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2010 Fiscal Year Annual Research Report

レーザー冷却による非接触原子間力顕微鏡の熱揺らぎノイズの改善と超高感度化

Research Project

Project/Area Number 21656013
Research InstitutionOsaka University

Principal Investigator

阿部 真之  大阪大学, 工学研究科, 准教授 (00362666)

Keywords多元素ナノ構造 / 原子間力顕微鏡 / AFM / STM / AFM/STM同時測定 / フォーススペクトロスコピー
Research Abstract

1.フィードバック冷却を用いたカンチレバーの熱励振の低減
フィードバック冷却を用いてカンチレバーの1次共振モードに擬似的なdampingをおこし、熱励振を低減させた。さらに、2次共振モードとの間のカップリングを検証した。カンチレバーの1次共振モードのみにdampingを行うためには、2次共振モードの共振周波数においてカンチレバーに影響を及ぼさないフィードバック系を構成する必要がある。予備実験を行うことにより、従来のフィードバック冷却の手法では、2次共振モードが発振することがあることが判明した。そこで、カンチレバーの運動方程式および回路の伝達関数を用いてシミュレーションを行い、各種フィルタを組み込む、微分回路の構成を適正化するなどして、2次共振モードに影響しないフィードバック系を作成した。フィードバック内のゲインを調整することによって、1次共振モードの熱振動スペクトルがフロアノイズレベル近くまで減少することに成功した。この時、2次共振モードの熱振動スペクトルを同時に観察し、ゲインによる変化がないことを確認したS。これにより、1次共振モードと2次共振モードとの間にカップリングが存在しないことを証明することができた。
2.変位検出計の高感度化に関する検討
変位検出計の感度を向上させるには、カンチレバーとファイバー間のキャビティだけでなく、光検出系の最適化を行う必要がある。昨年度は、変位検出用レーザーおよびアンプを改良し、30fm/(Hz)^0.5の感度でカンチレバーの変位を検出できることが可能となった。今年度は、光ファイバー端面に金コートを蒸着することで、さらに変位検出系の改良をおこない、15fm/(Hz)^0.5を達成した。

  • Research Products

    (34 results)

All 2011 2010 Other

All Journal Article (9 results) (of which Peer Reviewed: 9 results) Presentation (24 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Lateral Manipulation of Single Defect on Insulating Surface Using Noncontact Atomic Force Microscope2011

    • Author(s)
      Insook Yi
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: Vol.50 Pages: 015201-1-015201-4

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Observation of Subsurface Atoms of the Si(111)-(7×7) Surface by Atomic Force Microscopy2010

    • Author(s)
      Daisuke Sawada
    • Journal Title

      Appl.Phys.Express

      Volume: Vol.3 Pages: 116602-1-116602-3

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever with an optical interferometer2010

    • Author(s)
      Kenichi Morita
    • Journal Title

      Nanotechnology

      Volume: Vol.21 Pages: 305704-1-305704-4

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Simultaneous force and current mapping of the Si(111)-(7x7) surface by dynamic force microscopy2010

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Journal Title

      Applied Physics Letters

      Volume: Vol.96 Pages: 263114-1-263114-3

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Simultaneous AFM and STM measurements on the Si(111)-(7x7) surface2010

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Journal Title

      Physical Review B

      Volume: Vol.81 Pages: 245322-1-245322-9

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Molecular resolution investigation of tetragonal lysozyme(110) face in liquid by FM-AFM2010

    • Author(s)
      KenNagashima
    • Journal Title

      Journal of Vacuum Science & Technology B

      Volume: Vol.28 Pages: C4C11-C4C14

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Simultaneous atomic force and scanning tunneling microscopy study of the Ge(111)-c(2×8) surface2010

    • Author(s)
      Daisuke Sawada
    • Journal Title

      Journal of Vacuum Science & Technology B

      Volume: Vol.28 Pages: C4D1-C4D4

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] NC-AFM imaging of the TiO_2(110)-(1×1) surface at low temperature2010

