• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2010 Fiscal Year Annual Research Report

電子材料に用いるカーボンナノチューブの高密度電子流による損傷機構解明と強度評価

Research Project

Project/Area Number 21360046
Research InstitutionHirosaki University

Principal Investigator

笹川 和彦  弘前大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (50250676)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 村岡 幹夫  秋田大学, 大学院・工学資源学研究科, 准教授 (50190872)
巨 陽  名古屋大学, 大学院・工学研究科, 教授 (60312609)
坂 真澄  東北大学, 大学院・工学研究科, 教授 (20158918)
Keywordsエレクトロマイグレーション / カーボンナノチューブ / 電子デバイス / 高密度電流 / 信頼性
Research Abstract

平成22年度は次に示す3項目の研究を実施し,実験観察に基づいて損傷機構の解明を図った。
1.損傷過程の形状観察-2
酸素濃度の異なる雰囲気中で通電試験を行い,損傷過程におけるカーボンナノチューブ(CNT)の形状変化を走査型プローブ顕微鏡で観察した。大気中では低真空中と比べて極端に寿命が短くなったが,損傷箇所はいずれも陰極端部であることが確認できた。これらの観察結果より,電流下CNTにおいてエレクトロマイグレーション(EM)による原子空孔の発生・集合が基本的に生じ,次いで同集合箇所において酸化による蒸散などが付加的に生じるため,EMがさらに加速することで大気中での損傷が助長されると考えられた。EMと酸化による損傷機構の存在と酸素雰囲気の違いによるこれらの優位性の変化を明らかにした。
2.ナノスケールの電気特性評価
マイクロ波の応答が物質の電磁気物性に依存する特徴を利用して,ナノスケール空間分解能を有する高感度マイクロ波原子間力顕微鏡プローブを新規に開発した。また,独自に開発したマイクロ波原子間力顕微技術を用いて,ナノサイズワイヤの表面形状およびマイクロ波イメージングの同時計測に成功した。さらに,マイクロ波イメージングからナノワイヤの電気特性を評価する手法を実現した。
3.ナノスケールの力学的特性評価
集中質量型原子間力顕微技術を用いて損傷CNTの力学特性を評価するためには,接触共振周波数の計測値に及ぼす基板の影響を取り除く必要がある。そこで,ナノ材料/基板の二層構造弾性体の接触剛性に関する理論モデルを利用し,参照表面に対する接触共振周波数の計測値と併せて,基板の影響を受けることなくナノ材料自身の弾性係数を評価できる手法を考案した。基板上の厚さ10nm以下の薄膜や損傷表面に対して,本手法の妥当性を検証した。

  • Research Products

    (18 results)

All 2011 2010 Other

All Journal Article (8 results) (of which Peer Reviewed: 8 results) Presentation (9 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Characterization of Films with Thickness Less than 10 nm by Sensitivity-Enhanced Atomic Force Acoustic Microscopy2011

    • Author(s)
      M.Muraoka, S.Komatsu
    • Journal Title

      Nanoscale Res.Lett.

      Volume: 6 Pages: 33(1-6)

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Effect of Oxygen Concentration on Damage Mechanism of Carbon Nanotubes under High Current Density2011

    • Author(s)
      K.Sasagawa, T.Abo, J.Unuma
    • Journal Title

      Proceedings of ASME InterPACK2011

      Volume: (印刷中)

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Development of Simulation of Nanostructure Production Due to Electromigration Considering Specimen's Damage2011

    • Author(s)
      K.Sasagawa, T.Abo, J.Unuma
    • Journal Title

      Proceedings of ASME/JSME ICM&P2011

      Volume: (印刷中)

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Structure Modification of M-AFM Probe for the Measurement of Local Conductivity2011

    • Author(s)
      A.Fujimoto, L.Zhang, A.Hosoi, Y.Ju
    • Journal Title

      Microsyst.Technol

      Volume: (印刷中)

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] An Integrated Compact Unit for Wide Range Micro-Newton Force Measurement2010

    • Author(s)
      M.A.S.Akanda, H.Tohmyoh, M.Saka
    • Journal Title

      J.Solid Mech.Mater.Eng.

