• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to project page

2010 Fiscal Year Annual Research Report

絶縁物からの二次電子放出機構の解明と二次電子収率データベース構築

Research Project

Project/Area Number 21686005
Research InstitutionOsaka University

Principal Investigator

永富 隆清  大阪大学, 工学研究科, 助教 (90314369)

Keywords二次電子 / 絶縁物 / エキソ電子
Research Abstract

本研究では,エキソ電子計測系を搭載した二次電子検出装置を開発し,絶縁物への電子・イオン照射による帯電と二次電子放出過程の解明を目指す.また,小型簡易二次電子収率測定ホルダーを試作して収率測定を行うことで,汎用装置を用いた実材料の二次電子収率測定法を確立するとともに,得られた収率のデータベース構築を推進する.さらに,低加速走査電子顕微鏡(SEM)用標準試料を作製し,低速SEMにおける二次電子放出過程の解明を目指す.これらの課題を推進することで,二次電子放出過程に関する新しい知見を得ることを目指す.エキソ電子検出システムについては現在測定システム、特に制御電源系の開発を進めている.本検出器を用いた二次電子検出については,パルスイオン照射システムの電源・制御系の改良による高精度化等を行い,絶縁物からのイオン誘起二次電子収率測定の精度を5倍程度向上させた.さらに絶縁物材料表面へのガス吸着など実材料における収率の変化を調べるための試料処理系を立ち上げ,加熱やガス吸着による収率変化を捉えられるシステムを構築した.また,構築したシステムを用いてMgO膜からの二次電子放出の加熱・ガス吸着による変化を定量的に捉えることに成功した.二次電子収率データベース構築と汎用試料ホルダー開発については,日本学術振興会産学研究協力委員会である第141委員会内に設置した専門委員会において,材料・デバイスを製造している企業等と連携した議論を開始した.また,これらとあわせて,イオンや電子と固体表面との相互作用の解明に関する研究も推進している.

  • Research Products

    (24 results)

All 2011 2010

All Journal Article (7 results) (of which Peer Reviewed: 7 results) Presentation (17 results)

  • [Journal Article] Improvement in Discharge Delay Time by Accumulating Positive Wall Charges on Cathode MgO Protective Layer Surface in Altemating-Current Plasma Display Panels2011

    • Author(s)
      K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: Vol.50 Pages: 026201-1/10

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Investigation of Measurement Conditions of Metastable De-excitation Spectroscopy of MgO Thin Films Used for Plasma Display Panels2011

    • Author(s)
      K.Yoshino, Y.Morita, T.Nagatomi, M.Terauchi, T.Tsujita, T.Nakayama, Y.Yamauchi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Yamauchi, Y.Takai
    • Journal Title

      Journal of Surface Analysis

      Volume: (掲載確定)

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Surface Energy Loss Processes in XPS Studied by Absolute Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy2010

    • Author(s)
      T.Nagatomi, K.Goto
    • Journal Title

      Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena

      Volume: Vol.178-179 Pages: 178-185

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Effects of Wall Charge on Firing Voltage and Statistical Delay Time in Alternating Current Plasma Display Panels2010

    • Author(s)
      K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: Vol.49 Pages: 040212-1/3

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Accumulation and Decay Characteristics of Exoelectron Sources at MgO Protective Layer Surface in Alternating-Current Plasma Display Panels2010

    • Author(s)
      K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Morita, T.Oue, N.Kosugi, M.Nishitani, M.Kitagawa, Y.Takai
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: Vol.49 Pages: 086205-1/5

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Absolutely Determined Inelastic Mean Free Paths for 300-3000 eV Electrons in 10 Elemental Solids2010

    • Author(s)
      T.Nagatomi, S.Tanuma, K.Goto
    • Journal Title

      Surface and Interface Analysis

      Volume: Vol.42 Pages: 1537-1540

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Working Group Report of Database Construction of Secondary Electron Yield (JSPS141-WG-SEY) [I] Precise Measurement by Charge Amplification Method2010

    • Author(s)
      T.Nagatomi, K.Goto, R.Shimizu, Members of JSPS141-WG-SEY
    • Journal Title

      Surface and Interface Analysis

      Volume: Vol.42 Pages: 1541-1543

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] MgO膜へのH_2O吸着によるイオン誘起二次電子収率の変化2011

    • Author(s)
      村澤裕子, 小出博仁, 永富隆清, 高井義造, 吉野恭平, 森田幸弘, 西谷幹彦, 北川雅俊
    • Organizer
      第58回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学
    • Year and Date
      2011-03-24
  • [Presentation] Effects of Heating in Air on Metastable De-Excitation Spectroscopy Spectra of MgO and CaO Films2010

    • Author(s)
      K.Yoshino, Y.Morita, M.Nishitani, T.Nagatomi, Y.Takai, Y.Yamauchi
    • Organizer
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • Place of Presentation
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • Year and Date
      20101003-20101007
  • [Presentation] High Depth Resolution Auger Depth Profiling using a 85°-High-Angle Inclined Holder2010

    • Author(s)
      T.Ogiwara, T.Nagatomi, K.J.Kim, S.Tanuma
    • Organizer
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • Place of Presentation
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • Year and Date
      20101003-20101007
  • [Presentation] Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method2010

    • Author(s)
      T.Miyagawa, M.Inoue, T.Iyasu, Y.Hashimoto, K.Goto, R.Shimizu, T.Nagatomi
    • Organizer
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • Place of Presentation
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • Year and Date
      20101003-20101007
  • [Presentation] Band Alignment and Defect States in Amorphous Si-N Compounds on Si Substrates2010

