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2022 Fiscal Year Research-status Report

測定精度の向上のための等質適応型テストの提案

Research Project

Project/Area Number 21K12170
Research InstitutionThe National Center for University Entrance Examinations

Principal Investigator

宮澤 芳光  独立行政法人大学入試センター, 研究開発部, 助教 (70726166)

Project Period (FY) 2021-04-01 – 2024-03-31
Keywords適応型テスト / 数理計画法 / eテスティング / Computer Based Testing / 項目反応理論
Outline of Annual Research Achievements

適応型テストとは、受検者の能力値を逐次的に推定し、その能力値に応じて測定精度が最も高い項目を出題するコンピュータ・テスティングの出題形式である。その利点としては、測定精度を減少させずにテストの長さや受験時間を短縮できる。しかし、特定の項目群が頻繁に暴露される傾向があるため、項目内容が未受検者に共有され、テストの信頼性の低下要因となりうる。これらの問題を解決するため、先行研究では項目暴露を制御する適応型テストが提案されてきた。しかし、暴露数の減少と測定精度の向上にはトレードオフの関係が存在する。本研究では、このトレードオフを制御するため、2段階等質適応型テストを提案する。本年度は、従来の手法よりもさらに暴露数を減少させるアルゴリズムを定式化した。具体的には、まず、事前にアイテムバンクを分割して測定精度が等質な項目集合を複数構成する。受検時には、テストの前半に等質な項目集合から項目を選択し、受検者の能力推定値が収束し始めるテストの後半に受検者の能力値に応じた項目集合を構成して、その項目集合から項目選択する。項目集合の項目難易度分布は疎ではあるが、第1段階目では、過学習を避け、より高速に推定値が真の能力値近傍まで到達することが期待できる。第2段階目では、数理計画法を用いて受検者の能力値に応じて所望の測定精度の項目集合を構成し、その項目集合から項目を選択する。これにより、測定精度を制御しながら、アイテムバンクの項目を広く一様に活用することができる。シミュレーション実験と実データを用いた実験により2段階等質適応型の有効性を示した。これまでの成果は、日本テスト学会大会発表賞を受賞し、電子情報通信学会論文誌に掲載されている。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

本年度は、従来の手法を改善し、測定精度を制御しつつ暴露数を減少させることを目的とした2段階等質適応型テストの項目選択アルゴリズムを定式化した。 さらに、シミュレーションのデータと実データを用いて有効性を検証した。

Strategy for Future Research Activity

提案した手法では、グリットサーチを用いてパラメータを事前に設定する必要があり、パラメーターチューニングに時間がかかっていた。今後、パラメータを効率的に探索する手法を検討する。

Causes of Carryover

予定していた国際英文誌への投稿を次年度としたため。次年度には英文校正費として計上する。

  • Research Products

    (3 results)

All 2023 2022

All Journal Article (1 results) (of which Peer Reviewed: 1 results) Presentation (2 results)

  • [Journal Article] 高精度能力推定を保証する2段階等質適応型テスト2023

    • Author(s)
      宮澤 芳光, 植野 真臣
    • Journal Title

      電子情報通信学会論文誌D 情報・システム

      Volume: J106-D Pages: 34~46

    • DOI

      10.14923/transinfj.2021JDP7052

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 等質テストの最大クリーク並列探索を用いた2段階等質適応型テスト2022

    • Author(s)
      宮澤芳光, 渕本壱真, 植野真臣
    • Organizer
      日本行動計量学会
  • [Presentation] 等質テスト構成の並列化技術を用いた2段階等質適応型テスト2022

    • Author(s)
      宮澤 芳光, 渕本 壱真, 植野真臣
    • Organizer
      日本テスト学会

URL: 

Published: 2023-12-25  

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