      Volume: 4 Pages: 545-556

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Simulation of Nanostructure Production by Electromigration Considering Specimen's Shape2010

    • Author(s)
      K.Sasagawa, A.Kirita, S.Fukushi, M.Saka
    • Journal Title

      J.Nanosci. Nanotechnol.

      Volume: 10 Pages: 6036-6040

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Microwave Atomic Force Microscbpy Imaging for Nanometer-Scale Electrical Property Characterization2010

    • Author(s)
      L.Zhang, Y.Ju, A.Hosoi,A.Fujimoto
    • Journal Title

      Rev.Sci.Instrum.

      Volume: 81 Pages: 123708-123701-123704

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Enhancement of Sensitivity for the Evaluation of Electrical Properties by Modifying the Nano Structure of Microwave AFM probe2010

    • Author(s)
      L.Zhang, Y Ju, A.Hosoi, A.Fujimoto
    • Journal Title

      Mater.Sci.Forum

      Volume: 675-677 Pages: 555-558

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] テラヘルツ時間領域分光法による半導体ウェーバの電気的特性の測定・評価2011

    • Author(s)
      森俊貴, 巨陽
    • Organizer
      日本機械学会東海支部第60期総会・講演会
    • Place of Presentation
      豊橋技術科学大学(豊橋市)
    • Year and Date
      2011-03-15
  • [Presentation] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Interconnect Tree with Angled Cu Lines2010

    • Author(s)
      K.Sasagawa, T.Abo
    • Organizer
      12th International Conference on Electronics Materials and Packaging(EMAP2010)
    • Place of Presentation
      Orchard Hotel, Singapore
    • Year and Date
      2010-10-26
  • [Presentation] 高密度電流下におけるカーボンナノチューブの損傷機構に関する研究2010

    • Author(s)
      鵜沼潤, 笹川和彦, 阿保雄大
    • Organizer
      日本機械学会M&M2010材料力学カンファレンス
    • Place of Presentation
      長岡技術科学大学(長岡市)
    • Year and Date
      2010-10-10
  • [Presentation] 電子デバイスと生体の材料システムを評価する2010

    • Author(s)
      笹川和彦
    • Organizer
      平成22年度化学系学協会東北大会
    • Place of Presentation
      岩手大学工学部(盛岡市) 招待講演
    • Year and Date
      2010-09-26
  • [Presentation] ツリー構造配線のエレクトロマイグレーション損害における配線形状の影響(日本機械学会若手優秀講演フェロー賞受賞)2010

    • Author(s)
      阿保雄大, 笹川和彦
    • Organizer
      日本機械学会東北支部第46期秋季講演会
    • Place of Presentation
      秋田大学(秋田市)
    • Year and Date
      2010-09-24
  • [Presentation] A Microscope System for Characterization of Mechanical Properties of Small-Scaled Objects2010

    • Author(s)
      H.Tohmyoh, M.A.S.Akanda, M.Saka
    • Organizer
      ESTC2010Confrence
    • Place of Presentation
      Maritim proArte Hotel, Berlin, Germany
    • Year and Date
      2010-09-15
  • [Presentation] 異よる創製条件下のエレクトロマイグレーションによる金属ナノストラクチャー創製の数値シミュレーション2010

    • Author(s)
      笹川和彦, 阿保雄大, 鵜沼潤
    • Organizer
      日本機械学会2010年度年次大会
    • Place of Presentation
      名古屋工業大学(名古屋市)
    • Year and Date
      2010-09-06
  • [Presentation] 集中質量型カンチレバーのナノ接触共振による水晶ウエハの加工変質層の評価2010

    • Author(s)
      勝又悠樹, 村岡幹夫
    • Organizer
      日本機械学会2010年度年次大会
    • Place of Presentation
      名古屋工業大学(名古屋市)
    • Year and Date
      2010-09-06
  • [Presentation] Modifyihg the Structure of Microwave AFM Probe for Improving the Sensitivity in the Measurement of Electrical properties2010

    • Author(s)
      張嵐, 巨陽, 細井厚志, 藤本紹文
    • Organizer
      日本機械学会2010年度年次大会
    • Place of Presentation
      名古屋工業大学(名古屋市)
    • Year and Date
      2010-09-06
  • [Remarks]

    • URL

      http://www.mech.hirosaki-u.ac.jp/~sasagawa/labhp/

URL: 

Published: 2012-07-19  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi