2013 Fiscal Year Final Research Report
Mass spectrometry for high-mass molecules using superconducting nano-strip line detectors
Project/Area Number |
22246056
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Research Category |
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
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Allocation Type | Single-year Grants |
Section | 一般 |
Research Field |
Measurement engineering
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Research Institution | National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
Principal Investigator |
OHKUBO Masataka 独立行政法人産業技術総合研究所, つくばイノベーションアリーナ推進本部, 上席イノベーションコーディネータ (60356623)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
YOSHIKAWA Nobuyuki 横浜国立大学, 大学院工学研究院, 教授 (70202398)
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Co-Investigator(Renkei-kenkyūsha) |
UKIBE Masahiro 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (00344226)
SHIKI Shigetomo 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (50342796)
ZEN Nobuyuki 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 研究員 (20455439)
KAORI Kamoshida 産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 招聘研究員 (50415775)
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Project Period (FY) |
2010-04-01 – 2014-03-31
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Keywords | 超伝導検出器 / 質量分析 / 単一磁束量子 / 先端計測 / ペプチド / タンパク質 / 生体分子 / 飛行時間 |
Research Abstract |
Ion detection at 1 ns pulse width for single ions and 1 cm sensitive area has been realized with superconducting nano-strip ion detector (SSID). Superconducting tunnel junction detectors operate at 0.3 K, whereas SSID operate at 4 K that can be reached by using a pulse tube cooler without liquid helium supply. In order to measure time-of-flight of ions, we developed superconducting time-to-digital converter (TDC) using single flux quantum (SFQ). With a combination of SSID and SFQ-TDC, analog pulse signal can be converted to digital signal that is transmitted to room temperature.
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Research Products
(23 results)
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[Presentation] Nanostructure cryodetector for mass spectrometry2012
Author(s)
M. Ohkubo, K. Suzuki, N. Zen, S. Shiki, M. Ukibe, M. Koike, R. Cristiano, M. Ejrnaes, A. Casaburi, N. Yoshikawa, Y. Takahashi
Organizer
60^<th> ASMS Conference on Mass Spectrometry and Allied Topics
Place of Presentation
Vancouver, Canada
Year and Date
20120000
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[Book] 現代質量分析学2013
Author(s)
大久保雅隆(高山 光男, 早川 滋雄, 瀧浪 欣彦, 和田芳直 編)
Publisher
化学同人、(分担執筆 : 7章 質量分析用検出器)
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[Patent(Industrial Property Rights)] クライオスタット2014
Inventor(s)
大久保雅隆、桐原英治
Industrial Property Rights Holder
産業技術総合研究所、(有)バックフィールド
Industrial Property Rights Type
特許番号未定特開2011-060864
Patent Publication Number
特開2011-060864
Acquisition Date
2014-05-30
Overseas
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