2010 Fiscal Year Annual Research Report
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21750018
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| Research Institution | National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
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Principal Investigator |
荒井 礼子 独立行政法人産業技術総合研究所, ナノシステム研究部門, 産総研特別研究員 (50431755)
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| Keywords | 理論化学 / 物性基礎論 / 物性理論 / 放射線・X線 / 光電子分光 |
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| Research Abstract |
輻射遮蔽は高次の電子-光子相互作用で、内殻励起領域においては多くの場合、補正的に寄与すると考えられるが、MARPE(原子間共鳴光電子放出)は輻射遮蔽が直接的に引き起こす現象であることが分かっている。MARPEスペクトルの強度は(1)局所構造と(2)X線吸収に関わる因子に分けられ、本研究課題では(2)の部分について検討する。
(2)はX線異常散乱因子と関係づけられるので、データベースとして提供されている異常散乱因子を取り入れたシミュレーションの開発を昨年度に引き続き行った。また、異常散乱因子をもとに、より正確なシミュレーションを実施するための方法について検討を行った。
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