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2021 Fiscal Year Annual Research Report

Interface charge engineering for manipulation of band alignment at dielectric interfaces and demonstration of its impact on device characteristics

Research Project

Project/Area Number 21H04550
Research InstitutionThe University of Tokyo

Principal Investigator

喜多 浩之  東京大学, 大学院新領域創成科学研究科, 教授 (00343145)

Project Period (FY) 2021-04-05 – 2024-03-31
Keywords電子・電気材料 / 表面・界面物性 / 誘電体 / 電子デバイス・機器 / 界面双極子
Outline of Annual Research Achievements

界面バンドアライメントは,電子デバイスにおいて絶縁膜の機能を決定する重要なパラメーターの1つである。本研究では界面で生じるダイポール効果や,界面への修飾元素の挿入によってバンドアライメントが変化する現象についての理解と解析を行っている。
まず4H-SiC/SiO2界面のバンドアライメントは,界面欠陥構造の終端の目的のために最表面のCをN置換された構造をつくると生じるダイポール効果によって影響される。SiCの面方位を(0001),(000-1),(1-100)と変更して比較したところ,面方位によってダイポールの向きが異なり,それに伴ってMOS構造を流れるリーク電流の大きさが強く影響されることを実証した。また,このバンドアライメントの変化に伴うMOSFETの閾値の負方向のシフトを打ち消す目的で,Al2O3の極薄膜をSiO2上に堆積した構造としたところ,Al2O3/SiO2界面で生じる逆向きのダイポールによって閾値を正方向にシフトさせることに成功した。
次にβ-Ga2O3/SiO2界面について,Ga2O3基板上へのSiO2堆積後の熱処理に伴うバンドアライメントの変化を光電子分光の価電子帯スペクトルから解析した。600℃では変化は小さいが1000℃で価電子帯のオフセットが大幅に低減した。しかしこの変化量はSiO2の形成手法に大きく依存しており,例えば原子層堆積を用いた化学蒸着法では抑制されていたため,今後に原因の解明を進める予定である。
さらに,ペロブスカイト酸化物薄膜のエピタキシャル界面に,成長軸方向に正負の電荷の偏りを持つ層が交互に積層する分極材料であるLaAlO3を数nmだけ挿入する構造が示すダイポール効果について,積層順序を一様に揃える成長条件を見出し,ダイポール効果の効果的な発現を実証した。今後は積層順序の面内均一性を定量的に評価し,同系でのダイポール効果の制御を実証する。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

当初想定していた複数の材料系のうち,特にワイドギャップ半導体SiCやGa2O3とゲート絶縁膜SiO2の間に生じるダイポール効果の変調現象,さらにはその電気特性への影響についての研究が順調に進んでいる。さらに酸化物の成膜手法を変え,原子層堆積法を利用した試料の準備が開始できたため,次年度以降の研究へ向けて検討範囲を大きく広げた展開が可能となっている。
さらに,本研究において実施した歪み導入アニール実験によって,ナノメートルオーダーの酸化膜の物性,特に強誘電性の発現に大きな影響を与える現象が新たに発見された。これは本研究から派生して新たな研究を開始するきっかけとなったという意味で,意外な進展であった。

Strategy for Future Research Activity

研究を遂行するうちに,界面ダイポール効果には酸化物薄膜の成膜手法による影響が大きく現れる可能性が示された。そこで当初の研究計画では予定していなかったものの原子層堆積法を用いた高品質SiO2や高品質Al2O3膜に評価対象を広げて成膜手法による界面構造の違いと得られるダイポール効果の相関についての解析を行う計画としている。このような評価を加えることで本研究を推進できると考えられる。
またエピタキシャル薄膜の積層構造の例であるペロブスカイト酸化物系の試料について面内に小さな領域ごとのダイポール効果の不均一性が示唆されたため,これを均一化するための試料形成法を考案している。この効果を実証するとともにエピタキシャル薄膜中のダイポール効果についての議論を進める予定である。

  • Research Products

    (23 results)

All 2022 2021 Other

All Journal Article (6 results) (of which Int'l Joint Research: 1 results,  Peer Reviewed: 6 results) Presentation (16 results) (of which Int'l Joint Research: 11 results,  Invited: 2 results) Remarks (1 results)

  • [Journal Article] Characterization of deep traps in the near-interface oxide of widegap metal?oxide?semiconductor interfaces revealed by light irradiation and temperature change2022

    • Author(s)
      Rimpei Hasegawa and Koji Kita
    • Journal Title

      Japanese Journal of Applied Physics

      Volume: 61 Pages: SH1006-1~4

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ac6564

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Impacts of Al2O3/SiO2 Interface Dipole Layer Formation on the Electrical Characteristics of 4H-SiC MOSFET2022

    • Author(s)
      Tae-Hyeon Kil, Munetaka Noguchi, Hiroshi Watanabe, and Koji Kita
    • Journal Title

      IEEE Electron Device Letters

      Volume: 43 Pages: 92 ~ 95

    • DOI

      10.1109/LED.2021.3125945

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Impacts of band alignment change after interface nitridation on the leakage current of SiO2/4H-SiC (0001) and (1-100) MOS capacitors2021

    • Author(s)
      Tae-Hyeon Kil, Atsushi Tamura, Sumera Shimizu, and Koji Kita
    • Journal Title

      Applied Physics Express

      Volume: 14 Pages: 081005-1~4

    • DOI

      10.35848/1882-0786/ac16b9

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Opportunity for band alignment manipulation of perovskite oxide stacks by interfacial dipole layer formation2021

    • Author(s)
      Atsushi Tamura, Seungwoo Jang, Young-Geun Park, Hanjin Lim, and Koji Kita
    • Journal Title

      Solid-State Electronics

      Volume: 185 Pages: 108128-1~4

    • DOI

      10.1016/j.sse.2021.108128

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
  • [Journal Article] Flat-band voltage shift of 4H-SiC MOS capacitors induced by interface dipole layer formation at the oxide-semiconductor and oxide-oxide interfaces2021

    • Author(s)
      Tae-Hyeon Kil, Munetaka Noguchi, Hiroshi Watanabe and Koji Kita
    • Journal Title

      Solid-State Electronics

      Volume: 183 Pages: 108115-1~4

    • DOI

      10.1016/j.sse.2021.108115

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Evidence of Ferroelectric HfO2 Phase transformation Induced by Electric Field Cycling Observed at a Macroscopic Scale2021

    • Author(s)
      Siri Nittakayasetwat and Koji Kita
    • Journal Title

      Solid-State Electronics

      Volume: 184 Pages: 108086-1~4

    • DOI

      10.1016/j.sse.2021.108086

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] ペロブスカイト酸化物界面におけるダイポール層LaAlO3の原子層積層順序とダイポール方向の相関の水平力顕微鏡による検証2022

    • Author(s)
      田村敦史,喜多浩之
    • Organizer
      第83回応用物理学会秋季学術講演会
  • [Presentation] Kinetic Study of SiC Surface Nitridation in N2 Ambient with Simultaneous Oxidation in Passive and Active Oxidation Modes2022

    • Author(s)
      Tianlin Yang and Koji Kita
    • Organizer
      The 9th International Conference on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-IX)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Study on the Electrical Characteristics and Band Diagrams of Ga2O3 MOS Gate Stacks2022

    • Author(s)
      Koji Kita
    • Organizer
      241st ECS Meeting, in Symposium D01 "Solid State Devices, Materials and Sensors: In Memory of Dolf Landheer"
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Understandings of the kinetic balance between N incorporation and removal affected by SiC surface oxidation for 4H-SiC/SiO2 structure in high-temperature N (+O ) annealing2022

    • Author(s)
      Tianlin Yang,喜多浩之
    • Organizer
      第69回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] SiO2/β-Ga2O3(001)のバンドダイアグラムの成膜後アニールによる変化の検討2022