    • Author(s)
      S.Heo, J.G.Chung, H.I.Lee, J.C.Lee, G.S.Park, D.Tahir, S.K.Oh, H.J.Kang, T.Nagatomi, Y.Takai
    • Organizer
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • Place of Presentation
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • Year and Date
      20101003-20101007
  • [Presentation] Surface Defect States of MgO Films2010

    • Author(s)
      S.Heo, J.G Chung, H.I.Lee, J.C.Lee, G.S.Park, D.Tahir, S.K.Oh, H.J.Kang, T.Nagatomi, Y.Takai
    • Organizer
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • Place of Presentation
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • Year and Date
      20101003-20101007
  • [Presentation] Change in Ion-Induced Secondary Electron Yield of MgO Film Caused by Heating in Air2010

    • Author(s)
      Y.Murasawa, J.Azargal, K.Yoshino, T.Nagatomi, Y.Takai, Y.Morita, M.Nishitani
    • Organizer
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • Place of Presentation
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • Year and Date
      20101003-20101007
  • [Presentation] High-Sensitive Depth Profiling Analyses of Delta-Doped Layers Specimens with Glancing Angle Irradiation and Detection Method2010

    • Author(s)
      H.Tanishiki, T.Ogiwara, T.Nagatomi, Y.Takai, K.J.Kim, S.Tanuma
    • Organizer
      5th International Symposium on Practical Surface Analysis and 7th Korea-Japan International Sumposium on Surface Analysis (PSA-10)
    • Place of Presentation
      Hyundae Hotel in Gyeongju (Korea)
    • Year and Date
      20101003-20101007
  • [Presentation] High Depth Resolution Auger Depth Profiling Analysis Using Inclined Holder2010

    • Author(s)
      T.Ogiwara, T.Nagatomi, S.Tanuma
    • Organizer
      Microscopy & Microanalysis 2010
    • Place of Presentation
      Portland, OR (USA)
    • Year and Date
      20100801-20100805
  • [Presentation] 電子と固体(バルク,薄膜)の相互作用-モンテカルロシミュレーションによる2010

    • Author(s)
      永富隆清
    • Organizer
      日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会平成22年度研修セミナー「走査電子顕微鏡法とその周辺技術」-SEM,EPMA,EBSDの基礎から応用まで-
    • Place of Presentation
      三島, 東レ総合研修センター(招待講演)
    • Year and Date
      20100422-20100423
  • [Presentation] 傾斜ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オニジェ深さ方向分析2010

    • Author(s)
      荻原俊弥, 永富隆清, 田沼繁夫
    • Organizer
      真空・表面科学合同講演会 第30回表面科学学術講演会第51回真空に関する連合講演会
    • Place of Presentation
      大阪大学(招待講演)
    • Year and Date
      2010-11-06
  • [Presentation] 加熱処理によるMgO膜のイオン誘起二次電子収率及び表面状態の変化2010

    • Author(s)
      村澤裕子, 片岡憲秀, 吉野恭平, 永富隆清, 高井義造, 森田幸弘, 西谷幹彦, 北川雅俊
    • Organizer
      真空・表面科学合同講演会 第30回表面科学学術講演会第51回真空に関する連合講演会
    • Place of Presentation
      大阪大学
    • Year and Date
      2010-11-05
  • [Presentation] 斜入射・検出法を用いたデルタドープ層の高感度AES及びXPSスパッタ深さ分析2010

    • Author(s)
      谷舗浩紀, 永富隆清, 高井義造, 荻原俊弥, 田沼繁夫, K.J.Kim
    • Organizer
      真空・表面科学合同講演会 第30回表面科学学術講演会第51回真空に関する連合講演会
    • Place of Presentation
      大阪大学
    • Year and Date
      2010-11-05
  • [Presentation] Determination of IMFP, SEP and DSEP by absolute REELS analysis2010

    • Author(s)
      T.Nagatomi
    • Organizer
      Hungarian-Japanese Joint Working Seminar on Studies of Fundamental Parameter Database and Atomic Processes for High Precision Quantitative Analysis using X-Ray Photoelectron Spectroscopy (in the frame of the bilateral MTA-JSPS scientific research cooperation project)
    • Place of Presentation
      MTA ATOMKI, Debrecen (Hungary)(招待講演)
    • Year and Date
      2010-10-27
  • [Presentation] Metastable De-excitation Spectroscopyを用いたプラズマディスプレイパネル用保護膜の分析(II)-CO_2暴露がMgO及びCaO膜のMDSスペクトルへ与える影響-2010

    • Author(s)
      吉野恭平, 森田幸弘, 西谷幹彦, 寺内正治, 辻田卓司, 中山貴仁, 山内康弘, 永富隆清, 高井義造, 山内泰
    • Organizer
      第71回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      長崎大学 文京キャンパス
    • Year and Date
      2010-09-16
  • [Presentation] オージェ電子分光法装置におけるエネルギー軸校正法(ISO17973,17974)-元素分析と状態分析のために-2010

    • Author(s)
      永富隆清
    • Organizer
      実用表面分析セミナー'10-ISO規格を基礎とした表面分析の実際-
    • Place of Presentation
      大阪大学中ノ島センター
    • Year and Date
      2010-07-23
  • [Presentation] Si/BNデルタドープSIMS標準試料のオージェ深さ方向分析2010

    • Author(s)
      荻原俊弥, 永富隆清, 田沼繁夫
    • Organizer
      第35回表面分析研究会
    • Place of Presentation
      軽井沢プリンスホテル
    • Year and Date
      2010-06-21

URL: 

Published: 2012-07-19  

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi