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2011 Fiscal Year Annual Research Report

ウェファボンディングを用いた遠赤外線BIB型検出器の開発

Research Project

Project/Area Number 22360025
Research InstitutionThe University of Tokyo

Principal Investigator

土井 靖生  東京大学, 大学院・総合文化研究科, 助教 (70292844)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) 日暮 栄治  東京大学, 先端科学技術研究センター, 准教授 (60372405)
Keywordsテラヘルツ / 遠赤外線 / ウエファボンディング / BIB検出器
Research Abstract

本年度は、BIB貼り合わせ界面のアモルファス層を低減させたサンプルを製作し、その詳細な特性評価を行った。
昨年度の研究より、表面活性化法を用いて製作したBIBサンプルの貼り合わせ界面には厚さ8m程度のアモルファス層が存在すること、一方でこのサンプルから作成した検出素子感度は0.1[A/W]と低い値に留まるものの、500。3時間のアニーリング処理により感度は10[A/W]程度と大きく改善することを確認した。
この為貼り合わせ時のアモルファス層低減を目指し、貼り合わせ時に界面活性化の為照射するアルゴンビームの加速電圧を1.5kVから0.75kVに半減させたサンプルの作成を行い、良好な試作結果を得た。
本年度は作成したサンプルの界面について、TEM観察による詳細な検証を行った。その結果、加速電圧の低減によりアモルファス層が実際に8nm→3nmと半分以下に低減していること、またアニール処理を施した際にはそのアモルファス層がほぼ消滅している事を確認した。
これらの試作条件に基づき、実際に光応答特性を測定する為の検出器サンプルを作成した。検出器は主に低背景光環境下での検出感度特性・時間応答特性を測定する為の単独素子、及び素子間クロストークを測定する為の2次元アレー素子の製作を行い、更に2次元アレー素子については読み出し回路とのバンピング処理を完了した。
これら製作したサンプル素子について、極低温環境下に於ける詳細な光応答特性評価を行った。結果、良好な感度特性を確認し、且つ時間応答速度についても時定数≪1secと十分な速度を達成していることを確認した。応答感度については波長感度特性と合わせて評価する必要がある為、今後波長感度特性の評価、更には時間応答特性についても極低温光源の応答速度の改善により、より正確な評価を行う予定である。

  • Research Products

    (8 results)

All 2012 2011

All Journal Article (4 results) Presentation (4 results)

  • [Journal Article] Mechanical and Electrical Characteristics of Direct Bonded Ge/Ge interface2012

    • Author(s)
      Yuta Sasaki, Wang Chenxi, Eiji Higurashi, Tadatomo Suga, Yasuo Doi, Iwao Hosako
    • Journal Title

      Proceedings of the Joint Conference of 12th International Conference on Electronics Packaging, 1st IMAPS ALL Asia Conference (ICEP-IAAC2012), April 17-20, 2012, Tbkyo, Japan

      Volume: TD2-1 Pages: 254-258

  • [Journal Article] 低温接合技術と高機能センサヘの広用2012

    • Author(s)
      日暮栄治、須賀唯知
    • Journal Title

      スマートプロセス学会誌

      Volume: 第1巻、第3号 Pages: 106-113

  • [Journal Article] 遠赤外線検出器応用をめざしたGeウェハの常温直接接合2011

    • Author(s)
      日暮栄治、倉山竜二、王英輝、須賀唯知、澤山慶博、土井靖生、寳迫巌
    • Journal Title

      第28回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム(電気学会センサ・マイクロマシン部門)

      Pages: 328-333

    • URL

      http://jglobal.jst.go.jp/public/20090422/20110224161496269

  • [Journal Article] Geウェハ常温接合界面の機械的・電気的特性評価2011

    • Author(s)
      佐々木優太、工晨曦、日暮栄治、須賀唯知、土井靖生、寶迫巖
    • Journal Title

      2011年度精密工学秋季大会学術講演会講演論文集

      Pages: 39

  • [Presentation] Terahertz detectors and its targeted applications2012

    • Author(s)
      Iwao Hosako
    • Organizer
      the GDR-I Semiconductors sources and detectors of THz radiation'. Workshop
    • Place of Presentation
      Hotel Montana, Tignes, France
    • Year and Date
      20120424-20120427
  • [Presentation] Mechanical and electrical Characteristics of Direct Bonded Ge/Ge interface2012

    • Author(s)
      Yuta Sasaki Wang Chenxi, Eiji Higurashi, Tadatomo Suga, Yasuo Doi, Iwao Hosako
    • Organizer
      Joint Conference of 12th International Conference on Electronics Packaging and 1st IMAPS ALL Asia Conference
    • Place of Presentation
      Tokyo, Japan
    • Year and Date
      20120417-20120420
  • [Presentation] 遠赤外線検川器応用をめざしたGeウェハの常温直接接合2011

    • Author(s)
      日暮栄治、倉山竜二、王英輝、須賀唯知、澤山慶博、土井靖生、寳迫巌
    • Organizer
      第28回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム(電気学会センサ・マイクロマシン部門)
    • Place of Presentation
      東京・タワーホール船堀
    • Year and Date
      20110926-20110927
  • [Presentation] Geウェハ常温接合界面の機械的・電気的特性評価2011

    • Author(s)
      佐々木優太、王晨曦、日暮栄治、須賀唯知、土井靖生、寶迫巌
    • Organizer
      2011年度精密工学秋季大会
    • Place of Presentation
      金沢大学(石川県)
    • Year and Date
      20110920-20110922

URL: 

Published: 2014-07-16  

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