    • Author(s)
      武田大樹,喜多浩之
    • Organizer
      第69回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] 照射光の波長と測定温度によるC-V特性の違いを利用したSiC MOS界面近傍の深い準位の評価2022

    • Author(s)
      長谷川 凛平,喜多 浩之
    • Organizer
      第70回応用物理学会春季学術講演会
  • [Presentation] SiC表面の酸化と窒化によるMOS界面形成の科学2022

    • Author(s)
      喜多浩之
    • Organizer
      第27回電子デバイス界面テクノロジー研究会ー材料・プロセス・デバイス特性の物理ー
    • Invited
  • [Presentation] Characterization of SiO2/β-Ga2O3(001) MOS Band Diagram with Photoelectron Spectroscopy for the Correct Evaluation of Interface Fixed Charge Density2021

    • Author(s)
      Daiki Takeda and Koji Kita
    • Organizer
      2021 International Workshop on Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology (IWDTF2021)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Manipulation of Interfacial Dipole Effect at Perovskite Oxide Heteroepitaxial Interface by Stacking Sequence of Monatomic Layers in LaAlO32021

    • Author(s)
      Atsushi Tamura, Cheol Hyun An, Hanjin Lim, and Koji Kita
    • Organizer
      2021 International Workshop on Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology (IWDTF2021)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Unexpected Fixed Charge Generation by an Additional Annealing after Interface Nitridation Processes at SiO2/4H-SiC (0001) MOS Interfaces2021

    • Author(s)
      Tae-Hyeon Kil and Koji Kita
    • Organizer
      2021 International Workshop on Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology (IWDTF2021)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Characterization of Deep Traps in Near-Interface Oxide of Widegap MOS Interfaces Revealed by Light Irradiation and Temperature Change2021

    • Author(s)
      Rimpei Hasegawa and Koji Kita
    • Organizer
      2021 International Workshop on Dielectric Thin Films for Future Electron Devices: Science and Technology (IWDTF2021)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Study on Impact of MOS Interface Passivation Processes on Band Alignment and Flat-Band Voltage of 4H-SiC Gate Stacks2021

    • Author(s)
      Koji Kita
    • Organizer
      240th ECS Meeting, in Symposium G02 "Semiconductor Process Integration"
    • Int'l Joint Research / Invited
  • [Presentation] Positive threshold voltage shift of 4H-SiC MOSFET induced by Al2O3 /SiO2 interface dipole layer formation2021

    • Author(s)
      Tae-Hyeon Kil, Munetaka Noguchi, Hiroshi Watanabe and Koji Kita
    • Organizer
      2021 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2021)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Considerations on the kinetic correlation between SiC nitridation and etching at the 4H-SiC(0001)/SiO2 interface in N2 and N2 /H2 ambient2021

    • Author(s)
      Tianlin Yang and Koji Kita
    • Organizer
      2021 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2021)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Flat-band voltage shift of 4H-SiC MOS capacitors induced by interface dipole layer formation at the oxide-semiconductor and oxide-oxide interfaces2021

    • Author(s)
      Tae-Hyeon Kil, Munetaka Noguchi, Hiroshi Watanabe and Koji Kita
    • Organizer
      22th Conference on Insulating Films on Semiconductors (INFOS2021)
    • Int'l Joint Research
  • [Presentation] Opportunity for band alignment manipulation of perovskite oxide stacks by interfacial dipole layer formation2021

    • Author(s)
      Atsushi Tamura, Seungwoo Jang, Young-Geun Park, Hanjin Lim, and Koji Kita
    • Organizer
      22th Conference on Insulating Films on Semiconductors (INFOS2021)
    • Int'l Joint Research
  • [Remarks] 東京大学大学院新領域創成科学研究科 喜多研究室

    • URL

      http://www.scio.t.u-tokyo.ac.jp/publication.html

URL: 

Published: 2023-12-25  

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