2011 Fiscal Year Annual Research Report
葉老化制御によるイネ収量性の遺伝的制御と分子メカニズム
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21380007
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| Research Institution | Hiroshima University |
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Principal Investigator |
草場 信 広島大学, 理学(系)研究科(研究院), 教授 (20370653)
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| Keywords | 葉老化 / イネ / 突然変異体 |
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| Research Abstract |
コースマッピングによる解析の結果、ステイグリーン突然変異体nyc4の原因遺伝子は第3染色体と第7染色体にマップされることが分かった。このことは両方の領域が突然変異体型ホモであることがステイグリーン表現型に必要であることを示す。加えて野生型とnyc4のF1が稔性が低いことから、nyc4は相互転座により引き起こされたと考えた。nyc4の葉を用いてマイクロアレイを試みたところ、第７染色体上に極めて発現が低下している遺伝子を見出した。この遺伝子の周辺配列をInverse PCRにより増幅し、塩基配列を検討したところ、nyc4ではこの遺伝子が第３染色体上の遺伝子と融合していることが分かった。このことから、nyc4ではこの遺伝子と第３染色体上の遺伝子の間で相互転座を起こし、両遺伝子の機能が喪失していると推察された。
イネ品種日本晴由来のステイグリーン突然変異fsg1は、日本型品種銀坊主とのF2交雑集団を用いたコースマッピングにより、第7染色体上にマップされることが明らかになっている。昨年度までに第7染色体が日本型に置き換わったKasalath／コシヒカリ染色体部分置換系統とfsg1の交配系統F2系統を作成し、本年度はそれらの集団を用いて高精度マッピングを開始した。しかしこの形質は出穂期の影響を受けるため、高精度マッピングには出穂期が揃った集団を用いることが必要と判断し、F2個体のうち、第7染色体がヘテロになっている系統からF3種子を採種した。本格的な高精度マッピングは平成24年度にこの集団を用いて行うこととした
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| Current Status of Research Progress |
Current Status of Research Progress
3: Progress in research has been slightly delayed.
Reason
高精度マッピングについては高い精度での表現型判定が必要である。そのために、一部計画を来年度に行うこととしたが、それ以外はおおむね順調に推移しており、ステイグリーン突然変異体のひとつに関しては原因遺伝子の単離もほぼ成功した。
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| Strategy for Future Research Activity |
nyc4に関しては相補性検定などを進め、原因遺伝子の確定をするとともに遺伝子機能解析を進める。fsg1に関しては出穂期が斉一化した分離集団を用いて高精度マッピングを行う。
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