Research Project
Grant-in-Aid for Challenging Research (Pioneering)
最先端のナノ微細加工で創成される3次元微細構造の機能性評価を目的とし,光子散乱量子効果という全く新しい原理に基づいた光計測法を確立する研究である。独自の量子的3Dゴーストイメージングに,2光子量子干渉による変位計測を組み合わせて,既存の方法では達成できないマクロ・レベルからミクロ・レベルに至るダイナミックレンジが広い光子散乱表面計測技術が確立される可能性がある。
最先端のナノ微細加工で創成される3次元微細構造(ナノ表面トポグラフィ)とそれにより発現する機能を明らかにするためには,マクロ・レベルからミクロ・レベルに至るダイナミックレンジの広い計測方法が求められている。この計測技術が確立されれば,ナノ表面トポグラフィと機能の関係が明らかとなり,次世代半導体デバイスの設計に大きく貢献できる。