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2012 Fiscal Year Annual Research Report

結晶表面の原子ステップの位置・構造制御と原子・分子修飾

Research Project

Project/Area Number 22360015
Research InstitutionUniversity of Tsukuba

Principal Investigator

山部 紀久夫  筑波大学, 数理物質系, 教授 (10272171)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 蓮沼 隆  筑波大学, 数理物質系, 講師 (90372341)
Project Period (FY) 2010-04-01 – 2015-03-31
Keywordsシリコン / 単結晶 / 原子テラス / 原子ステップ / 成長核 / 自然酸化 / 水分 / バックボンド
Research Abstract

Si表面を熱酸化して得られる極薄ゲート絶縁膜は、Si集積回路のゲート絶縁膜としてだけでなく、極めて制御された絶縁膜として、絶縁特性の劣化機構や諸原因を学術的に明らかにするのに極めて有効であり、精度の高く原子論的な議論をするための貴重な実験データを得ることができる。特に、原子的に平坦なSiテラス表面は、熱酸化の二次元的な不均一性の発生原因を明らかにするのに有効である。当該年度では、原子的平坦なSi表面での熱酸化の成長を、同一領域の変化の追跡結果を論文化した。SiO2表面の突起は、極初期に発生する。また、熱酸化直前には、自然酸化膜が形成されている。これまで、原子層毎酸化とされてきたが、数%オーダーでは多原子層酸化が進行していることもわかっている。そこで、当該年度では、原子的平坦なSiテラス表面の形成後、大気中暴露による自然酸化において、いかように原子論的な形態が変化していくかをAFM(Atomic Force Microscopy)を用いて、経時的に観察した。
結果、自然酸化は、テラス上にランダムに発生する核から島状酸化と、ステップの上部からのステップフロー酸化が同時に進行していくことが明らかになった。また、酸化時の高さの詳細評価から、酸化はバックボンドから始まり、原子層毎酸化によるSiO2膜層の二次元的広がりがしんこうしていくようすが観察された。また、雰囲気中の水分の増加は、赤外吸収による初期Si表面を覆うSiH結合の観察から、SiH結合の被覆率の減少速度、つまり、酸化の進行速度を加速する効果があることを実験的に明らかにされた。AFM観察では、水分増加はラフネスの増加を伴わないことから、水分は酸化フロント、つまり、二次元的に見て、SiO2島の周辺での酸化の進行を加速していることが明らかとなった。

Current Status of Research Progress
Current Status of Research Progress

2: Research has progressed on the whole more than it was originally planned.

Reason

Siの原子的平坦なテラス表面の熱酸化における二次元的ラフネス分布を、AFMで同一領域の経時変化の観察など、実験的工夫を種々取り入れることにより、原子論的に熱酸化の挙動の解明を進める点では、かなり須寸メルコとができた。本年度においても、熱酸化に先行する自然酸化時の形態変化を追跡することで、自然酸化の進行機構の理解を高めることができた。一方、Si(111)面以外の主要面については、構造の安定化が困難であることが明らかになり、実験を進めることができない。しかし、熱酸化の基本的理解は進められている。また、高分子の吸着については、SiO2表面への直接的な吸着が困難なことも少しづつ分かってきており、新たな方向も見えつつあり、今後、2年間の検討にぜひ盛り込みたいと考えている。

Strategy for Future Research Activity

自然酸化の水分の影響の理解を、より進めるとともに、種々の条件下での酸化に展開することにより、酸化の核発生や各種原子の吸着点としての、原子ステップや原子テラスの影響を明らかにしていく。
このような研究は、ナノテクノロジーの基礎理解として必須であると考え、評価方法の提案等を含めて、解析していく。

  • Research Products

    (16 results)

All 2013 2012

All Journal Article (3 results) (of which Peer Reviewed: 3 results) Presentation (13 results)

  • [Journal Article] Microscopic Thickness Uniformity and Time-Dependent Dielectric Breakdown Lifetime Dispersion of Thermally Grown Ultrathin SiO2 Film on Atomically Flat Si Surface2013

    • Author(s)
      Ryu Hasunuma, Yusuke Hayashi, Masahiro Ota, and Kikuo Yamabe
    • Journal Title

      Jpn. J. Appl. Phys.

