(口頭発表)
    • Year and Date
      2010-05-23
  • [Remarks]

    • URL

      http://www.afm.eei.eng.osaka-u.ac.jp/

URL: 

Published: 2012-07-19  

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