    • Author(s)
      AyhanYurtsever
    • Journal Title

      Nanotechnology

      Volume: Vol.21 Pages: 165702-1-165702-7

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] 単原子ペンによるナノパターンニング2010

    • Author(s)
      森田清三
    • Journal Title

      顕微鏡

      Volume: Vol.45 Pages: 51-54

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 原子間力顕微鏡による半導体中の不純物の直接観察2011

    • Author(s)
      阿部真之
    • Organizer
      第29回(2010年春期)応用物理学会
    • Place of Presentation
      神奈川県(厚木市)(招待講演;26p-KL-3)
    • Year and Date
      2011-03-26
  • [Presentation] Simultaneous AFM and STM measurements at room temperature2010

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Organizer
      The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • Place of Presentation
      Sizuoka, Japan (AtagawaHaitsu)(Oral;S5-3,p.11)
    • Year and Date
      2010-12-10
  • [Presentation] Simultaneous force and current mapping of the Si(111)-(7x7) surface by dynamic force microscopy2010

    • Author(s)
      Keiichi Ueda
    • Organizer
      The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • Place of Presentation
      Sizuoka, Japan, (AtagawaHaitsu)(Poster;S4-2,p.39)
    • Year and Date
      2010-12-10
  • [Presentation] Force spectroscopy on hydrogen adsorbed Si(111)-(7x7) surface using dynamic force microscopy2010

    • Author(s)
      MasakiFukumoto
    • Organizer
      The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • Place of Presentation
      Sizuoka, Japan (AtagawaHaitsu)(Poster;S4-3,p.40)
    • Year and Date
      2010-12-10
  • [Presentation] High spring constant cantilever for small amplitude dynamic force microscopy using an optical interferometer2010

    • Author(s)
      Kenichi Morita
    • Organizer
      The 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    • Place of Presentation
      Sizuoka, Japan (AtagawaHaitsu)(Oral;S5-2,p.10)
    • Year and Date
      2010-12-10
  • [Presentation] 原子間力顕微鏡を用いた水平原子操作に関わる相互作用力測定2010

    • Author(s)
      杉本宜昭
    • Organizer
      第30回表面科学学術講演会
    • Place of Presentation
      大阪府(吹田市)(口頭発表;6Ap-11、p.366)
    • Year and Date
      2010-11-06
  • [Presentation] AFM/STM同時測定における化学結合とトンネル電流の相関2010

    • Author(s)
      澤田大輔
    • Organizer
      真空・表面科学合同講演会(第30回表面科学学術講演会・第51回真空に関する連合講演会)
    • Place of Presentation
      大阪府(吹田市)(Poster;5P-064Y、p.303)
    • Year and Date
      2010-11-05
  • [Presentation] 周波数変調方式AFMによる液中での可溶性結晶の格子像観察2010

    • Author(s)
      長嶋剣
    • Organizer
      第30回表面科学学術講演会
    • Place of Presentation
      大阪府(吹田市)(口頭発表;4Da-02、p.59)
    • Year and Date
      2010-11-04
  • [Presentation] 水晶カンチレバーと光干渉計を用いた小振幅原子間力顕微鏡測定2010

    • Author(s)
      森田健一
    • Organizer
      第30回表面科学学術講演会
    • Place of Presentation
      大阪府(吹田市)(口頭発表;4Dap-01S、p.58)
    • Year and Date
      2010-11-04
  • [Presentation] 水晶カンチレバーと光干渉計を用いた小振幅原子間力顕微鏡2010

    • Author(s)
      森田健一
    • Organizer
      第71回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      長崎県長崎市(長崎大学)(ポスター:P9-19)
    • Year and Date
      2010-09-16
  • [Presentation] Atomic resolution observation of soluble crystals in liquid by Frequency-Modulation AFM2010

    • Author(s)
      KenNagashima
    • Organizer
      167 Committee satellite workshop on SPM(p.6-7)
    • Place of Presentation
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)
    • Year and Date
      2010-08-04
  • [Presentation] AFM/STM Simultaneous Imaging of the Si4 Tetramer2010

    • Author(s)
      Daisuke Sawada
    • Organizer
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010)
    • Place of Presentation
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Poster;P2-1-10,p.112)
    • Year and Date
      2010-08-02
  • [Presentation] Impact of asymmetry tip structure on NC-AFM force mapping2010