      Volume: 52 Pages: 031301

    • DOI

      10.7567/JJAP.52.031301

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Nanoindentation Damage near Silicon Surface Embossed by Immersion in Ultralow-Dissolved-OxygenWater2013

    • Author(s)
      Ryu Hasunuma, Shun Kudo, Katsuya Kamata, and Kikuo Yamabe
    • Journal Title

      ECS Journal of Solid State Science and Technology

      Volume: 2 Pages: 225-229

    • DOI

      10.1149/2.014305jss

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Two-dimensional Roughness Growth at Surface and Interface of SiO2 Films during Thermal Oxidation of 4H-SiC(0001)2012

    • Author(s)
      R.Hasunuma, T.Fukasawa,R.Kosugi, Y.Ishida, and K.Yamabe
    • Journal Title

      Materials Science Forum

      Volume: 717~720 Pages: 785~788

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/MSF.717-720.785

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 酸化アニールによる多結晶HfO2 の同一箇所2 次元リーク電流分布変化2013

    • Author(s)
      下田 恭平1、 蓮沼 隆1、 山部 紀久夫1, 右田 真
    • Organizer
      2013年春季 第60回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学
    • Year and Date
      20130327-20130330
  • [Presentation] Si(111)表面の自然酸化の原子論的形態に関する考察2013

    • Author(s)
      土井修平、蓮沼隆、山部紀久夫
    • Organizer
      2013年春季 第60回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学
    • Year and Date
      20130327-20130330
  • [Presentation] SiO2 膜中における捕獲電荷のデトラップ評価2013

    • Author(s)
      滝ヶ浦 佑介,蓮沼 隆, 山部 紀久夫
    • Organizer
      2013年春季 第60回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学
    • Year and Date
      20130327-20130330
  • [Presentation] 酸化・還元アニールによる多結晶HfO2 膜の電気的特性変化2013

    • Author(s)
      門馬 久典,蓮沼 隆,山部 紀久夫
    • Organizer
      2013年春季 第60回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      神奈川工科大学
    • Year and Date
      20130327-20130330
  • [Presentation] HfO2膜の結晶化による電気的特性変化2013

    • Author(s)
      Hisanori Momma, Yuta Miyamoto, Ryu Hasunuma, and Kikuo Yamabe
    • Organizer
      第18回「ゲートスタック研究会-材料・プロセス・評価の物理-」
    • Place of Presentation
      ニューウェルシティー湯河原(熱海)
    • Year and Date
      20130125-20130126
  • [Presentation] Si(111)表面の自然酸化形態2013

    • Author(s)
      土井 修平 蓮沼 隆 山部 紀久夫
    • Organizer
      第18回「ゲートスタック研究会-材料・プロセス・評価の物理-」
    • Place of Presentation
      ニューウェルシティー湯河原(熱海)
    • Year and Date
      20130125-20130126
  • [Presentation] 熱酸化における大気中へのシリコン放出2013

    • Author(s)
      T.Nagasawa, R.Hasunuma, K.Yamabe
    • Organizer
      第18回「ゲートスタック研究会-材料・プロセス・評価の物理-」
    • Place of Presentation
      ニューウェルシティー湯河原(熱海)
    • Year and Date
      20130125-20130126
  • [Presentation] NF3 添加酸化によるSiC 基板起因容量-電圧特性劣化の低減2012

    • Author(s)
      蓮沼 隆, 深澤辰哉, 山部 紀久夫
    • Organizer
      SiC及び関連ワイドギャップ半導体研究会
    • Place of Presentation
      大阪市中央公会堂
    • Year and Date
      20121119-20121120
  • [Presentation] 陽極酸化法を用いた電界集中を誘起する構造制御2012

    • Author(s)
      宮本 雄太,土井 修平,蓮沼 隆,山部 紀久夫
    • Organizer
      2012年秋季 第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      松山大学
    • Year and Date
      20120911-20120914
  • [Presentation] 高温下でのSiO2膜の劣化評価2012

    • Author(s)
      滝ヶ浦 佑介,蓮沼 隆, 山部 紀久夫
    • Organizer
      2012年秋季 第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      松山大学
    • Year and Date
      20120911-20120914
  • [Presentation] HfO2膜の結晶化による電気的特性変化2012

    • Author(s)
      門馬久典、宮本雄太、蓮沼隆、山部紀久夫
    • Organizer
      2012年秋季 第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      松山大学
    • Year and Date
      20120911-20120914
  • [Presentation] Si(111) 表面の自然酸化形態に関する考察2012

    • Author(s)
      土井修平、蓮沼隆、山部紀久夫
    • Organizer
      2012年秋季 第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      松山大学
    • Year and Date
      20120911-20120914
  • [Presentation] 熱酸化における大気中へのシリコン放出2012

    • Author(s)
      長澤 達彦、蓮沼 隆、山部 紀久夫
    • Organizer
      2012年秋季 第73回応用物理学会学術講演会
    • Place of Presentation
      松山大学
    • Year and Date
      20120911-20120914

URL: 

Published: 2014-07-24  

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