• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2010 Fiscal Year Annual Research Report

原子空孔二次元イメージング計測

Research Project

Project/Area Number 21350039
Research InstitutionChiba University

Principal Investigator

藤浪 眞紀  千葉大学, 大学院・工学研究科, 教授 (50311436)

Keywords腸電子 / マイクロビーム / 原子空孔 / 二次元分布 / 塑性変形 / 転位 / 金属
Research Abstract

今年度の目標は従来数十μmであった陽電子ビーム系を数μmに縮小化するための光学系を開発することであった。従来の光学系に集束レンズを一段挿入し,対物レンズの改良,そしてアパーチャーの挿入を実施して9μmまでの集束に成功した。アパーチャーの導入はデータの信頼性に大きな効果があることがわかった。アパーチャーがない場合には本来の光学系で輸送されない陽電子ビームも試料近傍で照射され,そこからの対消滅γ線が実際のデータのバックグラウンドとなっていた。その効果はおよそ40%と見積もられ,その影響を排除することに成功した。原理的には陽電子の固体中での拡散を考慮するとこれ以上の集束という開発意義はほとんどないため,本手法の光学系の開発はこれで完了したといえる。
応用例としては,磨耗による静的付与と動的付与の欠陥導入の分布の差について計測を試みた。静的付与においては等方的に欠陥は導入されるが,動的付与においては遠心力が印加される外径方向に欠陥が導入されることを明らかにした。ただし,なぜそのように不均一に欠陥が導入されるかという機構解明は今後の課題である。
もう一つの応用として鉄の水素脆化機構解明に取り組んだ。単なる水素チャージのみでは有意な差は認められないが,変形により欠陥形成に大きな差が生じた。水素チャージ材では空孔クラスターの形成が顕著であり,回復過程を調べてもより安定に存在することを明らかにした。一方で,破断に至る過程は予測不可能な局所領域での現象であり、本法による欠陥の局所分析が今後の本質的な原子論的観点からの解明に役立つことが期待される。来年度は同一試料での変形誘起の欠陥を追跡観察することを計画している。

  • Research Products

    (9 results)

All 2011 2010 Other

All Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results) Presentation (7 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Imaging of the distribution of average positron lifetimes by using a positron probe microanalyzer2011

    • Author(s)
      N.Oshima, R.Suzuki, T.Ohdaira, A.Kinomum, S.Kubota, H.Watanabe, K.Tenjinbayashi, A.Uedono, M.Fujinami
    • Journal Title

      J.Phys.Conference Series

      Volume: 262 Pages: 012044-14

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] Ttvo-dimensional defect mapping on the deformed iron by positron probe microanalyzer(PPMA)2010

    • Author(s)
      藤浪眞紀
    • Organizer
      39^<th> APolish Seminar on Positron Mnihilation
    • Place of Presentation
      ポーランド、ルブリン
    • Year and Date
      20100620-20100625
  • [Presentation] Development of positron probe microanalyzer for a two-dimensional defect mappmg2010

    • Author(s)
      藤浪眞紀
    • Organizer
      Pacifichem2010
    • Place of Presentation
      アメリカ, ホノルル
    • Year and Date
      2010-12-19
  • [Presentation] 陽電子プロープマイクロアナライザーによる塑性変形した鉄の二次元欠陥分布計測2010

    • Author(s)
      藤浪眞紀
    • Organizer
      日本分析化学会 東京コンファレンス2010
    • Place of Presentation
      幕張メッセ国際会議場
    • Year and Date
      2010-09-03
  • [Presentation] Development and application of transmission posihron microscope and positron probe microanalyzer2010

    • Author(s)
      藤浪眞紀
    • Organizer
      12^<th> International Workshop on Slow Positron Besm lhchniques
    • Place of Presentation
      オーストラリア, マグネティツク島
    • Year and Date
      2010-08-01
  • [Presentation] 陽電子プローブマイクロアナライザーの光学系改造2010

    • Author(s)
      柳響介, 河島祐二, 神野智史, 藤浪眞紀
    • Organizer
      第47回 アイソトープ・放射線研究発表会
    • Place of Presentation
      日本科学未来館
    • Year and Date
      2010-07-08
  • [Presentation] 陽電子プローブマイクロアナライザーによる高純度鉄の変形誘起欠陥二次元分布2010

    • Author(s)
      藤浪眞紀, 神野智史, 河島祐二, 打越雅仁、鈴木茂
    • Organizer
      日本顕微鏡学会 第66回学術講演会
    • Place of Presentation
      名古屋国際会議場
    • Year and Date
      2010-05-24
  • [Presentation] 陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形した鉄試料の欠陥分布計測2010

    • Author(s)
      藤浪眞紀, 河島祐二, 神野智史, 打越雅仁, 鈴木茂
    • Organizer
      日本分析化学会 第71回分析化学討論会
    • Place of Presentation
      島根大学
    • Year and Date
      2010-05-15
  • [Remarks]

    • URL

      http://chem.tf.chiba-u.jp/gacbll/research.html

URL: 

Published: 2012-07-19  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi