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2012 Fiscal Year Final Research Report

Study of Optical Irradiation on Nobel Materials and Quantum DotStructures for Next Generation Optical Devices

Research Project

  • PDF
Project/Area Number 22560012
Research Category

Grant-in-Aid for Scientific Research (C)

Allocation TypeSingle-year Grants
Section一般
Research Field Applied materials science/Crystal engineering
Research InstitutionKanazawa Institute of Technology

Principal Investigator

UEDA Osamu  金沢工業大学, 工学研究科, 教授 (50418076)

Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) YAMAGUCHI Atsushi  金沢工業大学, 工学部, 教授 (60449428)
SAKUMA Yoshiki  独立行政法人物質・材料研究機構, 先端フォトニクス材料ユニット, グループリーダー (60354346)
Co-Investigator(Renkei-kenkyūsha) GONOKAMI Makoto  東京大学, 大学院・工学研究科, 教授 (70161809)
YOSHIMOTO Masahiro  京都工芸繊維大学, 工芸科学研究科, 教授 (20210776)
YAGUCHI Hiroyuki  埼玉大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (50239737)
IKENAGA Noriaki  金沢工業大学, ものづくり研究所, 講師 (30512371)
Project Period (FY) 2010 – 2012
Keywords発光デバイス / 量子ドット / 信頼性 / 劣化 / 結晶成長 / 格子欠陥 / 転位 / 電子顕微鏡
Research Abstract

In order to clarify the mechanism of gradual degradation of optical devices, degree of degradation under optical irradiation was evaluated for materials for next generation optical devices and quantum dot structure. It was clarified that striking degradation phenomenon is observed in GaInNAs. However, no definite degradation phenomena have been confirmed for InGaN and AlInGaAs. The InAs quantum dot structure did not show any degradation under comparatively strong optical irradiation. It is required to carry out the similar experiment for practical device structures.

  • Research Products

    (22 results)

All 2013 2012 2011 2010 Other

All Journal Article (8 results) (of which Peer Reviewed: 7 results) Presentation (8 results) Book (4 results) Remarks (2 results)

  • [Journal Article] 半導体発光デバイスの劣化解 析と劣 化抑 制(招待論文)2013

    • Author(s)
      上田 修
    • Journal Title

      IEICEFundamentals Review

      Volume: 4 Pages: 294-304

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] 信頼性と人材育成-発光デバイスの例-(招待論文)2013

    • Author(s)
      上田 修
    • Journal Title

      日本信頼性学会誌

      Volume: 35 Pages: 89-97

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Effects of Sb/As Interdiffusion on Optical Anisotropy of GaSb Quantum Dots in GaAs Grown by Droplet Epitaxy2012

    • Author(s)
      T. Kawazu, T. Noda, T. Mano, Y. Sakuma, and H. Sakaki
    • Journal Title

      Jpn. J. Appl. Phys

      Volume: 51 Pages: 115201-1-115201-4

  • [Journal Article] TEM observation of MBE-grown GaAs1-xBix crystals2011

    • Author(s)
      Osamu Ueda, Yoriko Tominaga, NoriakiIkenaga, Masahiro Yoshimoto, and Kunishige Oe
    • Journal Title

      Extended Abstract of 30th Electronic Materials Symposium

      Volume: EMS-30 Pages: 155-156

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] Structural evaluationof GaAs1-xBix mixed crystals by TEM, Extended Abstract of International2011

    • Author(s)
      Osamu Ueda, Yoriko Tominaga, Noriaki Ikenaga, Masahiro Yoshimoto, and Kunishige Oe
    • Journal Title

      Conference on InP and Related Materials (IPRM2011)

      Volume: IPRM2011 Pages: 248-251

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] A simple theoretical approach to analyze polarization properties insemipolar and nonpolar InGaN quantum wells2011

    • Author(s)
      Atsushi A. Yamaguchi and K. Kojima
    • Journal Title

      Appl. Phys. Lett

      Volume: 98 Pages: 101905-1-101905-3

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] A review of materials issues and degradation of III-Vcompound semiconductors and optical devices2010

    • Author(s)
      Osamu Ueda
    • Journal Title

      ECS Trans

      Volume: 33 Pages: 73-92

    • Peer Reviewed
  • [Journal Article] On degradation studies of III-V compound semiconductor optical devices over three decades: focusingon gradual degradation2010

    • Author(s)
      Osamu Ueda
    • Journal Title

      Jpn. J. Appl. Phys

      Volume: 49 Pages: 090001-090008

    • Peer Reviewed
  • [Presentation] 半導体発光デバイスの再結合 欠陥反応による劣化2012

    • Author(s)
      上田 修
    • Organizer
      日本物理学会第22回格子欠陥フォーラム
    • Place of Presentation
      神奈川県三浦市、マホロバ・マインズ三浦
    • Year and Date
      2012-09-21
  • [Presentation] 光デバイスの信頼性・劣化研 究の40 年と今後の課題2012

    • Author(s)
      上田 修
    • Organizer
      第73回応用物理学会学術研究会
    • Place of Presentation
      松山市、愛媛大学
    • Year and Date
      2012-09-13
  • [Presentation] 発光デバイスの劣化研究の現状と課題2012

    • Author(s)
      上田 修
    • Organizer
      2011年度電子情 報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会 CI-1 光能動デバイス・装置を支える信頼性・安全性技術
    • Place of Presentation
      札幌市、北海道大学
    • Year and Date
      2012-09-13
  • [Presentation] 半導体発光デバイスの信頼性研究~総論と 1990 年代の1990年代のト ピックス~2012

    • Author(s)
      上田 修
    • Organizer
      電子情報通信学会信頼性研究会
    • Place of Presentation
      仙台市、東北大学電気通信研究所
    • Year and Date
      2012-08-23
  • [Presentation] 半導体とひずみ2012

    • Author(s)
      上田 修
    • Organizer
      第59回応用物理学関係連合講演会シンポジウム「ナノひずみエレクトロニクス~半導体ナノひずみの新規デバイス応 用と高分解能測定~」
    • Place of Presentation
      東京、早稲田大学
    • Year and Date
      2012-03-15
  • [Presentation] TEM evaluation of MBE-grown GaAs1-xBix crystals2011

    • Author(s)
      Osamu Ueda, Yoriko Tominaga, Noriaki Ikenaga, Masahiro Yoshimoto, and Kunishige Oe
    • Organizer
      30th Electronic Materials Symposium (EMS-30)
    • Place of Presentation
      滋賀県守山市、ラフォーレ琵琶湖
    • Year and Date
      2011-06-30
  • [Presentation] Structural evaluation of GaAs1-xBix mixed crystals by TEM2011

    • Author(s)
      Osamu Ueda, Yoriko Tominaga, NoriakiIkenaga, Masahiro Yoshimoto, andKunishige Oe
    • Organizer
      International Conference on InP and Related Materials (IPRM2011)
    • Place of Presentation
      Berlin、Germany
    • Year and Date
      2011-05-24
  • [Presentation] 半導体発光デバイスに関する 信頼性や高信頼化の課題や今後の展望2010

    • Author(s)
      上田 修
    • Organizer
      電子情報通信学会第19回ポリマー光回路(POC)研究会
    • Place of Presentation
      愛知県豊田中央研究所
    • Year and Date
      2010-12-06
  • [Book] 2013化合物半導体技術大全第2編第9章第2節、信頼性試験・劣化解析2013

    • Author(s)
      上田 修
    • Total Pages
      144-154
    • Publisher
      株式会社電子ジャーナル
  • [Book] Springer, Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Opticaland Electron Devices Chapter 22012

    • Author(s)
      Osamu Ueda and Robert W. Herrick
    • Total Pages
      19-53
    • Publisher
      Failure Analysis of Semiconductor Optical Devices
  • [Book] Springer, Materials andReliability Handbook for Semi- conductor Optical and Electron Devices Chapter 42012

    • Author(s)
      Osamu Ueda
    • Total Pages
      87-122
    • Publisher
      Reliability and Degradation of III-V Optical Devices Focusing on Gradual Degradation
  • [Book] 機器分析のための試料のサンプリング・前処理ノウハウ集 第6章第5節TEM 観察 での試料前処理2011

    • Author(s)
      上田 修
    • Total Pages
      254-277
    • Publisher
      株式会社技術情報協会
  • [Remarks] 金沢工業大学ものづくり研究所における研究代表者の研究内容を紹介している

    • URL

      http://wwwr.kanazawa-it.ac.jp/kit_orc/researcher/1186582_1431.html

  • [Remarks] 研究代表者の研究成果データベースのURL

    • URL

      http://kitnet10.kanazawa-it.ac.jp/researcherdb/researcher/RAFAJD.html

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Published: 2014-08-29   Modified: 2015-01-06  

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