    • Author(s)
      Hong Jing Chung
    • Organizer
      13th International Conference on Non-Contact A tomic Force Microscopy (NC-AFM2010)
    • Place of Presentation
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Poster;P2-2-16,p.136)
    • Year and Date
      2010-08-02
  • [Presentation] Atom manipulation and force measurement by atomic force microscopy2010

    • Author(s)
      Hideki Tanaka
    • Organizer
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010)
    • Place of Presentation
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Poster;P2-1-14,p.116)
    • Year and Date
      2010-08-02
  • [Presentation] Measurement of atom hopping probability and interaction force during atom manipulation on the Si(111)-(7x7) surface2010

    • Author(s)
      Yoshiaki Sugimoto
    • Organizer
      13th international Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010)
    • Place of Presentation
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Oral;Su-1440,p.9)
    • Year and Date
      2010-08-01
  • [Presentation] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever combined with an optical interferometer2010

    • Author(s)
      Kenichi Morita
    • Organizer
      13th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2010)
    • Place of Presentation
      Ishikawa, Japan (Kanazawa)(Oral;Su-1200,p.7)
    • Year and Date
      2010-08-01
  • [Presentation] 原子間力顕微鏡を用いた原子レベルでの物性計測と原子操作2010

    • Author(s)
      阿部真之
    • Organizer
      計測自動制御学会関西支部平成22年度講習会
    • Place of Presentation
      学校法人常翔学園大阪センター(招待講演)
    • Year and Date
      2010-07-13
  • [Presentation] NC-AFM/STM Measurements on the Semiconductor Surface2010

    • Author(s)
      Daisuke Sawada
    • Organizer
      13th International Conference on Intergranular and Interphase Boundaries in Materials
    • Place of Presentation
      Mie, Japan (Shima)(Poster;P-C37,p.205)
    • Year and Date
      2010-07-01
  • [Presentation] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever and an optical interferometer2010

    • Author(s)
      Kenichi Morita
    • Organizer
      2nd Global COE Student Conference on Innovative Electronic Topics SCIENT2010
    • Place of Presentation
      Osaka, Japan (Suita)(Poster;Po-01,p.50)
    • Year and Date
      2010-06-28
  • [Presentation] Toward Atom-by-Atom Nanostructuring of Composite Nanomaterials Based on Atomic Force Microscopy2010

    • Author(s)
      Seizo Morita
    • Organizer
      6th NanoscienceandNanotechnology Conference (Nano-TRVI)
    • Place of Presentation
      Cesme, Turkey (Izmir)(Plenary Talk;p.145)
    • Year and Date
      2010-06-17
  • [Presentation] Room-temperature AFM experience with large amplitude2010

    • Author(s)
      Masayuki Abe
    • Organizer
      12th International Ceramics Congress
    • Place of Presentation
      MontecatiniTerme, Italy(Invited)
    • Year and Date
      2010-06-08
  • [Presentation] High spring constant cantilever with metal tip for small amplitude NC-AFM operation2010

    • Author(s)
      Kenichi Morita
    • Organizer
      International Conference on Core Research and Engineering Science of Advanced Materials
    • Place of Presentation
      Osaka, Japan (Suita)(Poster,PSI-45)
    • Year and Date
      2010-06-01
  • [Presentation] 半導体表面におけるAFM/STM同時測定2010

    • Author(s)
      杉本宜昭
    • Organizer
      社団法人日本顕微鏡学会第66回学術講演会
    • Place of Presentation
      愛知県名古屋市(名古屋国際会議場)(招待講演;26aC04-S)
    • Year and Date
      2010-05-26
  • [Presentation] 周波数変調方式AFMによる液中での無機・有機結晶の格子像観察2010

    • Author(s)
      長嶋剣
    • Organizer
      日本地球惑星科学連合2010年大会
    • Place of Presentation
      千葉県千葉市(幕張メッセ国際会議場)(口頭発表;MIS012-09)
    • Year and Date
      2010-05-23
  • [Remarks]

    • URL

      http://www.afm.eei.eng.osaka-u.ac.jp/

URL: 

Published: 2012-07-19  

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